- •Глава 7. Биполярный транзистор
- •7.1. Принцип действия биполярного транзистора
- •7.2. Схемы включения транзистора как усилительного элемента
- •7.2.1. Схема с общей базой
- •7.2.2. Схема с общим эмиттером
- •7.2.3. Эмиттерный повторитель
- •7.3. Коэффициент передачи тока биполярного транзистора
- •7.3.1. Распределение концентрации носителей заряда в структуре транзистора
- •7.3.2. Диффузионные токи в транзисторе
- •7.3.3. Коэффициент передачи тока эмиттера
- •7.3.4. Коэффициент передачи тока базы
- •7.3.5. Влияние высокого уровня легирования эмиттера на его эффективность
- •7.4. Зависимость коэффициента передачи тока от режима работы
- •7 .4.1. Эффекты малых и больших уровней инжекции в базе транзистора
- •7.4.2. Зависимость коэффициента усиления от тока коллектора
- •7.4.3. Зависимость коэффициента усиления от напряжения на коллекторном переходе
- •7.4.4. Зависимость коэффициента усиления от температуры
- •7.5. Статические характеристики биполярного транзистора
- •7.5.1. Схема с общей базой
- •7.5.2. Схема с общим эмиттером
- •7.6. Стационарные режимы работы транзистора
- •Транзистора в режиме насыщения нормального и инверсного активных режимов
7.1. Принцип действия биполярного транзистора
Биполярный транзистор является активным прибором полупроводниковой электроники, так как он позволяет осуществлять усиление мощности входного сигнала.
Усилительный режим работы транзистора соответствует прямому смещению эмиттерного p-n перехода и обратному смещению коллекторного p-n перехода.
Принцип действия БТ основан на инжекции неосновных носителей заряда базы из эмиттера в базу, пролёте этих носителей посредством диффузии и дрейфа через базу, экстракции (коллектировании) дошедших до коллекторного перехода неосновных носителей, инжектированных эмиттером, перенос полем обратносмещённого коллектора этих носителей в квазинейтральную область коллектора, где они становятся основными и замыкают цепь внешнего тока коллекторного источника питания.
Проанализируем более подробно физические процессы, протекающие в транзисторе в усилительном режиме. Для определённости в этом разделе будем рассматривать p-n-p транзистор.
При подаче прямого смещения на эмиттерный переход потенциальный барьер понижается, и происходит инжекция дырок из эмиттера в базу. Одновременно происходит обратная инжекция электронов из базы в эмиттер. Для обеспечения высокой эффективности (коэффициента инжекции) необходимо подавить ток обратной инжекции. Это достигается с помощью различного легирования эмиттера и базы в гомогенных транзисторах, а именно: эмиттер легируют значительно больше, чем базу. В этом случае NE >> NB, и эмиттерный переход представляет собой несимметричный резкий (или сверхрезкий) p+-n переход. Эффективность такого p-n перехода близка к единице.
Ток обратной инжекции определяется процессом рекомбинации электронов в p+-эмиттере и является компонентом электронного тока базы
.
n Ine p n В гетеротранзисторе n-p-n типа
использование в качестве эмит-
Фon тера широкозонного полупро-
водника позволяет получить вы-
EC EC сокий коэффициент инжекции
даже в случае NE ≤ NB из-за
F большей величины барьера для
обратной инжекции из базы по
EV сравнению с барьером для пря-
Фop мой инжекции из эмиттера в
EV базу (рисунок 7.2).
Ipe Рисунок 7.2 - Энергетическая диаграмма гетеротранзистора
В этом случае
,
где
.
При разнице в
ширинах зон порядка 0,4эВ (переход Si-Ge)
отношение
при комнатной температуре. Следовательно
эффективность эмиттера будет близка к
единице даже в случае, если NE
≤ NB.
Таким образом, гетеропереход позволяет
осуществлять практически одностороннюю
инжекцию носителей заряда.
За время релаксации
,
т.е. практически мгновенно, инжектированные
в базу неосновные носители заряда
(дырки) нейтрализуются основными
носителями (электроны), поступающими
из источника питания эмиттер-база.Возникает градиент концентрации неравновесных электронно-дырочных пар, под действием которого происходит диффузия (дрейф при наличии поля) дырок от эмиттера к коллекторному переходу, где концентрация дырок близка к нулю вследствие экстракции неосновных носителей полем обратно смещённого коллектора.
По мере пролёта базы происходит рекомбинация наиболее медленных дырок с электронами, которая создаёт вторую компоненту базового электронного тока. Поскольку толщина базы WB значительно меньше диффузионной длины дырок LB, то практически все дырки достигают коллектора. Таким образом, величина дырочного тока в коллекторе Ipc приблизительно равна дырочному току эмиттера Ipe. эффективность прохождения дырок через базу характеризуется коэффициентом переноса
.
Величина тока базы IB2 определяется разностью (Ipe – Ipc),
.
Дошедшие до коллекторного перехода дырки затягиваются полем обратно смещённого коллектора и создают полезный дырочный ток Ipc.
,
где
– коэффициент передачи тока эмиттера.
Значение α лежит в диапа- зоне
(0,95-0,999).
К коллекторному переходу приложено обратное смещение, поэтому через него протекает также небольшой неуправляемый генерационный ток ICBO – обратный ток коллекторного p-n перехода, который замыкается через цепь базы. Так как генерационный ток направлен встречно рекомбинационному току базы, то результирующее значение (рисунок 7.1) тока базы
.
Ток коллектора
.
Нетрудно заметить, что для транзистора в усилительном режиме выполняется закон Кирхгофа
IE = IB + IC.
Проведенный анализ устанавливает основные требования к структуре биполярного транзистора
NE >> NB; EgE > EgB – для обеспечения эффективности эмиттера, близкой к единице
.WB << LB – для уменьшения потерь в базе и обеспечения коэффициента переноса β ≤ 1.
Уровень легирования коллектора NC и его толщина WC должны обеспечить требуемое рабочее напряжение, которое ограничивается лавинным пробоем коллекторного p-n перехода.
