- •Частина і. Базові визначення, параметри та характеристики електронних систем
- •Електричні інформаційні сигнали та типові системи їх обробки
- •Частина іі. Активні компоненти електронних систем
- •Електронно-дірковий перехід - базова напівпровідникова структура твердотілих компонентів
- •Напівпровідникові діоди та їх використання
- •Біполярні транзистори
- •Польові транзистори
- •Інтегральні мікросхеми
- •Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •Частина ііі. Функціональні пристрої електронних систем
- •Електронні підсилювачі
- •Генератори незатухаючих електричних коливань та формувачі імпульсів
- •Вторинні джерела живлення
- •Передмова
- •1.2 Компоненти електронних систем
- •1.2.1 Класифікація
- •1.2.2 Пасивні компоненти
- •1.2.3 Активні компоненти – електронні прилади
- •1.3 Типові процеси обробки еіс
- •1.4 Аналіз електронних пристроїв за постійним струмом,
- •1.5 Відносні та логарифмічні коефіцієнти підсилення
- •1.6 Типові схемні елементи електронних систем
- •1.6.1 Класифікація
- •1.6.2 Подільники напруги
- •1.6.3 Генератори напруги та струму
- •1.6.4 Моделювання електронних пристроїв
- •1.6.5 Дослідження диференціюючих rc-схем
- •1.6.5.2 Амплітудно-частотна характеристика диференціюючих схем
- •6.6 Дослідження інтегруючих rc-схем
- •1.6.6.2 Амплітудно-частотна характеристика інтегруючих схем
- •1.7 Радіотехніка, електроніка та радіоелектроніка
- •1.8 Аналогові та цифрові системи
- •1.9 Нова філософія сучасної техніки
- •1.10 Початкові засади електроніки та схемотехніки
- •1.11 Поточний самоконтроль
- •1.11.1 Завдання для дослідження схем в ms
- •1.11.2 Контрольні запитання
- •Частина іі. Активні компоненти електронних систем Розділ 2. Електронно-дірковий перехід – базова напівпровідникова структура твердотілих компонентів
- •2.1 Класифікація речовин за провідністю
- •2.2 Дрейфовий та дифузійний струми власних напівпровідників
- •2.3 Домішкові напівпровідники
- •2.4 Визначення та класифікація електричних переходів
- •2.5 Електронно-дірковий перехід в стані рівноваги
- •2.6 Пряме та зворотне вмикання едп
- •2.7 Вольт-амперна характеристика ідеалізованого едп
- •2.8 Ємнісні властивості p-n переходу
- •2.9 Пробій p-n переходу
- •2.10 Перехід метал-напівпровідник
- •2.11 Особливості р-n переходів та їх використання для побудови компонентів електронних систем
- •2.12 Поточний самоконтроль
- •2.12.1 Тестові контрольні запитання.
- •Розділ 3. Напівпровідникові діоди та їх використання
- •3.1 Визначення, структура та класифікація
- •3.2 Вольт-амперна характеристика нд
- •3.3 Параметри нд
- •3.4 Електрична модель та частотні властивості нд
- •3.5 Основні види пробою нд
- •3.6 Основні типи діодів та електронні пристрої на їх основі
- •3.6.1 Випрямні діоди та випрямлячі
- •3.6.2 Високочастотні діоди
- •3.6.3 Імпульсні діоди та ключі
- •3.6.4 Напівпровідникові стабілітрони
- •3.6.5 Обмежувачі амплітуди
- •3.6.6 Варикапи та пристрої електронного регулювання частоти
- •3.8 Діоди Шотткі
- •3.8 Поточний самоконтроль
- •3.8.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •3.8.2 Контрольні запитання
- •Розділ 4. Біполярні транзистори
- •4.1 Структури, режими та схеми вмикання
- •4.2 Фізичні процеси в бт
- •4.3 Статичні характеристики бт
- •4.3.1 Статичні характеристики бт із се
- •4.3.2 Статичні характеристики бт із сб
- •4.4 Температурний дрейф характеристик бт
- •4.5 Підсилення потужності еіс за допомогою бт
- •4.6 Графоаналітичний метод аналізу та розрахунку
- •4.7 Динамічні властивості бт
- •4.8 Ключовий режим бт
- •4.9 Порівняльний аналіз трьох схем вмикання бт
- •4.10 Власні шуми та шумові параметри транзисторів
- •4.11 Температурний режим та пробій бт
- •4.12 Основні типи бт
- •4.13 Поточний самоконтроль
- •4.13.1 Завдання для моделювання та дослідження схем
