- •Частина і. Базові визначення, параметри та характеристики електронних систем
- •Електричні інформаційні сигнали та типові системи їх обробки
- •Частина іі. Активні компоненти електронних систем
- •Електронно-дірковий перехід - базова напівпровідникова структура твердотілих компонентів
- •Напівпровідникові діоди та їх використання
- •Біполярні транзистори
- •Польові транзистори
- •Інтегральні мікросхеми
- •Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •Частина ііі. Функціональні пристрої електронних систем
- •Електронні підсилювачі
- •Генератори незатухаючих електричних коливань та формувачі імпульсів
- •Вторинні джерела живлення
- •Передмова
- •1.2 Компоненти електронних систем
- •1.2.1 Класифікація
- •1.2.2 Пасивні компоненти
- •1.2.3 Активні компоненти – електронні прилади
- •1.3 Типові процеси обробки еіс
- •1.4 Аналіз електронних пристроїв за постійним струмом,
- •1.5 Відносні та логарифмічні коефіцієнти підсилення
- •1.6 Типові схемні елементи електронних систем
- •1.6.1 Класифікація
- •1.6.2 Подільники напруги
- •1.6.3 Генератори напруги та струму
- •1.6.4 Моделювання електронних пристроїв
- •1.6.5 Дослідження диференціюючих rc-схем
- •1.6.5.2 Амплітудно-частотна характеристика диференціюючих схем
- •6.6 Дослідження інтегруючих rc-схем
- •1.6.6.2 Амплітудно-частотна характеристика інтегруючих схем
- •1.7 Радіотехніка, електроніка та радіоелектроніка
- •1.8 Аналогові та цифрові системи
- •1.9 Нова філософія сучасної техніки
- •1.10 Початкові засади електроніки та схемотехніки
- •1.11 Поточний самоконтроль
- •1.11.1 Завдання для дослідження схем в ms
- •1.11.2 Контрольні запитання
- •Частина іі. Активні компоненти електронних систем Розділ 2. Електронно-дірковий перехід – базова напівпровідникова структура твердотілих компонентів
- •2.1 Класифікація речовин за провідністю
- •2.2 Дрейфовий та дифузійний струми власних напівпровідників
- •2.3 Домішкові напівпровідники
- •2.4 Визначення та класифікація електричних переходів
- •2.5 Електронно-дірковий перехід в стані рівноваги
- •2.6 Пряме та зворотне вмикання едп
- •2.7 Вольт-амперна характеристика ідеалізованого едп
- •2.8 Ємнісні властивості p-n переходу
- •2.9 Пробій p-n переходу
- •2.10 Перехід метал-напівпровідник
- •2.11 Особливості р-n переходів та їх використання для побудови компонентів електронних систем
- •2.12 Поточний самоконтроль
- •2.12.1 Тестові контрольні запитання.
- •Розділ 3. Напівпровідникові діоди та їх використання
- •3.1 Визначення, структура та класифікація
- •3.2 Вольт-амперна характеристика нд
- •3.3 Параметри нд
- •3.4 Електрична модель та частотні властивості нд
- •3.5 Основні види пробою нд
- •3.6 Основні типи діодів та електронні пристрої на їх основі
- •3.6.1 Випрямні діоди та випрямлячі
- •3.6.2 Високочастотні діоди
- •3.6.3 Імпульсні діоди та ключі
- •3.6.4 Напівпровідникові стабілітрони
- •3.6.5 Обмежувачі амплітуди
- •3.6.6 Варикапи та пристрої електронного регулювання частоти
- •3.8 Діоди Шотткі
- •3.8 Поточний самоконтроль
- •3.8.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •3.8.2 Контрольні запитання
- •Розділ 4. Біполярні транзистори
- •4.1 Структури, режими та схеми вмикання
- •4.2 Фізичні процеси в бт
- •4.3 Статичні характеристики бт
- •4.3.1 Статичні характеристики бт із се
- •4.3.2 Статичні характеристики бт із сб
- •4.4 Температурний дрейф характеристик бт
- •4.5 Підсилення потужності еіс за допомогою бт
- •4.6 Графоаналітичний метод аналізу та розрахунку
- •4.7 Динамічні властивості бт
- •4.8 Ключовий режим бт
- •4.9 Порівняльний аналіз трьох схем вмикання бт
- •4.10 Власні шуми та шумові параметри транзисторів
- •4.11 Температурний режим та пробій бт
- •4.12 Основні типи бт
- •4.13 Поточний самоконтроль
- •4.13.1 Завдання для моделювання та дослідження схем
- •4.13.2 Контрольні запитання
- •Розділ 5. Польові транзистори
- •5.1 Типи польових транзисторів
- •5.2 Польовий транзистор з керувальним p-n‑переходом
- •5.3 Підсилювач з автоматичним зміщенням на пт
- •5.4 Польові транзистори з ізольованими затворами
- •5.5 Ключовий режим мдн-транзисторів
- •5.6 Температурні залежності та шуми пт
- •5.7 Класифікація та особливості використання пт
- •5.8 Порівняння польових та біполярних транзисторів
