
- •Глава 1. Отбор и подготовка пробы к анализу
- •1.1. Отбор пробы
- •1.2. Отбор пробы газов
- •1.3. Отбор проб жидкостей
- •1.4. Отбор пробы твердых веществ
- •1.5. Способ отбора
- •1.6. Потери при пробоотборе и хранение пробы
- •1.7. Подготовка пробы к анализу
- •Глава 2. Статистическая обработка результатов
- •2.1. Погрешности химического анализа. Обработка результатов измерений
- •2.2. Систематическая ошибка
- •2.3. Оценка точности и правильности измерений при малом числе определений
- •2.4. Доверительный интервал и доверительная вероятность (надежность)
- •2.5. Аналитический сигнал. Измерение
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ
- •3.1. Абсорбционная спектроскопия
- •3.1.1. Фотометрический анализ
- •3.1.1.1. Выбор длины света и светофильтра в фотометрическом анализе
- •3.1.1.2. Основные приемы фотометрического анализа
- •3.1.1.3. Анализ смеси окрашенных веществ
- •3.1.1.4. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.1.1.5. Нефелометрия и турбидиметрия
- •3.1.2. Атомно-абсорбционная спектроскопия
- •3.1.2.1. Основы метода
- •3.1.2.2. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2. Эмиссионный спектральный анализ
- •3.2.1. Происхождение эмиссионных спектров
- •3.2.2. Источник возбуждения
- •3.2.3. Качественный анализ
- •3.2.4. Количественный анализ
- •3.2.5. Схема проведения аэса
- •3.2.6. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.2.6.1. Принцип работы универсального стилоскопа
- •3.2.6.2. Принцип работы спектрографа
- •3.2.6.3. Принцип работы микрофотометра
- •3.3. Фотометрия пламени
- •3.3.1. Чувствительность анализа
- •3.3.2. Количественное определение элементов
- •3.3.3. Измерение интенсивности излучения
- •3.3.4. Методы определения концентрации растворов в фотометрии пламени
- •3.4. Методы колебательной спектроскопии. Ик-спектроскопия и спектроскопия комбинационного рассеяния
- •3.4.1. Основы методов
- •3.4.2. Спектры ик и комбинационного рассеяния (кр)
- •3.4.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.5. Люминесцентный анализ
- •3.5.1. Классификация и величины, характеризующие люминесцентное излучение
- •3.5.2. Основы метода
- •3.5.3. Аппаратура, используемая в анализе
- •3.6. Рентгеновская спектроскопия
- •3.6.1. Основные методы
- •3.6.1.1. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
- •3.6.1.2. Рентгеновский спектр
- •3.6.2. Рентгено-эмиссионный анализ
- •3.6.2.1. Качественный анализ
- •3.6.2.2. Количественный анализ
- •3.6.2.3. Аппаратура
- •3.6.3. Рентгенофлуоресцентный анализ
- •3.6.3.1. Основные виды рентгенофлуоресцентного анализа
- •3.6.3.2. Аппаратура метода
- •3.6.4. Рентгено-абсорбционный анализ
- •3.6.5.1. Основы метода
- •3.6.5.2. Аппаратура
- •3.7. Радиоспектроскопические методы
- •3.7.1. Основы метода
- •3.7.2. Электронный парамагнитный резонанс
- •3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
- •3.7.3.1. Основы метода
- •3.7.3.2. Аппаратура
- •3.7.4. Ядерный квадрупольный резонанс
- •3.7.5. Другие методы радиоспектроскопии
- •3.8. Ядерная спектроскопия
- •3.8.4. Нейтронная спектроскопия
- •3.9. Лазерная спектроскопия
- •3.10. Электронная спектроскопия
- •3.10.1. Фотоэлектронная спектроскопия
- •3.10.2. Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов
- •3.11. Вакуумная спектроскопия
- •3.12. Ультрафиолетовая спектроскопия
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа
- •4.1. Принцип действия масс-спектрометра
- •4.2. Виды масс-анализаторов
- •4.3. Элементный анализ
- •4.4. Интерпретация масс-спектров