- •4.13.2 Контрольні запитання
- •Розділ 5. Польові транзистори
- •5.1 Типи польових транзисторів
- •5.2 Польовий транзистор з керувальним p-n‑переходом
- •5.3 Підсилювач з автоматичним зміщенням на пт
- •5.4 Польові транзистори з ізольованими затворами
- •5.5 Ключовий режим мдн-транзисторів
- •5.6 Температурні залежності та шуми пт
- •5.7 Класифікація та особливості використання пт
- •5.8 Порівняння польових та біполярних транзисторів
- •5.9 Поточний самоконтроль
- •5.9.2 Контрольні запитання
- •Розділ 6. Інтегральні мікросхеми
- •6.1 Особливості імс як активних компонентів
- •6.2 Класифікація інтегральних мікросхем
- •6.3 Аналогові інтегральні мікросхеми
- •6.3.1 Основні типи аіс
- •6.3.2 Схеми стабілізації режиму а іс
- •6.3.3 Схеми зсуву рівнів напруг
- •6.4 Однокаскадні багатоцільові підсилювачі
- •6.5 Диференціальні підсилювачі
- •6.6 Операційні підсилювачі
- •6.6.1 Особливості оп
- •6.6.2 Інвертувальна схема вмикання оп
- •6.6.3 Неінвертувальна схема вмикання оп
- •6.6.4 Імпульсний режим оп
- •6.7 Поточний самоконтроль
- •6.7.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •6.7.2 Контрольні запитання
- •Розділ 7. Оптоелектронні напівпровідникові прилади
- •7.1 Особливості оптоелектроніки
- •7.2 Джерела оптичного випромінювання
- •7.2.1 Люмінесценція
- •7.2.2. Електролюмінесцентні індикатори
- •7.2.3 Випромінювальні діоди
- •7.3 Фотоелектричні напівпровідникові
- •7.3.1 Внутрішній фотоефект
- •7.3.2 Фоторезистори
- •7.3.3 Фотодіоди
- •7.3.4 Фототранзистори
- •7.4 Оптрони та оптоелектронні імс
- •7.5 Поточний самоконтроль
- •7.5.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •7.5.2 Контрольні запитання
- •Частина ііі. Функціональні пристрої електронних систем Розділ 8. Електронні підсилювачі
- •8.1 Визначення, структурні схеми
- •8.2 Основні характеристики та параметри еп
- •8.3 Підсилювачі з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.3.1 Особливості підсилювачів з резистивно-ємнісним зв`язком
- •8.2.2 Амплітудно-частотна та перехідна характеристики
- •8.3.3 Корекція лінійних та нелінійних спотворень
- •8.4 Зворотний зв`язок та його використання
- •8.4.1 Визначення та класифікація
- •8.4.2 Вплив зворотного зв`язку на основні параметри еп
- •8.4.3 Паразитні зворотні звязки в підсилювачах
- •8.5 Підсилювачі постійного струму
- •8.5.1 Визначення та класифікація
- •8.5.2 Підсилювачі постійного струму з безпосереднім зв`язком
- •8.5.3 Підсилювачі постійного струму
- •8.6 Вибірні (селективні) підсилювачі
- •8.6.1 Визначення та класифікація
- •8.6.2 Резонансні підсилювачі
- •8.6.3 Підсилювачі з частотно–залежним зворотним зв'язком
- •8.7 Підсилювачі потужності
- •8.7.1 Особливості побудови та класифікація
- •8.7.2 Безтрансформаторні підсилювачі потужності
- •8.8 Завдання для самоконтролю
- •8.8.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •8 .8.2 Контрольні запитання
- •Розділ 9. Генератори незатухачих електичних коливань та формувачі імпульсів
- •9.1 Визначення, умови самозбудження
- •9.2 Генератори гармонічних коливань
- •9.2.2 Низькочастотні rс –генератори
- •9.2.3 Стабілізація частоти коливань в автогенераторах
- •9.3 Автоколивальні мультивібратори
- •9.4 Загальмовані мультивібратори
- •9.5 Формувачі лінійно-змінної напруги
- •9.6 Завдання для самоконтролю
- •9.6.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •9.6.2 Контрольні запитання
- •Розділ 10. Вторинні джерела живлення електронних систем
- •10.1 Особливості енергетичної (силової) електроніки
- •10.2 Основні типи випрямлячів
- •10.3 Згладжувальні фільтри
- •10.3.1 Пасивні фільтри
- •10.3.2 Активні фільтри
- •10.4 Стабілізатори напруги
- •10.4.1 Параметричні стабілізатори напруги
- •10.4.2 Компенсаційні стабілізатори напруги
