- •Содержание конспекта лекций
- •Введение
- •Тема №1: Основные законы теории твердого тела лекция №1: особенности строения твердых тел
- •1 Краткая историческая справка
- •2 Классификация твердых тел по проводимости
- •3 Понятие ковалентной связи
- •Лекция №2: Основы зонной теории твердого тела
- •1 Энергетические диаграммы уединенного атома и твердых тел
- •2 Обобщение некоторых выводов зонной теории для объяснения электропроводности и классификации твердых тел
- •3 Электроны в твердом теле
- •1 Структура полупроводников
- •2 Дефекты кристаллической решетки
- •3 Поверхность кристалла
- •Тема №2: Основы теории полупроводников Лекция №4: Электрофизические свойства полупроводников
- •1 Электроны и дырки в кристаллической решетке полупроводника
- •2 Собственные и примесные полупроводники
- •3 Носители заряда и их распределение в зонах проводимости
- •1 Рекомбинация носителей заряда
- •2 Законы движения носителей заряда в полупроводниках
- •Лекция №6: Эффект внешнего поля
- •1 Общие сведения об эффекте поля
- •2 Эффект поля в собственном полупроводнике
- •3 Эффект поля в примесном полупроводнике
- •1 Структура p-n-перехода
- •2 Равновесное состояние p-n-перехода
- •3 Неравновесное состояние p-n-перехода
- •4 Вольт-амперная характеристика p-n-перехода
- •1 Контакты полупроводник—металл
- •2 Граница полупроводник—диэлектрик
- •3 Гетеропереходы
- •1 Барьерная емкость электронно-дырочного перехода
- •1.1 Барьерная емкость как проявление токов смещения
- •1.2 Общее соотношение для барьерной емкости электронно-дырочного перехода
- •1.3 Частные соотношения для барьерной емкости различных электронно-дырочных переходов
- •1.4 Ширина области объемного заряда. Зарядная емкость перехода
- •2 Диффузионная емкость
- •1 Туннельный (зенеровский) пробой
- •2 Лавинный пробой
- •3 Тепловой пробой
- •3.1 Вах с учетом тепловыдепения в p-n-переходе
- •3.2 Расчет пробивного напряжения при тепловом пробое
- •3.3 Особенности теплового пробоя в реальных диодах
- •4 Поверхностный пробой
- •1 Поглощение света
- •2 Фоторезистивный эффект
- •3 Люминесценция полупроводников
- •1 Э.Д.С., возникающая в полупроводнике при его освещении
- •1.1 Воздействие света на p-n-переход
- •1.2 Основные характеристики и параметры
- •2 Спонтанное и индуцированное излучение
- •1 Эффекты Пельтье и Зеебека
- •2 Гальваномагнитный эффект Холла
- •1. Работа выхода
- •1.1 Электроны в металле
- •1.2 Выход электронов из металла
- •2 Виды электронной эмиссии
- •2.1 Термоэлектронная эмиссия
- •2.2 Электростатическая электронная эмиссия
- •2.3 Вторичная электронная эмиссия
- •2.4 Электронная эмиссия под ударами тяжелых частиц
- •1 Электрические явления в газе, понятие о плазме
- •2 Рис.5.12 Схема для снятия вольтамперной характеристики ионного прибора Вольтамперная характеристика газового разряда
1 Барьерная емкость электронно-дырочного перехода
1.1 Барьерная емкость как проявление токов смещения
Барьерная емкость p-n-перехода проявляется при приложении к р-n-переходу изменяющегося во времени напряжения. При этом через p-n-переход проходит ток. Та доля тока, которая не связана с движением носителей заряда через р-n-переход, и определяет барьерную емкость. Барьерная емкость связана с прохождением токов смещения.
Для одномерного плоского р-n-перехода ток (плотность тока) смещения, одинаковый во всех его сечениях,
(3.14)
где S — площадь р-n-перехода.
Значение тока смещения можно связать с изменением объемного заряда. Для этого выделим мысленно в p-n-переходе объем в виде цилиндра (или призмы), образующие которого параллельны оси x — направлению электрического поля (рис. 3.11).
Рис.3.11 .К выводу выражения для
барьерной емкости p-n-перехода
Одно основание цилиндра пусть лежит за пределами р-n-перехода, а другое — внутри его. Тогда, согласно теореме Остроградского — Гаусса, можно определить поток вектора электрической индукции через поверхность, ограничивающую выделенный объем. Этот поток проходит только через одно основание цилиндра, так как боковые его поверхности параллельны электрическому полю, а второе основание лежит в области, где поле отсутствует. Тогда
(3.15)
где Q — заряд ионизированных примесей.
Ток смещения можно записать теперь таким образом:
(3.16)
Сравнив последнее выражение с обычным выражением для тока через емкость, т.е. с
получаем, что в качестве барьерной емкости следует взять величину
(3.17)
Абсолютное значение этого отношения взято потому, что объемный заряд в р-n-переходе может быть положительным и отрицательным, а правило знаков для напряжения выбрано произвольно.
Таким образом, барьерная емкость связана с током смещения (как и обычная емкость).
1.2 Общее соотношение для барьерной емкости электронно-дырочного перехода
Исходя из определения барьерной емкости (3.17), можно получить общую формулу для барьерной емкости плоского p-n-перехода. Объемный заряд ионизированных примесей в цилиндре, выделенном в р-n-переходе,
(3.18)
где б –расстояние между слоями.
Таким образом, барьерная емкость плоского одномерного р-n-перехода может быть рассчитана по формуле плоского конденсатора.
Такой результат не является очевидным, так как распределение зарядов в плоском конденсаторе и в электронно-дырочном переходе не одинаково. Причина совпадения формул — в характере изменения заряда р-n-перехода: при изменении напряжения на р-n-переходе заряд изменяется потому, что сдвигаются границы р-n-перехода.
Заряды, обусловливающие барьерную
емкость, сосредоточены в двух тонких
слоях, расположенных на расстоянии
в одиночестве от другого (рис.
3.11), что очень напоминает поверхностные
заряды на металлических обкладках
конденсатора.
1.3 Частные соотношения для барьерной емкости различных электронно-дырочных переходов
С помощью выражения (3.18) можно определить барьерную емкость на основе результатов расчета толщины р-n-перехода. Поэтому для резкого p-n-перехода,
(3.19)
Для резкого несимметричного р-n-перехода
(3.20)
где N — концентрация примесей в слаболегированной области.
Для плавного р-n-перехода с линейным распределением концентрации примесей
,
(3.21)
где а – градиент концентрации заряда
