- •Частина і. Базові визначення, параметри та характеристики електронних систем
- •Електричні інформаційні сигнали та типові системи їх обробки
- •Частина іі. Активні компоненти електронних систем
- •Електронно-дірковий перехід - базова напівпровідникова структура твердотілих компонентів
- •Напівпровідникові діоди та їх використання
- •Біполярні транзистори
- •Польові транзистори
- •Інтегральні мікросхеми
- •Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •Частина ііі. Функціональні пристрої електронних систем
- •Електронні підсилювачі
- •Генератори незатухаючих електричних коливань та формувачі імпульсів
- •Вторинні джерела живлення
- •Передмова
- •1.2 Компоненти електронних систем
- •1.2.1 Класифікація
- •1.2.2 Пасивні компоненти
- •1.2.3 Активні компоненти – електронні прилади
- •1.3 Типові процеси обробки еіс
- •1.4 Аналіз електронних пристроїв за постійним струмом,
- •1.5 Відносні та логарифмічні коефіцієнти підсилення
- •1.6 Типові схемні елементи електронних систем
- •1.6.1 Класифікація
- •1.6.2 Подільники напруги
- •1.6.3 Генератори напруги та струму
- •1.6.4 Моделювання електронних пристроїв
- •1.6.5 Дослідження диференціюючих rc-схем
- •1.6.5.2 Амплітудно-частотна характеристика диференціюючих схем
- •6.6 Дослідження інтегруючих rc-схем
- •1.6.6.2 Амплітудно-частотна характеристика інтегруючих схем
- •1.7 Радіотехніка, електроніка та радіоелектроніка
- •1.8 Аналогові та цифрові системи
- •1.9 Нова філософія сучасної техніки
- •1.10 Початкові засади електроніки та схемотехніки
- •1.11 Поточний самоконтроль
- •1.11.1 Завдання для дослідження схем в ms
- •1.11.2 Контрольні запитання
- •Частина іі. Активні компоненти електронних систем Розділ 2. Електронно-дірковий перехід – базова напівпровідникова структура твердотілих компонентів
- •2.1 Класифікація речовин за провідністю
- •2.2 Дрейфовий та дифузійний струми власних напівпровідників
- •2.3 Домішкові напівпровідники
- •2.4 Визначення та класифікація електричних переходів
- •2.5 Електронно-дірковий перехід в стані рівноваги
- •2.6 Пряме та зворотне вмикання едп
- •2.7 Вольт-амперна характеристика ідеалізованого едп
- •2.8 Ємнісні властивості p-n переходу
- •2.9 Пробій p-n переходу
- •2.10 Перехід метал-напівпровідник
- •2.11 Особливості р-n переходів та їх використання для побудови компонентів електронних систем
- •2.12 Поточний самоконтроль
- •2.12.1 Тестові контрольні запитання.
- •Розділ 3. Напівпровідникові діоди та їх використання
- •3.1 Визначення, структура та класифікація
- •3.2 Вольт-амперна характеристика нд
- •3.3 Параметри нд
- •3.4 Електрична модель та частотні властивості нд
- •3.5 Основні види пробою нд
- •3.6 Основні типи діодів та електронні пристрої на їх основі
- •3.6.1 Випрямні діоди та випрямлячі
- •3.6.2 Високочастотні діоди
- •3.6.3 Імпульсні діоди та ключі
- •3.6.4 Напівпровідникові стабілітрони
- •3.6.5 Обмежувачі амплітуди
- •3.6.6 Варикапи та пристрої електронного регулювання частоти
- •3.8 Діоди Шотткі
- •3.8 Поточний самоконтроль
- •3.8.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •3.8.2 Контрольні запитання
- •Розділ 4. Біполярні транзистори
- •4.1 Структури, режими та схеми вмикання
- •4.2 Фізичні процеси в бт
- •4.3 Статичні характеристики бт
- •4.3.1 Статичні характеристики бт із се
- •4.3.2 Статичні характеристики бт із сб
- •4.4 Температурний дрейф характеристик бт
- •4.5 Підсилення потужності еіс за допомогою бт
- •4.6 Графоаналітичний метод аналізу та розрахунку
- •4.7 Динамічні властивості бт
- •4.8 Ключовий режим бт