- •5.9 Поточний самоконтроль
- •5.9.2 Контрольні запитання
- •Розділ 6. Інтегральні мікросхеми
- •6.1 Особливості імс як активних компонентів
- •6.2 Класифікація інтегральних мікросхем
- •6.3 Аналогові інтегральні мікросхеми
- •6.3.1 Основні типи аіс
- •6.3.2 Схеми стабілізації режиму а іс
- •6.3.3 Схеми зсуву рівнів напруг
- •6.4 Однокаскадні багатоцільові підсилювачі
- •6.5 Диференціальні підсилювачі
- •6.6 Операційні підсилювачі
- •6.6.1 Особливості оп
- •6.6.2 Інвертувальна схема вмикання оп
- •6.6.3 Неінвертувальна схема вмикання оп
- •6.6.4 Імпульсний режим оп
- •6.7 Поточний самоконтроль
- •6.7.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •6.7.2 Контрольні запитання
- •Розділ 7. Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •7.1 Особливості оптоелектроніки
- •7.2 Джерела оптичного випромінювання
- •7.2.1 Люмінесценція
- •7.2.2. Електролюмінесцентні індикатори
- •7.2.3 Випромінювальні діоди
- •7.3 Фотоелектричні напівпровідникові
- •7.3.1 Внутрішній фотоефект
- •7.3.2 Фоторезистори
- •7.3.3 Фотодіоди
- •7.3.4 Фототранзистори
- •7.4 Оптрони та оптоелектронні імс
- •7.5 Поточний самоконтроль
- •7.5.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •7.5.2 Контрольні запитання
- •Частина ііі. Функціональні пристрої електронних систем Розділ 8. Електронні підсилювачі
- •8.1 Визначення, структурні схеми
- •8.2 Основні характеристики та параметри еп
- •8.3 Підсилювачі з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.3.1 Особливості підсилювачів з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.2.2 Амплітудно-частотна та перехідна характеристики
- •8.3.3 Корекція лінійних та нелінійних спотворень
- •8.4 Зворотний зв`язок та його використання
- •8.4.1 Визначення та класифікація
- •8.4.2 Вплив зворотного зв`язку на основні параметри еп
- •8.4.3 Паразитні зворотні звязки в підсилювачах
- •8.5 Підсилювачі постійного струму
- •8.5.1 Визначення та класифікація
- •8.5.2 Підсилювачі постійного струму з безпосереднім зв`язком
- •8.5.3 Підсилювачі постійного струму
- •8.6 Вибірні (селективні) підсилювачі
- •8.6.1 Визначення та класифікація
- •8.6.2 Резонансні підсилювачі
- •8.6.3 Підсилювачі з частотно–залежним зворотним зв'язком
- •8.7 Підсилювачі потужності
- •8.7.1 Особливості побудови та класифікація
- •8.7.2 Безтрансформаторні підсилювачі потужності
- •8.8 Завдання для самоконтролю
- •8.8.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •8 .8.2 Контрольні запитання
- •Розділ 9. Генератори незатухачих електичних коливань та формувачі імпульсів
- •9.1 Визначення, умови самозбудження
- •9.2 Генератори гармонічних коливань
- •9.2.2 Низькочастотні rс –генератори
- •9.2.3 Стабілізація частоти коливань в автогенераторах
- •9.3 Автоколивальні мультивібратори
- •9.4 Загальмовані мультивібратори
- •9.5 Формувачі лінійно-змінної напруги
- •9.6 Завдання для самоконтролю
- •9.6.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •9.6.2 Контрольні запитання
- •Розділ 10. Вторинні джерела живлення електронних систем
- •10.1 Особливості енергетичної (силової) електроніки
- •10.2 Основні типи випрямлячів
- •10.3 Згладжувальні фільтри
- •10.3.1 Пасивні фільтри
- •10.3.2 Активні фільтри
- •10.4 Стабілізатори напруги
- •10.4.1 Параметричні стабілізатори напруги
- •10.4.2 Компенсаційні стабілізатори напруги
- •10.5 Завдання для самоконтролю
- •10.5.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •10.5.2 Контрольні запинтання
- •Список рекомендованої літератури
4.10 Власні шуми та шумові параметри транзисторів
В електричних колах струми та напруги мають невеликі безпорядні (хаотичні) коливання, які називаються електричними флуктуаціями. Вони спричинені тепловим рухом електронів. 3 підвищенням температури флуктуації збільшуються.
Теоретично й експериментально доказано, що шумовий струм є сумою змінних синусоїдальних складових з різними частотами від нуля до надвисоких. Але на виході електронних пристроїв появляється лише частина цих складових шуму, яка тим більша, чим ширша смуга пропускання пристрою.
На виxoді транзисторних схем шуми зростають внаслідок додавання власних шумів транзистора, що обмежує мінімальні сигнали, які ще можуть бути виявлені і підсилені, тобто чутливість пристроїв.