- •10.5 Завдання для самоконтролю
- •10.5.1 Завдання для моделювання та дослідження схем в ms
- •10.5.2 Контрольні запинтання
- •Список рекомендованої літератури
3.6.2 Високочастотні діоди
Високочастотні діоди – це напівпровідникові прилади універсального призначення. Вони об’єднують цілу групу НД, які використовуються для нелінійної обробки високочастотних сигналів. Їх застосовують як і випрямні діоди, але при меншому електричному навантаженні, а також в детекторах для виділення низькочастотного інформаційного сигналу з високочастотного модульованого коливання; у змішувачах для зміни несучої частоти модульованого коливання; у модуляторах для модуляції високочастотного коливання та в інших перетворювачах електричних сигналів.
Високочастотні діоди працюють у широкому діапазоні частот (до кількох сотень мегагерців). Тому важливими стають ємнісні властивості НД. Перетворення сигналів за допомогою високочастотних діодів відбувається здебільшого за рахунок несиметрії ВАХ. Але із збільшенням частоти опір ємності діода Ctot зменшується, стає сумірним з опором у запірному напрямі .Тобто із зростанням частоти діоди втрачають вентильні якості (рис. 3.4). Це пов’язано з процесами накопичення та розосередження носіїв заряду в базі.
Н
а
великих частотах заряд дірок, що
інжектували в n-базу
за позитивний півперіод, повністю
виводиться в зовнішнє коло за негативний
півперіод, що створює значний зворотній
струм. Діод втрачає випрямні властивості.
Одним з головних параметрів високочастотних діодів є статична ємність Сtot між зовнішніми виводами, яка визначається бар’єрною ємністю p‑n‑переходу. Зазвичай Сtot ≤ 1 пФ.
За частотними властивостями високочастотні діоди поділяють на дві групи: 1) fmax ≤ 100 МГц; 2) 300 МГц ≤ fmax ≤ 1000 МГц. На вищих частотах використовують надвисокочастотні діоди з дуже малим радіусом точкового контакту (2...3 мкм) та особливою конструкцією, а також діоди Шотткі.
3.6.3 Імпульсні діоди та ключі
Імпульсний діод – це НД, що має малу тривалість перехідних процесів в імпульсних режимах роботи. Напівпровідникові діоди широко використовуються як ключі, тобто як пристрої, що можуть знаходитися в одному з двох станів: «Ввімкнено» (опір приладу дуже малий) та «Вимкнено» (oпip приладу дуже великий). Це дозволяє перемикати інформаційні сигнали в імпульсних та цифрових системах.
При використанні НД, шляхом зміни полярності керувальних сигналів майже безінерційно формуюються необхідні напрями потоків електронів. Засвойте це за допомогою схеми збігу, поданої на рис. 3.5. Якщо на діоди D2 та D3 не подаються позитивні імпульси, вони підключені до загальної точки схеми , до «землі», а тому вмикаються в прямому напрямі. Через резистор R1 протікає великий струм і на ньому спадає майже вся напруга джерела живлення. На виході напруга визначається прямою напругою спаду на діодах (0.4-0.8 ). Якщо позитивні імпульси поступають лише на один із діодів, він закривається, його опір суттєво зростає, але інший діод залишається відкритим, а тому стан схеми не зміниться. На виході залишається низький рівень напруги. Лише при одночасному надходженні позитивних імпульсів на обидва діоди, опір зростає, струм через резистор суттєво зменшується, в результаті на виході формується висока напруга ( майже 12 В ). Засвойте процес керування рівнем напруги на виході шляхом керування струмом. Це дуже важливо і в подальшому постійно використовується. Описане нижче відбувається, якщо перемикач J1 вимкнуто. При його вмиканні стан схеми буде визначатись прямим зміщенням діода D1, тобто низьким потенціалом. Лише при подачі позитивних імпульсів на три діоди одночасно (Рис. 3.6, а, б, в.), на виході формується високий рівень напруги ( рис. 3.6, г ) . Так за допомогою НД будуються логічні схеми ( схеми збігу ).
