- •Содержание конспекта лекций
- •Введение
- •Тема №1: Основные законы теории твердого тела лекция №1: особенности строения твердых тел
- •1 Краткая историческая справка
- •2 Классификация твердых тел по проводимости
- •3 Понятие ковалентной связи
- •Лекция №2: Основы зонной теории твердого тела
- •1 Энергетические диаграммы уединенного атома и твердых тел
- •2 Обобщение некоторых выводов зонной теории для объяснения электропроводности и классификации твердых тел
- •3 Электроны в твердом теле
- •1 Структура полупроводников
- •2 Дефекты кристаллической решетки
- •3 Поверхность кристалла
- •Тема №2: Основы теории полупроводников Лекция №4: Электрофизические свойства полупроводников
- •1 Электроны и дырки в кристаллической решетке полупроводника
- •2 Собственные и примесные полупроводники
- •3 Носители заряда и их распределение в зонах проводимости
- •1 Рекомбинация носителей заряда
- •2 Законы движения носителей заряда в полупроводниках
- •Лекция №6: Эффект внешнего поля
- •1 Общие сведения об эффекте поля
- •2 Эффект поля в собственном полупроводнике
- •3 Эффект поля в примесном полупроводнике
- •1 Структура p-n-перехода
- •2 Равновесное состояние p-n-перехода
- •3 Неравновесное состояние p-n-перехода
- •4 Вольт-амперная характеристика p-n-перехода
- •1 Контакты полупроводник—металл
- •2 Граница полупроводник—диэлектрик
- •3 Гетеропереходы
- •1 Барьерная емкость электронно-дырочного перехода
- •1.1 Барьерная емкость как проявление токов смещения
- •1.2 Общее соотношение для барьерной емкости электронно-дырочного перехода
- •1.3 Частные соотношения для барьерной емкости различных электронно-дырочных переходов
- •1.4 Ширина области объемного заряда. Зарядная емкость перехода
- •2 Диффузионная емкость
- •1 Туннельный (зенеровский) пробой
- •2 Лавинный пробой
- •3 Тепловой пробой
- •3.1 Вах с учетом тепловыдепения в p-n-переходе
- •3.2 Расчет пробивного напряжения при тепловом пробое
- •3.3 Особенности теплового пробоя в реальных диодах
- •4 Поверхностный пробой
- •1 Поглощение света
- •2 Фоторезистивный эффект
- •3 Люминесценция полупроводников
- •1 Э.Д.С., возникающая в полупроводнике при его освещении
- •1.1 Воздействие света на p-n-переход
- •1.2 Основные характеристики и параметры
- •2 Спонтанное и индуцированное излучение
- •1 Эффекты Пельтье и Зеебека
- •2 Гальваномагнитный эффект Холла
- •1. Работа выхода
- •1.1 Электроны в металле
- •1.2 Выход электронов из металла
- •2 Виды электронной эмиссии
- •2.1 Термоэлектронная эмиссия
- •2.2 Электростатическая электронная эмиссия
- •2.3 Вторичная электронная эмиссия
- •2.4 Электронная эмиссия под ударами тяжелых частиц
- •1 Электрические явления в газе, понятие о плазме
- •2 Рис.5.12 Схема для снятия вольтамперной характеристики ионного прибора Вольтамперная характеристика газового разряда
1 Э.Д.С., возникающая в полупроводнике при его освещении
Если однородный полупроводник осветить сильно поглощаемым светом, то в его поверхностном слое, где происходит поглощение света, возникнет избыточная концентрация электронов и дырок, которые будут диффундировать в глубь полупроводника (рис.4.6).
Рис.4.6. Возникновение э.д.с. в полупроводнике при его освещении
Коэффициент диффузии электронов обычно значительно больше коэффициента диффузии дырок. Поэтому при диффузии электроны опережают дырки, происходит некоторое разделение зарядов — поверхность полупроводника приобретает положительный заряд по сравнению с объемом.
Таким образом, в полупроводнике при его освещении возникает электрическое поле или э.д.с., которую иногда называют э.д.с. Дембера.
Величина напряженности электрического поля, возникающего в полупроводнике при его освещении, с учетом того, что в установившемся состоянии тока через полупроводник нет, определяется равенством
0 = qnμnE + qDn .grad n - qpμpЕ – qDp .grad p. (4.5)
D – коэффициент диффузии;
- подвижность носителей заряда.
Если же считать, что grad n ≈ grad р, то
(4.6)
т. е. напряженность электрического поля пропорциональна возникающему при освещении полупроводника градиенту концентрации носителей заряда.
1.1 Воздействие света на p-n-переход
Электронно-дырочные пары, генерируемые в полупроводнике квантами света, разделяются электрическим полем электронно-дырочного перехода. В результате на омических контактах такого p-n-перехода в разомкнутом состоянии при освещении перехода появляется э.д.с. Если замкнуть внешнюю цепь, то в ней будет протекать электрический ток. Следовательно, электронно-дырочный переход может исполнять роль фотоэлемента, преобразующего световую энергию в электрическую.
Полупроводниковый фотоэлемент — это полупроводниковый прибор с выпрямляющим электрическим переходом, предназначенный для непосредственного преобразования световой энергии в электрическую.
Рис.4.7. Разделение возбужденных светом носителей
под действием поля p-n-перехода
Фотоны, воздействуя на n-p-переход и прилегающие к нему области, вызывают генерацию пар носителей заряда. Возникшие в n- и p-областях электроны и дырки диффундируют к переходу, и если они не успели рекомбинировать, то попадают под действие внутреннего электрического поля, имеющегося в переходе. Это поле также действует и на носители заряда, возникающие в самом переходе. Поле разделяет электроны и дырки.
Для неосновных носителей, например, для электронов, возникших в р-области, поле перехода является ускоряющим.
Оно перебрасывает электроны в n-область. Аналогично дырки перебрасываются полем из n-области в p-область.
А для основных носителей, например, дырок в р- области, поле перехода является тормозящим, и эти носители остаются в своей области, т. е. дырки остаются в р-области, а электроны - в n-области (рис. 4.7).
В результате такого процесса в n- и p-областях накапливаются избыточные основные носители, т. е. создаются соответственно заряды электронов и дырок и возникает разность потенциалов, которую называют фото-ЭДС (Еф). С увеличением светового потока фото-ЭДС растет по нелинейному закону (рис.4.8).
Рис.4.8. Зависимость фото-ЭДС от светового потока
Значение ЭДС может достигать нескольких десятых долей вольта. При подлючении к p-n-переходу нагрузки в цепи возникает фототок Iф, равный Еф/(Rн+Ri), где Ri - внутреннее сопротивление самого фотоэлемента.