- •Глава 5. Хроматографические методы
- •5.1. Классификация хроматографических методов
- •5.2. Хроматографические параметры
- •5.3. Теория хроматографического разделения
- •5.4. Теория теоретических тарелок
- •5.5. Кинетическая теория хроматографии
- •5.6. Аппаратура
- •5.7. Качественный анализ
- •5.8. Количественный анализ
- •5.9. Газовая хроматография
- •5.9.1. Газотвердофазная хроматография
- •5.9.2. Газожидкостная хроматография
- •5.10. Жидкостная хроматография
- •Глава 6. Электрохимические методы
- •6.1. Основные понятия электрохимии
- •6.1.1. Электрохимическая ячейка и ее электрический эквивалент
- •6.1.2. Индикаторный электрод и электрод сравнения
- •6.1.3. Гальванический элемент
- •6.1.4. Электрохимические системы
- •6.1.4.1. Равновесные электрохимические системы
- •6.1.4.2. Неравновесные электрохимические системы
- •6.2. Потенциометрия
- •6.2.1. Прямая потенциометрия (ионометрия)
- •6.2.2. Потенциометрическое титрование
- •6.2.3. Аппаратура
- •6.3. Кулонометрия
- •6.3.1. Прямая кулонометрия
- •6.3.2. Кулонометрическое титрование
- •6.4. Вольтамперометрия
- •6.4.1. Амперометрическое титрование
- •6.4.2. Титрование с двумя индикаторными электродами
- •6.5. Кондуктометрический метод анализа
- •Глава 7. Методы термического анализа
- •7.1. Термогравиметрия и дтг
- •7.2. Метод дифференциального термического анализа
- •7.3. Дифференциальная сканирующая калориметрия
- •7.4. Дериватография
- •7.5. Дилатометрия и другие термические методы анализа
- •Глава 8. Дифракционные методы анализа
- •8.1. Основы теории дифракции
- •8.2. Методы дифракционного анализа
- •Глава 9. Микроскопические методы анализа
- •9.1. Световая микроскопия
- •9.2. Электронная микроскопия
- •9.2.1. Растровая электронная микроскопия
- •9.2.1.1. Аппаратура метода рэм
- •9.2.1.2. Использование вторичных и отраженных электронов в рэм
- •9.2.1.3. Типы контраста в растровой электронной микроскопии
- •9.2.1.4. Выбор условий работы рэм и подготовка образцов
- •9.2.1.5. Объекты исследования и их подготовка
- •9.2.2. Просвечивающая электронная микроскопия
- •9.2.2.1. Общая характеристика пэм
- •9.2.2.2. Аппаратура метода
- •9.2.2.3. Разновидности метода пэм
- •9.3. Сканирующие зондовые методы исследования
- •9.3.1. Сканирующая туннельная микроскопия
- •9.3.2. Атомно-силовая микроскопия
- •9.3.3. Магнитосиловая зондовая микроскопия
- •9.3.4. Сканирующая микроскопия ближней оптической зоны
- •Глава 3. Спектральные методы исследования веществ .................................................................................................... 25
- •Глава 4. Масс-спектрометрический метод анализа ....................................................................................................................... 152
- •Глава 6. Электрохимические методы .............................. 193 6.1. Основные понятия электрохимии .............................................. 194
3.7.3. Ядерно-магнитный резонанс
3.7.3.1. Основы метода
Ядерный магнитный резонанс (ЯМР) – резонансное поглощение радиоволн, обусловленное переходами между уровнями энергии, возни- кающими при взаимодействии магнитных моментов ядер с внешним магнитным полем.
В ЯМР-спектроскопии резонансное поглощение регистрируется в виде спектра – зависимости интенсивности поглощения от частоты.
Основные характеристики исследования в ЯМР-спектроскопии: химический сдвиг, ширина (и форма) резонансной линии, интенсив- ность резонансных линий, константы спин-спинового взаимодействия.
