- •1. Тема: Исследование температурной зависимости электросо- противления p-n-перехода
- •Типовая зависимость электросопротивления p-n-перехода от температуры приведена на рисунке 2.
- •Типовая зависимость электросопротивления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны (типа материала) приведена на рисунке 3.
- •Типовая зависимость коэффициента выпрямления p-n-перехода от ширины запрещенной зоны (типа материала) приведена на рисунке 4.
- •6. Литература:
- •7. Контрольные вопросы:
- •8. Методические рекомендации по проведению исследований:
- •- О температурной зависимости электросопротивления p-n-перехода;
- •9. Содержание отчета:
1. Тема: Исследование температурной зависимости электросо- противления p-n-перехода
2. Цель работы:
- экспериментальное исследование параметров и характеристик p-n-перехода;
- приобретение практических навыков работы с электронно-вычислительной техникой.
3. Исходные данные:
-модель p-n-перехода реализована в среде программирования Electronics Workbench.
4. Программное обеспечение:
среда программирования Electronics Workbench, Mathcad, Excel программные модули лабораторной работы.
5. Теория:
Зависимость величины тока через переход от приложенного напряжения при различных температурах и типах материала отражают вольтамперные характеристики, рис.1.
Рис.1
Приведенные кривые соответствуют:
1). 1 - Т1; 2 -Т2; 3 - Т3, причем Т1>T2>T3 для одного типа материала;
2). 1- Ge; 2 - Si; 3 – AsGa.
В общем случае, для описания ВАХ используют выражение (1)
(1)
где
–
температурный потенциал;
U - напряжение прикладываемое к переходу;
эВ/К–
постоянная Больцмана;
термодинамическая
температура;
– коэффициент
инжекции, в зависимости от типа материала
;
G – проводимость утечки, определяется поверхностным состоянием p-n перехода;
I0 – тепловой ток, который зависит от температуры и определяется свойствами полупроводникового материала, из которого изготовлен переход.
Типовыми значениями указанных параметров являются:
Табл.№1
Тип материала |
[t=-20oC; T=253K] |
, А [t=18oC; T=291K] |
, А [t=80oC; T=353K] |
|
G, См |
Ge |
|
|
|
1,7 |
|
Si |
|
|
|
1,7 |
|
AsGa |
|
|
|
1,9 |
|
Тепловой ток I0 определяется соотношением:
S – площадь перехода;
коэффициент
диффузии неосновных носителей заряда,
соответственно дырок в n-области
перехода и электронов в p-области;
диффузионная
длина неосновных носителей заряда;
и
- концентрации неосновных носителей
заряда.
Концентрации неосновных носителей определяются из закона термодинамического равновесия.
Для
полупроводников р-типа
Для
полупроводников n-типа
Величина
является одной из важнейших характеристик
полупроводникового материала, она
определяет концентрацию свободных
носителей заряда (электронов и дырок)
в собственном (беспримесном) полупроводнике.
Для
характерна сильно выраженная температурная
зависимость, которая определяется
соотношением:
где
ширина запрещенной зоны полупроводника,
принимающая значения:
эВ;
эВ;
эВ.
Nc,v - эффективные плотности состояний в зоне проводимости и валентной зоне полупроводника соответственно.
В общем случае, p-n-переход характеризует:
1). Статическое сопротивление (сопротивление p-n-перехода постоянному току).
(2)
2). Дифференциальное сопротивление (сопротивление p-n-перехода переменному току).
(3)
3). Коэффициент выпрямления
,
при U
=
1,2·U*
В. (4)
где U* - напряжение открытого перехода при комнатной температуре в нормальном режиме, для кремния U* = 0,75 В.