- •4.9 Порівняльний аналіз трьох схем вмикання бт
- •4.10 Власні шуми та шумові параметри транзисторів
- •4.11 Температурний режим та пробій бт
- •4.12 Основні типи бт
- •4.13 Поточний самоконтроль
- •4.13.1 Завдання для моделювання та дослідження схем
- •4.13.2 Контрольні запитання
- •Розділ 5. Польові транзистори
- •5.1 Типи польових транзисторів
- •5.2 Польовий транзистор з керувальним p-n‑переходом
- •5.3 Підсилювач з автоматичним зміщенням на пт
- •5.4 Польові транзистори з ізольованими затворами
- •5.5 Ключовий режим мдн-транзисторів
- •5.6 Температурні залежності та шуми пт
- •5.7 Класифікація та особливості використання пт
- •5.8 Порівняння польових та біполярних транзисторів
- •5.9 Поточний самоконтроль
- •5.9.2 Контрольні запитання
- •Розділ 6. Інтегральні мікросхеми
- •6.1 Особливості імс як активних компонентів
- •6.2 Класифікація інтегральних мікросхем
- •6.3 Аналогові інтегральні мікросхеми
- •6.3.1 Основні типи аіс
- •6.3.2 Схеми стабілізації режиму а іс
- •6.3.3 Схеми зсуву рівнів напруг
- •6.4 Однокаскадні багатоцільові підсилювачі
- •6.5 Диференціальні підсилювачі
- •6.6 Операційні підсилювачі
- •6.6.1 Особливості оп
- •6.6.2 Інвертувальна схема вмикання оп
- •6.6.3 Неінвертувальна схема вмикання оп
- •6.6.4 Імпульсний режим оп
- •6.7 Поточний самоконтроль
- •6.7.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •6.7.2 Контрольні запитання
- •Розділ 7. Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •7.1 Особливості оптоелектроніки
- •7.2 Джерела оптичного випромінювання
- •7.2.1 Люмінесценція
- •7.2.2. Електролюмінесцентні індикатори
- •7.2.3 Випромінювальні діоди
- •7.3 Фотоелектричні напівпровідникові
- •7.3.1 Внутрішній фотоефект
- •7.3.2 Фоторезистори
- •7.3.3 Фотодіоди
- •7.3.4 Фототранзистори
- •7.4 Оптрони та оптоелектронні імс
- •7.5 Поточний самоконтроль
- •7.5.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •7.5.2 Контрольні запитання
- •Частина ііі. Функціональні пристрої електронних систем Розділ 8. Електронні підсилювачі
- •8.1 Визначення, структурні схеми
- •8.2 Основні характеристики та параметри еп
- •8.3 Підсилювачі з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.3.1 Особливості підсилювачів з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.2.2 Амплітудно-частотна та перехідна характеристики
- •8.3.3 Корекція лінійних та нелінійних спотворень
- •8.4 Зворотний зв`язок та його використання
- •8.4.1 Визначення та класифікація
- •8.4.2 Вплив зворотного зв`язку на основні параметри еп
- •8.4.3 Паразитні зворотні звязки в підсилювачах
- •8.5 Підсилювачі постійного струму
- •8.5.1 Визначення та класифікація
- •8.5.2 Підсилювачі постійного струму з безпосереднім зв`язком
- •8.5.3 Підсилювачі постійного струму
- •8.6 Вибірні (селективні) підсилювачі
- •8.6.1 Визначення та класифікація
- •8.6.2 Резонансні підсилювачі
- •8.6.3 Підсилювачі з частотно–залежним зворотним зв'язком
- •8.7 Підсилювачі потужності
- •8.7.1 Особливості побудови та класифікація
- •8.7.2 Безтрансформаторні підсилювачі потужності
- •8.8 Завдання для самоконтролю
- •8.8.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •8 .8.2 Контрольні запитання
- •Розділ 9. Генератори незатухачих електичних коливань та формувачі імпульсів
- •9.1 Визначення, умови самозбудження
- •9.2 Генератори гармонічних коливань
- •9.2.2 Низькочастотні rс –генератори
- •9.2.3 Стабілізація частоти коливань в автогенераторах
- •9.3 Автоколивальні мультивібратори
- •9.4 Загальмовані мультивібратори
- •9.5 Формувачі лінійно-змінної напруги
