- •1. Тема: Исследование температурной зависимости электросо- противления p-n-перехода
- •Типовая зависимость электросопротивления p-n-перехода от температуры приведена на рисунке 2.
- •Типовая зависимость электросопротивления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны (типа материала) приведена на рисунке 3.
- •Типовая зависимость коэффициента выпрямления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны (типа материала) приведена на рисунке 4.
- •6. Литература:
- •7. Контрольные вопросы:
- •8. Методические рекомендации по проведению исследований:
- •- О температурной зависимости электросопротивления p-n-перехода;
- •9. Содержание отчета:
Типовая зависимость электросопротивления p-n-перехода от температуры приведена на рисунке 2.
Рис.2
Типовая зависимость электросопротивления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны (типа материала) приведена на рисунке 3.
Рис.3
Типовая зависимость коэффициента выпрямления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны (типа материала) приведена на рисунке 4.
Рис.4
6. Литература:
1. Степаненко И.П. Основы микроэлектроники: Учеб.пособие для вузов.2-е изд., перераб. и доп. М: Лаб. баз. зн. 2001
2. Жеребцов И.П. Основы электроники.- 5-е изд., перераб. и доп. Л.:Энергоатом-издат. 1989.
4. Журавлева Л.В. Электроматериаловедение. М.: Академия, 2004.
5. С. Зи Физика полупроводниковых приборов, ч1 М.: Мир, 1984.
6. Викулин И.М., Стафеев И.М. Физика полупроводниковых приборов М.: Сов. радио, 1980.
7. Епифанов Г.И. Физические основы микроэлектроники М.: Сов. радио, 1971.
8. Пасынков В.В. и др. Полупроводниковые прибороы: Учебник для вузов.– 3-е изд., перераб. и доп. М: Высш. школа, 1981
7. Контрольные вопросы:
1. Каким выражением описывается ВАХ p-n-перехода.
2. В чем проявляются вентильные свойства p-n-перехода.
3. Как зависит вид ВАХ p-n-перехода от типа материала.
4. Какие параметры материала определяют вид ВАХ p-n-перехода.
5. Какова зависимость электросопротивления p-n-перехода от температуры.
6. Какова зависимость электросопротивления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны материала.
7. Какова зависимость коэффициента выпрямления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны материала.
8. Методические рекомендации по проведению исследований:
8.1 Используя выражение (1) выполнить расчет и построить графики в Mathcad, Excel ВАХ для Ge, Si и AsGa при температурах [t=-20 oC; T=253K] [t=18oC;T=291K] [t=80oC;T=353K]
8.2. Исследование в Electronics Workbench
8.2.1. Снятие прямой ветви ВАХ p-n-перехода
1).
Из среды программирования Workbench
5.12, войти в каталог «Diodes»,
открыть папку «Si_253oK_вар»,
загрузить файл «Si_253oK_прям_№(1
)».
Номер варианта уточнить у преподавателя.
2). При запросе, рис.5, «наступите» мышкой на клавишу «Use circuit model».
Рис.5
На экране монитора появится схема.
Рис.6
Схема содержит: источник ЭДС, амперметр, полупроводниковый диод на основе Si.
3). Установить значение ЭДС источника равным 1,2·U* В. Активировать схему. Снять показания амперметра, занести данные в таблицу №2.
Табл.№2
t = -20oC; T =253K |
Uпр, мВ |
|
|
|
|
|
|
ΔUпр, мВ |
|
|
|
|
|
|
|
Iпр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
ΔIпр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
Rcт, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
Rдин, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
t = 18oC; T =291K |
Uпр, мВ |
|
|
|
|
|
|
ΔUпр, мВ |
|
|
|
|
|
|
|
Iпр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
ΔIпр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
Rcт, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
Rдин, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
t = 80oC; T =353K |
Uпр, мВ |
|
|
|
|
|
|
ΔUпр, мВ |
|
|
|
|
|
|
|
Iпр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
ΔIпр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
Rcт, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
Rдин, Ом |
|
|
|
|
|
|
4). Постепенно, с произвольным шагом, снижая напряжение источника ЭДС, производить измерение тока p-n-перехода с последующей записью его величины в таблицу №2. Измерения производить (не менее 8 раз) до достижения тока порядка 0,5 мА.
5). Из среды программирования Workbench 5.12, войти в каталог «Diodes», открыть папку «Si_291oK_вар», загрузить файл «Si_291oK_прям_№(1 )».
