Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
DOC-M88-EXX065 V4-2 DIFFRACplus TOPAS User Manu...docx
Скачиваний:
1
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
6.89 Mб
Скачать
        1. Профиль излучения

Дает возможность добавлять и удалять линии излучения (рис. 4-3), создающие профиль излучения для источника рентгеновского излучения.

Страница Options («Настройки») содержит следующие функции:

Функция

Комментарии

  • Ymin on Ymax

Определяет размер X, по которому вычисляются границы пика (обрезание графика)

  • No Th dependence

Определяет профиль излучения, независимый от 2Θ. Позволяет использовать нерентгеновские данные или подбор для отрицательных значений 2Θ.

  • For LAM cursor

Переключат курсор мыши на режим нескольких линий для представления различных линий излучения для текущего профиля излучения (рис. 4-4)

  • Lam for Bragg angle

Только для опытных пользователей. Обратитесь к техническому справочному руководству.

  • Calculate Lam

Только для опытных пользователей. Обратитесь к техническому справочному руководству

                  1. Элемент профиля излучения с соответствующей таблицей данных, где показан список линий излучения для текущего профиля излучения (в данном случае, CuKa5)

                  1. При включении функции For Lam cursor курсор с несколькими линиями показывает различные линии излучения для текущего профиля излучения (в данном случае, CuKa5)

Меню быстрого доступа профиля излучения предоставляет следующие функции:

  • Load Emission Profile («Загрузить профиль излучения»)

  • Save Emission Profile («Сохранить профиль излучения»)

  • Add Emission Line («Добавить линию излучения»)

  • Paste INP to Node/Selections («Вставить INP в элементы/выделенное»)

Поддерживает вставку информации из данных в формате INP в буфере обмена.

Выбранные строки излучения можно удалить с помощью клавиши DEL.

Для лабораторных дифрактометров выбор заранее заданных профилей излучения доступен в папке LAM, в которой есть большинство распространенных материалов анода.

Для других материалов, а также для синхротронных и нейтронных источников необходимо определить правильных профиль излучения. Для точности работы необходимо уточнить форму профиля излучения, используя, например, стандарт the NIST SRM 660a (LaB6).

        1. Фон

Используются две фоновых функции (рис. 4-5): полином Чебышева любого порядка и функция 1/X.

                  1. Элемент Background и соответствующая таблица данных

Меню быстрого доступа элемента Background предоставляет следующие функции:

  • Paste INP to Node/Selections («Вставить INP в элементы/выделенное»)

Поддерживает вставку информации из данных в формате INP в буфере обмена.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]