- •Введение
- •Обзор topas
- •Сравнение topas и topas p
- •Функции topas
- •Пользовательский интерфейс и режим запуска
- •Функции, доступные в gui-режиме и режиме запуска
- •Справочная информация по использованию topas
- •Элементы пользовательского интерфейса
- •Окно параметров
- •Окно сканирования
- •Общая функциональность в gui-режиме и режиме запуска
- •Отображение
- •Ограничения оси y, масштабирование, прокрутка и выделение
- •Функции меню быстрого доступа
- •Функции, доступные только в gui-режиме
- •Окна, относящиеся к окну сканирования
- •Окно быстрого масштабирования
- •Окно круговой диаграммы процентного соотношения весов
- •Диалоговое окно параметров диаграммы
- •Диалоговое окно параметров диаграммы
- •Диалоговое окно поиска пиков Примечание. Только в gui-режиме
- •Диалоговое окно поиска пиков
- •Диалоговое окно с подробной информацией о пиках Примечание. Только в gui-режиме
- •Диалоговое окно с подробной информацией о пиках
- •Диалоговое окно настроек
- •Диалоговое окно настроек
- •Insert Peak («Вставка пика»)
- •Окно подбора
- •Окно подбора
- •Interface Mode («Режим пользовательского интерфейса»)
- •Verbose mode for Kernel output («Расширенный вывод информации для вывода ядра»)
- •Interface and Launch Mode («Режим пользовательского интерфейса и режим запуска»)
- •Окно параметров
- •Элементы окна параметров
- •Для получения подробной информации обо всех параметрах уточнения и атрибутах параметров обратитесь к техническому справочному руководству.
- •Отображение в виде дерева
- •Элементы страницы таблицы
- •Value («Значение»)
- •Выделение в таблице
- •Экспорт данных таблицы
- •Импорт данных таблицы
- •Страницы формата отчета и текста
- •Элементы дерева и соответствующие им страницы таблицы данных
- •Элемент Global
- •Элементы Range
- •Профиль излучения
- •Инструмент
- •Страница Divergent beam («Расходящийся пучок»):
- •Страница дополнительной свертки:
- •Коррекции Страница коррекций:
- •Страница Cylindrical Sample (Sabine) («Цилиндрический образец, Сэбин»):
- •Фаза пика
- •Фаза hkl
- •Структура Примечание.Недоступно в topas p
- •View/Hide Structure («Показать/скрыть структуру»)
- •Элемент Sites
- •Несоблюдение этого правила может привести к серьезным ошибкам в результатах уточнения.
- •Элемент Preferred Orientation
- •Элемент Str Output
- •Structures / hkl Phases («Структуры/фазы hkl»)
- •Страница Values
- •Индицирование
- •Множественные уточнения по методу Поули / Ле Бейля
- •Печать и отчеты
- •Просмотр структуры Примечание. Недоступно в topas p
- •Isolate atom / polyhedra under mouse («Изолировать атом/многогранник под мышью»)
- •Редактор жесткого тела Примечание. Недоступно в topas p
- •Редактор жесткого тела
- •Окно справки
- •Окно справки
- •Работа в gui-режиме и режиме запуска
- •Список литературы
Профиль излучения
Дает возможность добавлять и удалять линии излучения (рис. 4-3), создающие профиль излучения для источника рентгеновского излучения.
Страница Options («Настройки») содержит следующие функции:
Функция |
Комментарии |
|
Определяет размер X, по которому вычисляются границы пика (обрезание графика) |
|
Определяет профиль излучения, независимый от 2Θ. Позволяет использовать нерентгеновские данные или подбор для отрицательных значений 2Θ. |
|
Переключат курсор мыши на режим нескольких линий для представления различных линий излучения для текущего профиля излучения (рис. 4-4) |
|
Только для опытных пользователей. Обратитесь к техническому справочному руководству. |
|
Только для опытных пользователей. Обратитесь к техническому справочному руководству |
Элемент профиля излучения с соответствующей таблицей данных, где показан список линий излучения для текущего профиля излучения (в данном случае, CuKa5)
При включении функции For Lam cursor курсор с несколькими линиями показывает различные линии излучения для текущего профиля излучения (в данном случае, CuKa5)
Меню быстрого доступа профиля излучения предоставляет следующие функции:
Load Emission Profile («Загрузить профиль излучения»)
Save Emission Profile («Сохранить профиль излучения»)
Add Emission Line («Добавить линию излучения»)
Paste INP to Node/Selections («Вставить INP в элементы/выделенное»)
Поддерживает вставку информации из данных в формате INP в буфере обмена.
Выбранные строки излучения можно удалить с помощью клавиши DEL.
Для лабораторных дифрактометров выбор заранее заданных профилей излучения доступен в папке LAM, в которой есть большинство распространенных материалов анода.
Для других материалов, а также для синхротронных и нейтронных источников необходимо определить правильных профиль излучения. Для точности работы необходимо уточнить форму профиля излучения, используя, например, стандарт the NIST SRM 660a (LaB6).
Фон
Используются две фоновых функции (рис. 4-5): полином Чебышева любого порядка и функция 1/X.
Элемент Background и соответствующая таблица данных
Меню быстрого доступа элемента Background предоставляет следующие функции:
Paste INP to Node/Selections («Вставить INP в элементы/выделенное»)
Поддерживает вставку информации из данных в формате INP в буфере обмена.
