- •Содержание конспекта лекций
- •Введение
- •Тема №1: Основные законы теории твердого тела лекция №1: особенности строения твердых тел
- •1 Краткая историческая справка
- •2 Классификация твердых тел по проводимости
- •3 Понятие ковалентной связи
- •Лекция №2: Основы зонной теории твердого тела
- •1 Энергетические диаграммы уединенного атома и твердых тел
- •2 Обобщение некоторых выводов зонной теории для объяснения электропроводности и классификации твердых тел
- •3 Электроны в твердом теле
- •1 Структура полупроводников
- •2 Дефекты кристаллической решетки
- •3 Поверхность кристалла
- •Тема №2: Основы теории полупроводников Лекция №4: Электрофизические свойства полупроводников
- •1 Электроны и дырки в кристаллической решетке полупроводника
- •2 Собственные и примесные полупроводники
- •3 Носители заряда и их распределение в зонах проводимости
- •1 Рекомбинация носителей заряда
- •2 Законы движения носителей заряда в полупроводниках
- •Лекция №6: Эффект внешнего поля
- •1 Общие сведения об эффекте поля
- •2 Эффект поля в собственном полупроводнике
- •3 Эффект поля в примесном полупроводнике
- •1 Структура p-n-перехода
- •2 Равновесное состояние p-n-перехода
- •3 Неравновесное состояние p-n-перехода
- •4 Вольт-амперная характеристика p-n-перехода
- •1 Контакты полупроводник—металл
- •2 Граница полупроводник—диэлектрик
- •3 Гетеропереходы
- •1 Барьерная емкость электронно-дырочного перехода
- •1.1 Барьерная емкость как проявление токов смещения
- •1.2 Общее соотношение для барьерной емкости электронно-дырочного перехода
- •1.3 Частные соотношения для барьерной емкости различных электронно-дырочных переходов
- •1.4 Ширина области объемного заряда. Зарядная емкость перехода
- •2 Диффузионная емкость
- •1 Туннельный (зенеровский) пробой
- •2 Лавинный пробой
- •3 Тепловой пробой
- •3.1 Вах с учетом тепловыдепения в p-n-переходе
- •3.2 Расчет пробивного напряжения при тепловом пробое
- •3.3 Особенности теплового пробоя в реальных диодах
- •4 Поверхностный пробой
- •1 Поглощение света
- •2 Фоторезистивный эффект
- •3 Люминесценция полупроводников
- •1 Э.Д.С., возникающая в полупроводнике при его освещении
- •1.1 Воздействие света на p-n-переход
- •1.2 Основные характеристики и параметры
- •2 Спонтанное и индуцированное излучение
- •1 Эффекты Пельтье и Зеебека
- •2 Гальваномагнитный эффект Холла
- •1. Работа выхода
- •1.1 Электроны в металле
- •1.2 Выход электронов из металла
- •2 Виды электронной эмиссии
- •2.1 Термоэлектронная эмиссия
- •2.2 Электростатическая электронная эмиссия
- •2.3 Вторичная электронная эмиссия
- •2.4 Электронная эмиссия под ударами тяжелых частиц
- •1 Электрические явления в газе, понятие о плазме
- •2 Рис.5.12 Схема для снятия вольтамперной характеристики ионного прибора Вольтамперная характеристика газового разряда
1 Поглощение света
В общем случае, виды поглощения света делятся на собственные и примесные.
При собственном поглощении энергия квантов света идет на ионизацию атомов полупроводника. А именно:
1.энергия фотонов может быть передана электронам валентной зоны с переводом этих электронов в зону проводимости;
2.энергия фотонов может быть поглащена носителями заряда (электронами зоны проводимости или дырками валентной зоны), т.е. энергия квантов света расходуется на перевод носителей на более высокие для них энергетические уровни, но в пределах соответствующей разрешенной зоны.
При примесном поглощении энергия квантов света идет на ионизацию или возбуждение примесных атомов.
-
а)
б)
Рис.4.1. переход электрона из валентной зоны в зону проводимости полупроводника: а)прямой; б)непрямой.
При собственном поглощении фотонов переход электронов из валентной зоны в зону проводимости полупроводника может происходить без изменения квазиимпульса или волнового вектора электрона, т.е. возможны прямые переходы (рис.4.1,а). Может происходить также переброс электронов из валентной зоны в зону проводимости и с изменением волнового вектора — непрямые переходы (рис.4.1.б).
При непрямых переходах в процессе поглощения кроме фотона и электрона должна участвовать еще третья квазичастица, которая заберет часть квазиимпульса на себя, т. е. обеспечит выполнение закона сохранения импульса. Таким образом, непрямые переходы — это переходы с участием третьей квазичастицы. Третьей квазичастицей обычно является фонон — квант тепловой энергии кристаллической решетки полупроводника.
Поглощение света или вообще фотонов характеризуют показателем поглощения α, который равен относительному изменению светового потока (потока фотонов) в слое полупроводника единичной толщины (рис.4.2):
(4.1)
Это соотношение представляет собой дифференциальное уравнение с разделяющимися переменными. Поэтому
(4.2)
Рис.4.2. Поглощение света в полупроводнике
Таким образом, показатель поглощения α можно определить как величину, обратную толщине слоя полупроводника, после прохождения которого, световой поток (поток фотонов) уменьшится в е=2,718... раз.
Зависимость показателя поглощения от энергии фотонов называют спектром поглощения полупроводника (рис.4.3.).
При больших энергиях фотонов происходит собственное поглощение с образованием пар носителей электрон—дырка. Показатель поглощения при этом велик.
Рис.4.3. Спектр поглощения полупроводника
При малой энергии фотонов (меньше ширины запрещенной зоны полупроводника) показатель поглощения уменьшается и основным процессом поглощения является поглощение носителями заряда.
При еще меньших энергиях квантов света может происходить примесное поглощение, если не все примеси ионизированы при данной температуре. Примесному поглощению соответствует один или несколько максимумов в спектре поглощения при энергиях квантов света, равных энергиям ионизации примесей.
При малой энергии фотонов показатель поглощения (в этом диапазоне частот) зависит от концентрации носителей или от концентрации примесей.
