- •ПОЛИМЕР
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Инструменталь ные подходы
- •1. Спектральные методы исследования.
- •Электронная микроскопия
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Др. Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов Электронная микроскопия
- •Тохир Х.Рахимов Электронная микроскопия
- •Электронная микроскопия
- •Электронная микроскопия
- •Тохир Х.Рахимов Электронная микроскопия
- •Тохир Х.Рахимов Электронная микроскопия
- •Электронная микроскопия
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
- •Тохир Х.Рахимов
ПОЛИМЕР
НАНОМАТЕРИАЛЛАР
МИКРОСТРУКТУРАС
И
Маърузалар
Тохир Х.Рахимов
Тохир Х.Рахимов |
ОБЩАЯ КЛАССИФИКАЦИЯ МЕТОДОВ |
specificity
• Increased resolution |
|
requirements for |
|
methods, |
|
• the ability to explore |
|
surface areas of |
|
samples with sizes less |
|
than 100-200 nm. |
Др. Тохир Х.Рахимов |
Тохир Х.Рахимов |
ОБЩАЯ КЛАССИФИКАЦИЯ МЕТОДОВ |
специфика
•Повышенные требования к разрешающей способности методов,
•возможность исследовать участки поверхности образцов с размерами менее 100-200 нм.
Др. Тохир Х.Рахимов
Инструменталь ные подходы
•электронные
микроскопы,
•зондовые атомно- силовые и туннельные микроскопы,
•системы широко- и малоуглового рентгеновского рассеяния
Др. Тохир Х.Рахимов
1. Спектральные методы исследования. |
||||
Электронная Оже- |
Масс-спектроскопия |
Лазерный |
Метод рентгеновской |
|
микрозондовый |
фотоэлектронной |
|||
спектроскопш (ЭОС) |
вторичных ионов |
|||
анализ |
спектроскопии |
|||
|
|
2. Электронная микроскопия.
Просвечивающая электронная микроскопия |
Растровая электронная микроскопия (РЭМ) |
3. Сканирующие зондовые методы исследования
|
|
|
|
Сканирующая туннельная |
Магнитосиловая зондовая |
Сканирующая микроскопия |
|
ближней оптической зоны |
|||
микроскопия (СТМ) |
микроскопия (МСМ) |
||
(SNOM) |
|||
|
|
Др. Тохир Х.Рахимов
Электронная микроскопия |
МЕТОДЫ ОПТИЧЕСКОЙ МИКРОСКОПИИ |
СТАЦИОНАРНАЯ И КИНЕТИЧЕСКАЯ |
|
Сканирующая туннельная и атомно-силовая |
НАНОСТРУКТУР |
СПЕКТРОСКОПИЯ НАНОСТРУКТУР |
|
микроскопия |
Оптическая микроскопия наноструктур |
Измерение параметров электронной |
|
Традиционная оптическая микроскопия |
|||
Малоугловое рентгеновское рассеяние, |
энергетической структуры наночастиц |
||
Методы светлого и темного поля, фазового и |
|||
рентгенофазовый анализ |
интерференционного контрастов |
Методы абсорбционной спектроскопии |
|
Спектроскопия низкочастотного |
Поляризационная микроскопия анизотропных |
Методы люминесцентного анализа |
|
комбинационного рассеяния света |
материалов |
Метод заполнения электронных |
|
Методы оптической характеризации химического |
Люминесцентная микроскопия, Люминесцентные |
состояний |
|
лазерные сканирующие микроскопы |
|||
состава, электронной и колебательной |
Конфокальная люминесцентная микроскопия |
Анализ спектров возбуждения |
|
энергетической структуры нанообъектов |
Техника микрофлюориметрии и |
люминесценции |
|
Абсорбционно-люминесцентная спектроскопия |
микрокомбинационного рассеяния света |
Размерно-селективные |
|
Спектроскопия комбинационного рассеяния света |
Ближнепольная оптическая микроскопия |
люминесцентные методы |
|
Ближнепольная сканирующая оптическая |
Апертурная БСОМ Безапертурная БСОМ |
Особенности комбинационного |
|
Усиленное острием комбинационное рассеяние |
|||
микроскопия |
нанообъектов (TERS-спектроскопия) |
рассеяния света наноструктурами |
|
Просвечивающая электронная микроскопия |
СТАЦИОНАРНАЯ И КИНЕТИЧЕСКАЯ |
Физические основы комбинационного |
|
рассеяния света |
|||
Сканирующая электронная микроскопия |
СПЕКТРОСКОПИЯ |
Нерезонансное комбинационное |
|
Измерение параметров электронной энергетической |
|||
Химический анализ нанообъектов с помощью |
рассеяние, классическое описание |
||
структуры наночастиц |
|||
электронных микроскопов |
Методы абсорбционной спектроскопии |
Нерезонансное комбинационное |
|
Сканирующая зондовая микроскопия |
Выжигание долгоживущих спектральных провалов в |
рассеяние, основы квантового описания |
|
неоднородно уширенном спектре поглощения |
Резонансное комбинационное |
||
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) |
Методы люминесцентного анализа |
||
рассеяние |
|||
Физические принципы работы СТМ |
Метод заполнения электронных состояний |
||
Спектры возбуждения резонансного |
|||
Принцип работы туннельной ячейки СТМ |
Анализ спектров возбуждения люминесценции |
||
Размерно-селективные люминесцентные методы |
комбинационного рассеяния и их |
||
Формирование и обработка изображений в |
|||
|
использование для изучения |
||
зондовой микроскопии |
Особенности комбинационного рассеяния света |
||
электронной структуры квантовых |
|||
Примеры применения СТМ, предельно |
наноструктурами |
||
нанокристаллов |
|||
достижимые параметры, уникальные |
Резонансное комбинационное рассеяние |
||
Низкочастотное комбинационное |
|||
исследования |
Спектры возбуждения резонансного комбинационного |
||
рассеяния и их использование для изучения |
рассеяние на акустических фононах - |
||
Атомно-силовая микроскопия |
|||
электронной структуры квантовых нанокристаллов |
определение размеров нанокристаллов |
||
|
|||
Методы рентгеновской диагностики наноструктур |
Особенности фононного спектра нанокристаллов |
Методы и техника исследования |
|
Низкочастотное комбинационное рассеяние на |
|||
динамики электронных возбуждений |
|||
Рентгеновский фазовый анализ |
акустических фононах - определение размеров |
||
|
|||
Малоугловое рентгеновское рассеяние |
нанокристаллов |
|
|
Методы и техника исследования динамики |
|
||
|
|
||
|
электронных возбуждений |
|
Тохир Х.Рахимов |
СПЕКТРОСКОПИЯ |
|
Др. Тохир Х.Рахимов
Тохир Х.Рахимов
Др. Тохир Х.Рахимов