Различают спектроскопию ЯМР высокого разрешения, характер- ную для жидких растворов и газов, и низкого разрешения (широких ли- ний) для твердых тел.
Наибольшее применение нашла спектроскопия высокого разреше- ния.
Ядерный парамагнетизм имеют атомы, ядра которых имеют спин, отличный от нуля. Нулевой спин имеют ядра с четным массовым чис- лом и четным атомным номером.
В молекулах внешнее магнитное поле H0 индуцирует небольшие дополнительные поля, обусловленные диполь-дипольным взаимодей- ствием, экранированием электронов, электронными спин-спиновыми взаимодействиями.
Эффективное магнитное поле Hэф с учетом эффекта экранирования равно
1HHHH 000эф
, (3.72)
где ζ – константа экранирования. Ядра в молекуле, например протоны, находятся в различном окру-
жении, поэтому они по-разному экранированы.
107
Площади, ограниченные спектральными линиями, пропорциональ- ны числу эквивалентных протонов, и для этанола они относятся как 3:2:1 (рис. 3.56).
Рис. 3.56. Спектр этанола
Расстояние между сигналами называют химическим сдвигом – δ. Практически химический сдвиг измеряют по отношению к сигналу
образца сравнения (δ-шкала, рис. 3.57), в качестве которого в ПМР чаще всего используют тетраметилсилан (CH3)4Si (ТМС), сигнал которого находится в более сильном поле, чем сигнал протонов большинства со- единений.
Положение резонансной линии ТМС принимают за нуль и все сдвиги в сторону слабого поля фиксируют со знаком плюс, тогда
СТ0СТ,эфx0x,эф 1HHи1HH , (3.73)
СТ
xСТ
СТ,эф
СТ,эфx,эф
1H HH
, (3.74)
xСТ – химический сдвиг и поскольку
СТ << 1.
CT
xCT
CTСТ,эф
СТ,эфx,эф
H H
H HH
. (3.75)
108
Рис. 3.57. Таблица химических сдвигов
3.7.3.2. Аппаратура
На рисунке 3.58 приведена упрощенная принципиальная схема ЯМР-спектрометра. Спектрометр автоматически оказывается снабжен- ным блоками внешней и внутренней (или только внутренней) стабили- зации.
Основными блоками ЯМР-спектрометра являются: 1) магнит, создающий поле Но; 2) передатчик, создающий зонди-
рующее поле Н1; 3) датчик, в котором под воздействием Но и Н1 в об- разце возникает сигнал ЯМР; 4) приемник, усиливающий этот сигнал; 5) система регистрации (самописец, магнитная запись); 6) устройства обработки информации (интегратор, мини-ЭВМ); 7) система стабилиза- ции резонансных условий; 8) система термостатирования образца; 9) другие специальные системы и устройства для различных экспери- ментов в ЯМР.
109
Рис. 3.58. Принципиальная схема ЯМР-спектрометра
При характеристике ЯМР-спектрометров (рис. 3.59) основное вни- мание обращается на напряженность поля магнита. Поскольку химиче- ский сдвиг зависит от поля (а константы спин-спинового взаимодей- ствия от поля не зависят), сложные спектры часто можно упростить, проводя эксперименты при более высокой напряженности поля, что позволяет различать группы близкой структуры с меньшими разностями химических сдвигов.
Кроме того, магнитное поле должно быть однородным по всей мас- се исследуемого образца, что достигается, например, быстрым враще- нием образца (чтобы небольшие неоднородности усреднились).
Метод ЯМР помогает в исследовании координатных соединений путем оценки изменений в спектрах ПМР лигандов при комплексообра- зовании с металлами, а также для анализа структуры различных соеди- нений.
Рис. 3.59. ЯМР-спектроскоп
110
Ограничением ЯМР-спектроскопии является его низкая чувстви- тельность, поэтому трудно определять малые количества примесей, ес- ли только они не дают хорошо разрешенных сигналов.