- •9.6 Завдання для самоконтролю
- •9.6.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •9.6.2 Контрольні запитання
- •Розділ 10. Вторинні джерела живлення електронних систем
- •10.1 Особливості енергетичної (силової) електроніки
- •10.2 Основні типи випрямлячів
- •10.3 Згладжувальні фільтри
- •10.3.1 Пасивні фільтри
- •10.3.2 Активні фільтри
- •10.4 Стабілізатори напруги
- •10.4.1 Параметричні стабілізатори напруги
- •10.4.2 Компенсаційні стабілізатори напруги
- •10.5 Завдання для самоконтролю
- •10.5.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •10.5.2 Контрольні запинтання
- •Список рекомендованої літератури
7.3.4 Фототранзистори
Фототранзистори – це керовані випромінюванням напівпровідникові прилади. Їх використовують як чутливі до випромінювання елементи оптоелектронних пар та фотоприймальних пристроїв, як первинні перетворювачі пристроїв волоконно-оптичних ліній зв’язку середньої пропускної здатності та ін. Створено біполярні та польові фототранзистори. Такі напівпровідникові прилади підсилюють фотострум, який виникає під час їх освітлення.
Біполярний фототранзистор – це фототранзистор, фоточутливий елемент якого формується на основі структури БТ (рис.7.9,а). Він складається з емітерної області p+-типу (1), області бази п-типу (2), більша частина якої пасивна і відкрита світловому потоку Ф, і широкої колекторної області р-типу (3). Пасивна область бази розташована ліворуч від штрихпунктирної лінії. Біполярний фототранзистор вмикається зазвичай за схемою із СЕ і резистором навантаження Rн у колекторному колі (рис. 7.9, а). Його вхідним інформаційним сигналом є модульований світловий потік, а вихідним – зміна напруги на колектор, як і в схемах зі звичайними БТ. Таке вмикання дозволяє керувати провідністю, а значить – реалізувати принцип реле.
Розглянемо роботу біполярного фототранзистора в схемі з розірваним колом бази. Оптичний сигнал генерує надлишкові носії в пасивній області бази і колекторному переході.
П
отенціальний
бар’єр колекторного переходу розділяє
носії. Неосновні носії створюють
фотострум переходу база – колектор
Iф.В,
основні носії накопичуються у базі і
дещо компенсують заряд нерухомих іонів
домішок на межі емітерного переходу.
Потенціальний бар’єр емітерного
переходу зменшується, підсилюючи цим
самим інжекцію носіїв з емітера в
базу. Ці носії, як і у звичайному БТ,
дифундують через базу до колекторного
переходу
і втягуються (екстрагують)
його
електричним полем в область колектора.
Струм інжектованих носіїв (дифузійний
струм),
а відповідно і створений ними колекторний
струм в багато разів перевищують
фотострум носіїв, які виникли через
оптичне опромінення.
Загальний струм колектора – це сума фотоструму Iф.В та струму Iс (інжектованих емітером дірок, які екстрагували в область колектора). Підсилений в GIф разів фотострум створює на резисторі навантаження Rн спад напруги так само, як показано в схемі на (рис. 4.13).
Проведений аналіз показує, що біполярний фототранзистор можна зобразити у вигляді еквівалентного фотодіода VD та підсилювального транзистора VT (рис. 7.9, б). Еквівалентний діод створюється пасивною базою та областю колектора ліворуч від штрихпунктирної лінії на рис. 7.9, а. Структура звичайного підсилювального транзистора розташована праворуч від цієї лінії. Транзистор збільшує чутливість еквівалентного діода в (β + 1) раз.
Вивід бази інколи використовується для подачі зміщення робочої точки, забезпечення її температурної стабілізації або подачі додаткового електричного сигналу.