6). Номер варианта уточнить у преподавателя. При запросе, рис.7, «наступите» мышкой на клавишу «Нет».
Рис.7
При запросе, рис.5, «наступите» мышкой на клавишу «Use circuit model».
7). На экране монитора появится схема.
Рис.8
Схема содержит: источник ЭДС, амперметр, полупроводниковый диод на основе Si.
8). Выполнить требования пунктов 3), 4).
9). Из среды программирования Workbench 5.12, войти в каталог «Diodes», открыть папку «Si_353oK_вар», загрузить файл «Si_353oK_прям_№(1 )».
10). Выполнить требования пункта 6).
11). На экране монитора появится схема.
Рис.9
Схема содержит: источник ЭДС, амперметр, полупроводниковый диод на основе Si.
12). Выполнить требования пунктов 3), 4).
8.2.2. Снятие обратной ветви ВАХ p-n-перехода
1). Из среды программирования Workbench 5.12, войти в каталог «Diods», открыть папку «Si_253oK_вар», загрузить файл «Si_253oK_обрат». При запросе, рис.5, «наступите» мышкой на клавишу «Use circuit model». На экране монитора появится схема.
Рис.10.
Схема содержит: источник ЭДС, амперметр, полупроводниковый диод на основе Si.
2). Произвести измерение тока диода (с произвольным шагом) в интервале [0÷1,2·U* ] (не менее 5 измерений). Результаты измерений занести в таблицу №3.
Табл.№3
t = -20oC; T =253K |
Uобр, В |
|
|
|
|
|
|
Δ Uобр, мВ |
|
|
|
|
|
|
|
Iобр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
ΔIобр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
Rcт, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
Rдин, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
t = 18oC; T =291K |
Uобр, В |
|
|
|
|
|
|
Δ Uобр, мВ |
|
|
|
|
|
|
|
Iобр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
ΔIобр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
Rcт, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
Rдин, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
t = 80oC; T =353K |
Uобр, В |
|
|
|
|
|
|
Δ Uобр, мВ |
|
|
|
|
|
|
|
Iобр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
ΔIобр, мА |
|
|
|
|
|
|
|
Rcт, Ом |
|
|
|
|
|
|
|
Rдин, Ом |
|
|
|
|
|
|
3). Из среды программирования Workbench 5.12, войти в каталог «Diods», открыть папку «Si_291oK_вар», загрузить файл «Si_291oK_обрат». При запросе, рис.7, «наступите» мышкой на клавишу «Нет». При запросе, рис.5, «наступите» мышкой на клавишу «Use circuit model». На экране монитора появится схема.
Рис.11
Схема содержит: источник ЭДС, амперметр, полупроводниковый диод на основе Si.
4). Выполнить указания пункта 2).
5). Из среды программирования Workbench 5.12, войти в каталог «Diods», открыть папку «Si_353oK_вар», загрузить файл «Si_353oK_обрат». При запросе, рис.7, «наступите» мышкой на клавишу «Нет». При запросе, рис.5, «наступите» мышкой на клавишу «Use circuit model». На экране монитора появится схема.
Рис.12
Схема содержит: источник ЭДС, амперметр, полупроводниковый диод на основе Si.
6). Выполнить указания пункта 2).
8.2.3. Анализ ВАХ и расчет параметров p-n-перехода
1).
По полученным данным, табл.2, постройте
графики функций:
,
подобные рис.1.
2). Руководствуясь выражениями (2), (3) и ВАХ, для всех температур, рассчитайте:
- статическое сопротивление (сопротивление p-n-перехода постоянному току);
- дифференциальное сопротивление (сопротивление p-n-перехода переменному току).
Данные, используемые в ходе расчетов, показать на ВАХ, результаты расчетов занести в таблицу №2.
3). Руководствуясь выражением (1), (4) и данными таблицы №1, рассчитайте коэффициент выпрямления p-n-перехода (при U = ±1,2·U* B) для Ge, Si, AsGa при t=18oC;T=291oK. Результаты вычислений занести в таблицу №3.
Табл.№3
Материал |
|
U* , В |
Iпр, мА |
Rпр, Ом |
Iобр, мкА |
Rобр, МОм |
Кв |
Ge |
|
|
|
|
|
|
|
Si |
|
|
|
|
|
|
|
AsGa |
|
|
|
|
|
|
|
4). По
данным таблицы №2 постройте графики
функций
,
подобные рис.2.
5). По
данным таблицы №3 постройте графики
функций:
,
подобные рис.3;
подобный рис.4.
6). Сделайте выводы:
