- •1) Электронные приборы; токи в полупроводниках.
- •2)Электронно-дырочный переход
- •3)P-n-переход: распределение заряда; явления при подаче внешнего напряжения; вах;
- •4)Полупроводниковые диоды
- •5.1) Механизмы возникновения пробоев в полупроводниках
- •5.2) Механизмы возникновения пробоев в полупроводниках
- •6)Выпрямительные диоды
- •7.1) Стабилитроны, Варикапы
- •7.2) Стабилитроны, Варикапы
- •8)Бт (токи в бт)
- •9) Статические характеристики в схемах с об и оэ
- •10) Дифференциальные параметры бт. Системы параметров
- •11) Частотные свойства бт
- •12) Пт с управляемым p-n-переходом и каналом n-типа
- •13)Пт с изолированным затвором и индуцированным каналом
- •14) Пт с изолированным затвором и встроенным каналом
- •15) Статистические параметры пт
- •16)Усилители; Искажение сигнала
- •17) Способы обеспечения режима по постоянному току усилительных каскадов
- •18.1)Режимы работы усилительных каскадов
- •18.2)Режимы работы усилительных каскадов
- •19) Обратные связи усилительных каскадов
- •20)Каскады предварительного усиления
- •21)Усилители постоянного тока
- •22) Дифференциальные усилители
- •23) Операционные усилители; Параметры оу
- •25)Электронные ключи; Ключи на бт с диодом Шотки
- •26) Ключи на пт
- •27)Алгебра логики
- •28)Диодно-транзисторная логика
- •29)Транзисторно-транзисторная логика
- •30)Логика на пт
- •31)Кмоп логика
- •32) Эмиттерно-связанная логика
- •33)Интегрально-инжекционная логика
- •34) Параметры логических элементов
- •35) Rs триггер(асинхронный, синхронный)
- •36) Триггеры: d, t,jk
3)P-n-переход: распределение заряда; явления при подаче внешнего напряжения; вах;
Внешнее электрическое поле изменяет высоту барьера и нарушает равновесие потоков носителей тока через барьер. Если положительный потенциал приложен к p-области, то потенциальный барьер понижается (прямое смещение). В этом случае с ростом приложенного напряжения экспоненциально возрастает число основных носителей, способных преодолеть барьер. Как только эти носители миновали p — n-переход, они становятся неосновными. Поэтому концентрация неосновных носителей по обе стороны перехода увеличивается (инжекция неосновных носителей). Одновременно в p- и n-областях через контакты входят равные количества основных носителей, вызывающих компенсацию зарядов инжектированных носителей. В результате возрастает скорость рекомбинации и появляется отличный от нуля ток через переход, который с ростом напряжения экспоненциально возрастает.Приложение отрицательного потенциала к p-области (обратное смещение) приводит к повышению потенциального барьера. Диффузия основных носителей через переход становится пренебрежимо малой. В то же время потоки неосновных носителей не изменяются (для них барьера не существует). Неосновные носители заряда втягиваются электрическим полем в p — n-переход и проходят через него в соседнюю область (экстракция неосновных носителей). Потоки неосновных носителей определяются скоростью тепловой генерации электронно-дырочных пар. Эти пары диффундируют к барьеру и разделяются его полем, в результате чего через p — n-переход течёт ток Is (ток насыщения), который обычно мал и почти не зависит от напряжения. Таким образом, вольт-амперная характеристика p — n-перехода обладает резко выраженной нелинейностью. При изменении знака U значение тока через переход может изменяться в 105 — 106 раз. Благодаря этому p — n-переход может использоваться для выпрямления переменных токов (диод).
4)Полупроводниковые диоды
Полупроводниковым диодом называют электропреобразовательный прибор с одним (или несколькими) выпрямляющим электрическим переходом и двумя омическими выводами для подключения к внешней цепи. Принцип работы большинства диодов основан на использовании физических явлений в p-n-переходе.
Диоды классифицируются: по материалу (германиевые, кремниевые, арсенид-галлиевые); структуре перехода (точечные, плоскостные); назначению (выпрямительные, импульсные, стабилитроны и т.д.); диапазону частот (низко- и высокочастотные); виду вольт-амперной характеристики и т.д.
В зависимости от технологических процессов, используемых при изготовлении диодов, различают: сплавные, диффузионные, планарно-эпитаксиальные диоды и их разновидности. Устройство полупроводникового диода, изготовленного по планарно-эпитаксиальной технологии, приведено на рисунке

Большинство полупроводниковых диодов выполняют на основе несимметричных p-n-переходов. В качестве структурных элементов диодов используют такжеp-i-,n-i-переходы, переходы металл-полупроводник,p+-p-,p+-n-переходы, гетеропереходы. Изготовляются также диоды сp‑i‑n‑,p+-p-n- иn+-n-p-структурами.
Вся структура с электрическим переходом заключается в металлический, стеклянный, керамический или пластмассовый корпус для исключения влияния окружающей среды. Полупроводниковые диоды изготовляются как в дискретном, так и в интегральном исполнении. Для маркировки полупроводниковых диодов используется буквенно-цифровая система условных обозначений согласно ГОСТ 11.336.919-81.