Повний власний шум транзистора має декілька складових. Це тепловий шум, дробовий шум, шум струморозподілу, рекомбінаційний шум.
Теплові шуми зумовлені тепловими флуктуаціями електронів, характерними для будь-якого резистора. Усі ділянки транзистора мають опір, на якому і виникають шумові напруги. Опори емітерної і колекторної ділянок порівняно малі, а тому головний внесок у формування теплових шумів робить опір бази rB, оскільки він увімкнений у вхідне коло і шум від нього підсилюється самим транзистором.
Дробові шуми спричинені флуктуаціями, інжекцією і екстракцією в емітерному та колекторному переходах; шуми струморозподілу - флуктуаціями розподілу емітерного струму між базою та колектором, а рекомбінаційні шуми зумовлені флуктуаціями рекомбінації.
Крім того, створюються додаткові шуми флуктуаціями струмів у поверхневих шарах напівпровідників (флікер-ефект) та деякими іншими явищами.
Для оцінки шумових властивостей транзисторів використовують коефіцієнт шуму Fш. Його визначають так само, як і для будь-яких чотириполюсників.
Вплив шумів завжди характеризується відношенням потужності корисного сигналу Рс до потужності шумів Рш. На виході підсилювача потужності це відношення менше, ніж на вході, оскільки на виході ці обидві потужності підсилюються в GP разів, але до потужності шумів транзистор додає ще власний шум РШ.ТР. Коефіцієнт шуму показує, у скільки разів відношення потужності сигналу до потужності шуму на вході більше, ніж на виході:
Значення шуму вимірюють також у децибелах за формулою:
F = 10 lg Fш .
Виготовляються спеціальні малошумові транзистори, які використовують у вхідних каскадах високочутливої апаратури.
4.11 Температурний режим та пробій бт
Для нормальної роботи транзистора необхідно, щоб у межах температурного діапазону в кожній ділянці структури – емітерній, базовій та колекторній – переважала електропровідність одного типу – електронна або діркова. З підвищенням температури в насліок термогенерації може з’явитись така кількість електронів і дірок, що розраховане співвідношення основних і неосновних носіїв в домішкових напівпровідниках порушується і транзистор втрачає працездатність.
Максимальна робоча температура р-n переходів залежить від енергії іонізації атомів основної речовини і концентрації домішок. Розрахунки та експериментальні дослідження показують, що максимальна температура германієвих транзисторів лежить в межах 70 ... 1000 С, а максимальна робоча температура транзисторів з кремнію, що має більшу ширину забороненої зони, ніж германій, може становити 125 ... 2000 С.
Мінімальна робоча температура, за якої транзистор ще в змозі функціонувати, залежить від енергії іонізації та концентрацією домішок. Для забезпечення розрахованої електропровідності необхідно, щоб усі атоми домішок були іонізовані. Оскільки енергія іонізації домішок дуже мала (0,01 ... 0,05 еВ), то мінімальна робоча температура транзистора теоретично складає близько -2000 С. Фактично нижня межа температури обмежується термостійкістю корпусу та допустимими змінами параметрів дорівнює (-60 ... -70)0 С.
Зміна температури транзистора в межах робочого діапазону також суттєво впливає на параметри та характеристики транзистора, що може викликати температурну нестабільність радіоелектронної апаратури. Це треба враховувати при проектуванні та експлуатації транзисторних приладів і пристроїв.
При щільному компонуванні елементів усередині апаратури або великих потужностях розсіювання в приладах використання радіаторів стає малоефективним. У цьому випадку потужні транзистори розташовують безпосередньо на корпусі приладу або на радіаторах, які мають тепловий контакт з навколишнім середовищем.
Для ефективного тепловідведення необхідно забезпечити надійний тепловий контакт радіатора з транзистором; для цього транзистори має відповідну конструкцію, а поверхня контакта покрита спеціальними теплопоглинальними пастами або мастилами.
Електричне ізолювання транзистора від радіатора досягається установленням прокладок із слюди, фторопластової плівки товщиною десятки мікрометрів, металокерамічних прокладок, а також використанням радіаторів з глибоким анодуванням. Однак необхідно домагатися електричного ізолювання радіаторів від корпусу приладу, а не транзистора від радіатора.
З порушенням теплового балансу, колиЧерез недостатнє тепловідведення приріст потужності, що виділяється на колекторному переході, не викликає відповідний приріст потужності, що відводиться в зовнішнє середовище тепловий баланс порушується..Температура переходу необмежено зростає, збільшується струм колектора, зрештою транзистор перегрівається, настає тепловий пробій, БТ виходить з ладу.
Допустима напруга на колекторному переході тим менша, чим більший зворотній струм транзистора ICВ0, його загальний тепловий опір та температура навколишнього середовища. За умов недостатнього тепловідведення і високої температури навколишнього середовища напруга теплового пробою може стати значно нижчою, ніж робоча напруга транзистора. Особливо велика вірогідність теплового пробою в потужних БТ із значним струмом ICВ0 .
