- •Напівпровідникові лазери
- •1. Спонтанне випромінювання, індуковане випромінювання і поглинання
- •2. Умова існування від’ємної температури в прямозонних напівпровідниках
- •Відмінні особливості напівпровідникових лазерів
- •Методи одержання станів з від’ємною температурою в напівпровідниках
- •Збудження напівпровідникових матеріалів від імпульсу електричного поля
- •3. Метод електронного збудження
- •4. Метод інжекції
- •Резонатори
- •Лазери з накачкою електронним пучком
- •Гетероструктурні лазери: лазери з одинарним гетеропереходом; лазери з подвійною гетероструктурою
- •Структура гетерограниць
- •Блакитні гетероструктурні напівпровідникові світлодіоди та лазери на базі GaN (нітридів елементів ііі групи)
2. Умова існування від’ємної температури в прямозонних напівпровідниках
Відмінною рисою напівпровідника є те, що в ньому взаємодіяти з електромагнітним випромінюванням можуть не тільки два вузьких енергетичних рівні (як у випадку лазерів на іонних кристалах і стеклах), але і цілий спектр енергетичних рівнів.
Розглянемо
процес підсилення електромагнітного
випромінювання частотою
(фотон з енергією h)
у випадку міжзонних переходів у
прямозонному напівпровіднику. На рис.
2 наведені два енергетичних стани: один
2 в зоні провідності, другий 1 –у валентній
зоні; відстань між якими за частотою
дорівнює .
Уведемо функцію розподілу електронів
за енергіями f(Ei),
а число фотонів з енергією h
в напівпровіднику позначимо
.
Тоді
для зміни числа фотонів
за рахунок взаємодії тільки з станами
2, 1 можна написати наступне рівняння:
,
(13)
д
е
с(Е2)
і υ(Е1)
– густини станів у зоні провідності і
валентній зоні; fс(Е2)
і fυ(Е1)
– функції розподілу електронів і дірок
за енергіями.
В
рівнянні (13) швидкість зміни числа
фотонів
визначається швидкістю поступлення
фотонів в результаті індукованого
випромінювання (перший член правої
частини зі знаком “+”) і швидкістю
поглинання фотонів в напівпровіднику
(другий член правої частини зі знаком
“”).
Швидкість зміни числа фотонів за рахунок
індукованого випромінювання для переходу
2
1 пропорційна імовірності заселення
стану 2 в зоні провідності електроном
fс(Е2)
, імовірності відсутності електрона в
стані 1 у валентній зоні 1-
fυ(Е1)
, густинам станів рівнів 2 і 1, тобто
с(Е2)
і υ(Е1),
і числу фотонів на частоті (
).
Інакше кажучи, швидкість зміни числа
фотонів за рахунок індукованого
випромінювання пропорційна добутку
.
Швидкість
зміни числа фотонів за рахунок поглинання
(перехід 1
2) пропорційна імовірності находження
електрона у стані 2 в зоні провідності
,
густині
стані υ(E1)
i с(Е2)
і числу фотонів
, тобто пропорційна добутку
.
У
рівнянні (13) кожний член правої частини
має також множник пропорційний
,
однаковий для обох членів.
Умова того, що на переході 2 1 напівпровідник підсилює випромінювання, яке проходить через нього, така > 0. Ця умова приймає вигляд:
>
0,
(14)
який можна представити нерівністю:
>
0,
(15)
або
>
0
(16)
На рис.2 показаний і другий перехід (2/ 1/), для якого відстань за частотою між рівнями також дорівнює . Якщо розглядати підсилення електромагнітного поля тільки на цьому переході, то умову підсилення можна записати у вигляді нерівності, аналогічній (15).
Проте
необхідно врахувати, що в напівпровіднику
в процесі взаємодії з електромагнітним
випромінюванням частотою
може приймати участь велике число станів
у зоні провідності і валентній зоні.
