- •Содержание конспекта лекций
- •Введение
- •Тема №1: Основные законы теории твердого тела лекция №1: особенности строения твердых тел
- •1 Краткая историческая справка
- •2 Классификация твердых тел по проводимости
- •3 Понятие ковалентной связи
- •Лекция №2: Основы зонной теории твердого тела
- •1 Энергетические диаграммы уединенного атома и твердых тел
- •2 Обобщение некоторых выводов зонной теории для объяснения электропроводности и классификации твердых тел
- •3 Электроны в твердом теле
- •1 Структура полупроводников
- •2 Дефекты кристаллической решетки
- •3 Поверхность кристалла
- •Тема №2: Основы теории полупроводников Лекция №4: Электрофизические свойства полупроводников
- •1 Электроны и дырки в кристаллической решетке полупроводника
- •2 Собственные и примесные полупроводники
- •3 Носители заряда и их распределение в зонах проводимости
- •1 Рекомбинация носителей заряда
- •2 Законы движения носителей заряда в полупроводниках
- •Лекция №6: Эффект внешнего поля
- •1 Общие сведения об эффекте поля
- •2 Эффект поля в собственном полупроводнике
- •3 Эффект поля в примесном полупроводнике
- •1 Структура p-n-перехода
- •2 Равновесное состояние p-n-перехода
- •3 Неравновесное состояние p-n-перехода
- •4 Вольт-амперная характеристика p-n-перехода
- •1 Контакты полупроводник—металл
- •2 Граница полупроводник—диэлектрик
- •3 Гетеропереходы
- •1 Барьерная емкость электронно-дырочного перехода
- •1.1 Барьерная емкость как проявление токов смещения
- •1.2 Общее соотношение для барьерной емкости электронно-дырочного перехода
- •1.3 Частные соотношения для барьерной емкости различных электронно-дырочных переходов
- •1.4 Ширина области объемного заряда. Зарядная емкость перехода
- •2 Диффузионная емкость
- •1 Туннельный (зенеровский) пробой
- •2 Лавинный пробой
- •3 Тепловой пробой
- •3.1 Вах с учетом тепловыдепения в p-n-переходе
- •3.2 Расчет пробивного напряжения при тепловом пробое
- •3.3 Особенности теплового пробоя в реальных диодах
- •4 Поверхностный пробой
- •1 Поглощение света
- •2 Фоторезистивный эффект
- •3 Люминесценция полупроводников
- •1 Э.Д.С., возникающая в полупроводнике при его освещении
- •1.1 Воздействие света на p-n-переход
- •1.2 Основные характеристики и параметры
- •2 Спонтанное и индуцированное излучение
- •1 Эффекты Пельтье и Зеебека
- •2 Гальваномагнитный эффект Холла
- •1. Работа выхода
- •1.1 Электроны в металле
- •1.2 Выход электронов из металла
- •2 Виды электронной эмиссии
- •2.1 Термоэлектронная эмиссия
- •2.2 Электростатическая электронная эмиссия
- •2.3 Вторичная электронная эмиссия
- •2.4 Электронная эмиссия под ударами тяжелых частиц
- •1 Электрические явления в газе, понятие о плазме
- •2 Рис.5.12 Схема для снятия вольтамперной характеристики ионного прибора Вольтамперная характеристика газового разряда
1 Структура p-n-перехода
Переходной слой между двумя областями полупроводника, одна из которых имеет проводимость p-типа, а другая – n-типа, называют электронно-дырочным переходом или p-n переходом.
Комбинация двух полупроводниковых слоев с разным типом проводимости (рис. 3.1,а) обладает выпрямляющими или вентильными свойствами: она гораздо лучше пропускает в одном направлении, чем в другом.
Полярность напряжения, соответствующая большим токам, называется прямой, а меньшим — обратной. Обычно пользуются терминами прямое и обратное напряжение, прямой и обратный ток.
Рис.
3.1. Полупроводниковый диод
а – упрощенная структура; б – условное обозначение
Поверхность, по которой контактируют слои р и n, называется металлургической границей, а прилегающая к ней область объемных зарядов — электронно-дырочным переходом или р-n-переходом.
Выпрямительные свойства рассматриваемой структуры позволяют использовать ее в качестве полупроводникового диода. На рис. 3.1,б показаны символическое обозначение диода, направление прямого тока и полярность прямого напряжения.
