Содержание отчёта

1. Название и цель лабораторной работы.

2. Индивидуальное задание.

3. VHDL-описание подсистемы памяти для реализации на базе распре­делённой памяти ПЛИС.

4. VHDL-описание подсистемы памяти для реализации на базе блочной памяти ПЛИС.

5. Описание методики тестирования подсистемы памяти.

6. Набор тестовых воздействий и временные диаграммы работы подси­стемы памяти в режиме функционального моделирования для распреде­лённой и блочной памяти.

7. Набор тестовых воздействий и временные диаграммы работы подси­стемы в режиме временного моделирования для распределённой и блоч­ной памяти.

8. Схема размещения обеих реализаций подсистемы памяти на кри­сталле.

9. Отчёт об использовании аппаратных ресурсов ПЛИС для обеих ре­ализаций подсистемы памяти.

10. Заключение по лабораторной работе.

Контрольные вопросы

1. Какие ресурсы ПЛИС используются при реализации подсистем памяти?

2. В чем разница между распределённой и блочной памятью? В чем преиму­щества и недостатки каждого из вариантов реализации памяти?

3. В чем отличия между синхронной и асинхронной памятью? Какие спосо­бы организации памяти вы знаете?

4. Сформулируйте особенности реализации подсистемы памяти с произволь­ным и с последовательным доступом.

5. Сформулируйте принципы составления методики тестирования для про­верки работоспособности подсистемы памяти.