Тоді в правій частині рівняння (13)
необхідно провести інтегрування за
всіма станами і
та j,
для яких відстань за частотою
(на рис. 2 показані тільки дві пари
станів). Якщо врахувати, що множник
пропорційності
,
входить у праву частину рівняння (13),
однаковий для всіх пар станів і,
j
, то замість правої частини рівняння
(10) одержимо:
.
(17)
Очевидно, що для підсилення електромагнітного випромінювання напівпровідником, як це випливає із (17), необхідно, щоб
>
0.
(18)
Умова (18) може виконуватися і в тому випадку коли для деяких пар станів умова (15) не виконується. Якщо ж умова (15) виконується для всіх пар станів, за якими здійснюється інтегрування, то умова (18) тим більше виконується.
Відомо, що функція розподілу f(E) електронів в напівпровіднику за власними станами при тепловій рівновазі визначається розподілом Фермі-Дірака:
, (19)
де E – енергія власного стану; EF – енергія Фермі; k – стала Больцмана; Т – абсолютна температура.
Використовуючи розподіл (19) покажемо, що умову (16) можна розглядати як умову існування від’ємної температури між станами 2 і 1. Дійсно, нехай стан 2 належить до зони провідності, а стан 1 – до валентної зони (E2 > E1). Тоді, використовуючи розподіл (19), умову (17) можна записати у вигляді:
>
0. (20)
Щоб
ця умова виконувалась, необхідно щоб
другий член в круглих дужках був менший
за перший. Отже, величина
повинна бути більша за одиницю. Так як
E1
– E2
< 0, то це може бути лише при Т
< 0 . Тоді
>
0 і
> 1 (21)
Підкреслимо ще раз, говорячи про умови (16) і (19), що створення від’ємної температури для всієї сукупності станів приводить до автоматичного виконання умови підсилення електромагнітного випромінювання частотою напівпровідником. Проте підсилення в напівпровіднику може здійснюватись і тоді, коли з випромінюванням частотою взаємодіють не тільки стани, між якими існує від’ємна температура, але й стани, які характеризуються додатною температурою. В цьому і полягає принципова відмінність між напівпровідниками та іншими активними середовищами.
Розглянемо
напівпровідниковий матеріал в якому
створено нерівноважний розподіл носіїв.
Внаслідок сильної взаємодії з граткою
розподіли електронів і дірок взяті
окремо, швидко приходять в стан теплової
рівноваги з кристалічною граткою, але
рівновага між електронами і дірками
порушена. У цьому випадку розподіл
носіїв за енергіями, як і при рівноважному
розподілі, за звичай теж можна описувати
розподілом Фермі-Дірака, але замість
рівня Фермі EF
необхідно ввести два різних квазірівні
Фермі:
-
для електронів і
- для дірок.
Тоді функції розподілу електронів у зоні провідності fc(E) і у валентній зоні fυ(E) набувають вигляду:
,
,
(22)
а умова існування від’ємної температури (17) виконується , якщо
<
або
-
>
Ec–
Eυ.
(23)
Енергія випромінюваних фотонів h в прямозонному напівпровіднику дорівнює відстані між розглядуваними станами в зонах h = Ec – Eυ. Тому умовою існування від’ємної температури в прямозонному напівпровіднику при міжзонних переходах є нерівність:
– > h. (24)
Так як у випадку між зонних переходів мінімальна енергія випромінювального фотона дорівнює ширині забороненої зони (Eg), то умова (24) може бути записана так:
– > Eg (25)
Ця умова визначає мінімальну відстань між квазірівнями Фермі, при якій в напівпровіднику може виникати від’ємна температура. Якщо електронний квазірівень Фермі лежить в зоні провідності, а дірковий у валентній зоні, то відстань між ними більша за ширину забороненої зони, і в напівпровіднику виникає від’ємна температура. Таке розташування квазірівнів Фермі реалізується у випадку інжекції носіїв заряду через вироджений p-n-перехід.
Отже, при прямих міжзонних переходах основною умовою інверсної заселеності у напівпровідниках є вимога, щоб відстань між квазірівнями Фермі електронів і дірок була більшою за величину забороненої зони.