Два других (внешних) контакта в диоде — невыпрямляющие, поэтому их называют омическими.
Структура р-n-перехода. Электронно-дырочные переходы классифицируют по резкости металлургической границы и по соотношению удельных сопротивлений слоев.
Ступенчатыми переходами называют переходы с идеальной границей, по одну сторону которой находятся доноры с постоянной концентрацией Nд, а по другую — акцепторы с постоянной концентрацией Nа. Такие переходы наиболее просты для анализа.
Плавными переходами называют такие, у которых в районе металлургической границы концентрация одного типа примеси постепенно уменьшается, а другого типа — растет. Сама металлургическая граница в этом случае соответствует равенству примесных концентраций (Nд = Nа).
По соотношению концентраций примесей в p- и n-слоях переходы делят на симметричные, несимметричные и односторонние.
Симметричные переходы характерны условием Nдn ≈ Nap, где Nдn и Nap — концентрации примесей в соответствующих слоях.
Рис.3.2. Электрическая структура p-n перехода:
а – начальное состояние слоев; б – объемные заряды в реальном переходе; в – объемные заряды в идеализированном переходе
Симметричные переходы не типичны для полупроводниковой техники.
В случае резкой асимметрии, когда концентрации примесей (а значит, и основных носителей) различаются на 1–2 порядка и более, переходы называют односторонними и обозначают символами n+–р или p+–n, где верхний индекс «+» соответствует слою со значительно большей концентрацией.
На рис. 3.2 показана электрическая структура p-n-перехода. Для наглядности разница в концентрациях основных носителей nn0 и рp0 принята меньшей, чем это имеет место в действительности.
2 Равновесное состояние p-n-перехода
Рассмотрим полупроводник, одна часть которого имеет проводимость p-типа, а другая - n-типа, рис.3.3. Будем считать, что концентрации акцепторной и донорной примесей равны (такой переход называется симметричным). В p-области концентрация дырок, как основных носителей, выше, чем в n-области. Аналогично концентрация электронов в n-области выше, чем в p-области.
Такое распределение концентрации одноименных носителей заряда в кристалле вызывает диффузию дырок из p-области в n-область, а электронов - из n-области в p-область (т.е. возникает диффузионный ток через границу раздела областей).
Общий диффузионный ток направлен сторону движения дырок и равен сумме электронного и дырочного токов:
(3.1)
В результате в прилегающей к границе p-области возникает нескомпенсированный заряд отрицательных ионов акцептора, а со стороны n-области – положительных ионов донора.
Диффузия основных носителей приводит к образованию на границе n- и p-областей объемного заряда в виде двойного электрического слоя, образованного ионами акцептора и донора.
Электроны и дырки же при переходе в другую область быстро рекомбинируют с основными носителями.
Двойной электрический слой обеднен подвижными носителями заряда и поэтому обладает повышенным сопротивлением (его еще называют запорным слоем).
Рис. 3.3. Равновесное состояние p-n перехода
Заряд отрицательных ионов акцептора понижает потенциал p-области до значения p, а положительных донора – повышает потенциал n-области до +n. Изменение потенциала от p до +n происходит только в пределах ширины запорного слоя .
Разность потенциалов:
k = +n – (p) = n + p (3.2)
называется диффузионным потенциалом или контактной разностью потенциалов.
Между зарядами запорного слоя возникает контактное (внутреннее) или диффузионное электрическое поле напряженностью:
Ei = k/, (3.3)
направленное от положительных зарядов к отрицательным.
Поле Ei является тормозящим для основных носителей заряда. По этой причине не происходит полного выравнивания концентраций носителей в p- и n-областях.
Возникающий на границе раздела p- и n-областей запорный слой с присущим ему потенциальным барьером
Wб =e.k (3.4)
по существу и является p-n переходом.
Для неосновных носителей поле Ei является ускоряющим. Они, попадая в пределы этого поля, свободно переходят в противоположные области, образуя ток дрейфа, направленный навстречу диффузионному. Этот процесс называется экстракцией носителей.
Плотность дрейфового тока
|
(3.5) |
где
-
подвижности.
В конечном итоге наступает динамическое равновесие
Ip-n = Iдиф + Iдр = 0. (3.6)