Більшість параметрів біполярного фототранзистора аналогічна за фізичним змістом параметрам ФД. Його інтегральна чутливість вища в GIф разів порівняно з чутливістю еквівалентного ФД і досягає значень 0,2...2 А/лм. Реальна стала часу біполярного фототранзистора через значні паразитні ємності переходів на 2...3 порядки більша ніж ФД, а пороговий потік (або порогова потужність) через більш високий рівень власного шуму вищий ніж ФД.
Сім’ю вихідних характеристик фототранзистора в схемі із СЕ зображено на рис. 7.9, в. Керувальним струмом є фотострум, який пропорційний світловому потоку – параметру сім’ї вихідних характеристик, аналогічних вихідним характеристикам БТ.
Використання складених транзисторів, з’єднаних зі структурою фототранзистора, дозволяє на 3...4 порядки збільшити чутливість порівняно з еквівалентним ФД. Типове значення їх сталої часу – десятки мікросекунд.
Польовий фототранзистор з керувальним р-п‑переходом – це фототранзистор, фоточутливий елемент якого має структуру ПТ. Його схему вмикання та структуру показано на рис. 7.10, а, . Світловий потік через прозорий отвір 1 в діелектрику 2 опромінює канал п-типу 4. Область витоку 3 та стоку 6 мають провідність n+-типу. Прилад підключається за допомогою виводів 7. У коло затвора G вмикається резистор RG, а в коло стоку D – резистор Rн. Знову відзначимо аналогію зі схемою рис. 4.13. Але на відміну від розглянутих вище варіантів необхідно звернути увагу на те, що оскільки немає вхідного сигналу, то ПТ з керувальним р-п‑переходом має максимальний переріз каналу, а отже, – і максимальну провідність. Якщо ввімкнено зовнішнє джерело живлення ED, в колі стоку буде протікати максимальний струм IDmax. Напруга на стоці через спад напруги на резисторі навантаження буде мінімальною:
UDSmin = ED – IDmax Rн.
З
подачею світлового потоку в області
затвора G
та на р-п‑переході
затвор – канал генеруються нерівноважні
носії. Потенціальний бар’єр цього
переходу розділяє носії і створює в
колі затвора фотострум Iф,
який
на резисторі RG
формує спад напруги UGS
= IфRG.
Він буде тим більшим, чим
інтенсивніший світловий потік. Це
викликає збільшення негативної напруги
на затворі, тобто збільшення зворотної
напруги на керувальному р-п‑переході
транзистора. Переріз каналу зменшується,
провідність спадає, струм стоку
зменшується.
Спад напруги на Rн зменшується, а напруга на виході збільшується і може досягти значення ED, якщо потужність світлового потоку забезпечить появу фотоструму такої величини, коли напруга на затворі за рахунок спаду напруги на RG, зумовленого фотострумом, досягне значення напруги відсікання (UGS(off)).
Фототранзистор розглянутого типу можна представити як ФД (структура затвор – канал) та як підсилювальний ПТ з керувальним р-п‑переходом (рис.7.10, б). Струмова чутливість фототранзистора збільшилася в K = SRG разів порівняно із чутливістю еквівалентного ФД і досягає значень 20…25 А/лм. Вхідний опір польового фототранзистора становить близько 106…108 Ом. Тому значення опору резистора RG може бути великим і його вибором можна завжди забезпечити високу чутливість. Інерційні властивості польового фототранзистора визначає стала часу в колі затвора, яка для малих світлових сигналів має значення близько τ 10–7 с.
Порогова потужність (або пороговий потік) польового фототранзистора менші, ніж у БТ, оскільки рівень власних шумів на частотах 1…10 МГц невеликий.
Порівняльною оцінкою параметрів фототранзисторів виявлено, найбільшу чутливість у складеного фототранзистора, а максимальну швидкодію за умови доброї чутливості у структурі фотодіод – біполярний транзистор. Такі самі параметри забезпечує структура фотодіод – польовий транзистор. Фототранзистори поступаються ФД за швидкодією, але за рахунок підсилення сигналу мають високу чутливість.
