- •Содержание
- •Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа
- •Теоретические положения
- •Законы отражения света
- •Законы преломления света
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Интерференция в тонких пленках
- •Полосы равного наклона
- •Полосы равной толщины
- •Кольца Ньютона
- •Описание оборудования
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •1. Закон Брюстера, или поляризация при отражении от поверхности диэлектрика
- •2. Поляризация при двойном лучепреломлении
- •Поляроиды
- •Закон Малюса
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение концентрации раствора сахара поляриметром
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение постоянной стефана−больцмана при помощи оптического пирометра
- •Теоретические положения
- •Характеристики теплового излучения
- •Законы теплового излучения
- •Закон Стефана−Больцмана
- •Содержание работы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Фотоэлементы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Снятие вах фотоэлемента
- •Определение интегральной чувствительности фотоэлемента
- •Проверка 1-го закона фотоэффекта
- •Контрольные вопросы
- •3 Постулат
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний линз методом бесселя
- •Теоретические положения
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний и положений главных плоскостей двухлинзовой оптической системы
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Моделирование оптических приборов и определение их увеличения
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение расстояния между щелями в опыте юнга
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Исследование закона малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку
- •Теоретические положения
- •Эллиптическая поляризация света
- •Закон малюса
- •Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Исследование закона Малюса
- •Обработка результатов
- •Работа с фазовой пластинкой
- •Обработка результатов
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Примечание
- •Рекомендуемые задания
- •Приложение
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Характеристики фильтров оптического излучения
- •Коэффициенты поглощения для разных категорий оптического стекла
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Дифракция Фраунгофера на круглом отверстии
- •Примеры дифракционных картин Пятно Пуассона
- •Дифракция Френеля на круглом отверстии
- •Настройка армс
- •Порядок измерений
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
Описание оборудования и порядок работы
В
работе исследуется вакуумный фотоэлемент
с сурьмяно–цезиевым катодом. Красная
граница фотоэффекта
мкм.
Площадь фотокатода 2·10-3м2.
Лабораторная установка позволяет:
Исследовать вольтамперную характеристику (ВАХ) фотоэлемента.
Определить его интегральную чувствительность.
Проверить первый закон фотоэффекта.
Электрическая схема установки показана на рис.5. Потенциометром P плавно изменяют напряжение, подаваемое на анод A. Величина напряжения измеряется вольтметром, сила фототока микроамперметром. Катод К освещается лампой накаливания Л, которая может перемещаться вдоль линейки АB. Интенсивность света, падающего на катод, регулируется расстоянием r между лампой и фотоэлементом Ф.
Рис. 5.
Снятие вах фотоэлемента
1. Установите источник света Л на заданном расстоянии r от фотоэлемента.
2. Изменяя потенциометром анодное напряжение Uа от 0 до 150 В через 10 В, снимите зависимость силы фототока от напряжения. Данные занесите в таблицу 1
Постройте график зависимости силы фототока от анодного напряжения.
Таблица 1
Uа, В |
10 |
20 |
30 |
40 |
50 |
60 |
70 |
80 |
90 |
100 |
110 |
120 |
1130 |
Іа, мкА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Определение интегральной чувствительности фотоэлемента
По графику построенной ВАХ определите силу тока насыщения Ін.
По табл. 2 найдите соответствующий расстоянию световой поток Ф .
По формуле γ = Ін/Ф (мкА/лм) определите интегральную чувствительность исследуемого фотоэлемента .
Таблица 2
Расстояние r от лампы до фотоэлемента, см |
30 |
31 |
32 |
33 |
34 |
35 |
36 |
Интенсивность света, Вт/м2 |
450 |
425 |
400 |
375 |
350 |
325 |
300 |
Световой поток, Ф, лм |
0,9 |
0,85 |
0,80 |
0,75 |
0,70 |
0,65 |
0,60 |
Проверка 1-го закона фотоэффекта
1. Установите анодное напряжения, соответствующее току насыщения (U 100 В).
Изменяя расстояние между лампой r и фотоэлементом от 30 до 36 см через 1 см, снимите зависимость силы тока насыщения от интенсивности света. Постройте график этой зависимости и убедитесь, что ток насыщения, а, следовательно, и число вылетающих с поверхности катода за единицу времени электронов пропорционально интенсивности света.