|
|
Рис. 3.5. Схема збігу |
Рис. 3.6. Осцилограми імпульсів схеми збігу: а) на D1; б) на D2; в)на D3; г)на виході. |
Імпульсні діоди призначені здебільшого для роботи у швидкодіючих імпульсних та цифрових схемах. Вони мають ряд конструктивно технологічних особливостей, які забезпечують імпульсний режим роботи. У НД діють два фактори, які визначають їхню інерційність. Це – бар’єрна ємність та накопичений заряд носіїв поблизу переходу. Основними ознаками, що вирізняють імпульсні діоди, є малі площа електричного переходу та тривалість життя нерівноважних носіїв заряду в базі.
Промисловість випускає також набір діодів та діодні матриці. Це інтегровані в одному корпусі та кристалі імпульсні (або універсальні) діоди з окремими або з’єднаними за заданою електричною схемою виводами. Використовуючи тип діода в ключовій схемі, оцінюють співвідношення тривалості iнформаційних сигналів і тривалості процесів накопичення та розосередження носіїв зарядів у структурі р-п‑переходу. Якщо ці значення сумірні, то обов’язково враховують тривалість перехідних процесів, а також спотворення форми імпульсів. Зрозуміло, що вони не повинні перевищувати допустимі значення.
На тривалість перехідних процесів та форму імпульсів у ключових схемах з НД впливають: - безпосередньо частотні властивості р‑п‑переходу, які моделюються за допомогою бар’єрної i дифузійної ємностей; - співвідношення опору генератора інформаційних сигналів i прямого опору НД; - рівень інжекції неосновних ноciїв заряду в базу, що залежить від амплітуди інформаційних сигналів, при цьому розрізняють режим великих амплітуд (великий рівень інжекції) та режим малих амплітуд (малий рівень інжекції).
Розглянемо процеси в НД за його підключення до генератора напруги в режимі великих амплітуд.Під час подачі на діод прямої напруги (рис.3.7,а) струм через діод установлюється не зразу, оскільки oпip бази ще залишається досить великим. Після подачі інформаційного сигналу починається накопичення в базі інжектованих через р‑п‑перехід неосновних носіїв заряду, внаслідок чого зменшується oпip бази і струм діода збільшується (рис.3.7.б), хоча пряма напруга на діоді залишається незмінною Цей процес модуляції опору бази не відбувається миттєво, оскільки накопичення неосновних нocіїв у базі діода визначається відносно повільним процесом дифузії їх від р-п‑переходу в глибину бази.
У мipy накопичення нociїв і зменшення опору бази відбувається перерозподіл усієї зовнішньої напруги між опором бази та р-п‑переходом. Спад напруги на базі діода зменшується, а на р-п‑переході збільшується, що викликає збільшення рівня інжекції. Якщо дія імпульсу прямої напруги тривала, то інжекція носіїв зрівноважується їхньою рекомбінацією. Виникає деякий сталий стан.
З перемиканням діода з прямої напруги на зворотну в початковий момент спостерігається великий зворотний струм (рис. 3.7,б), обмежений переважно послідовним опором бази. Починається процес розосередження неосновних нocіїв заряду, накопиченних у базі. Через обмеження зворотного струму концентрація носіїв у базі біля р-п‑переходу не може миттєво зменшитися до рівноваженого рівня. Після зменшення концентрацiї цих нociїв до нуля за час розосередження зворотний струм починає зменшуватися. Через деякий час trr уci накопичені в базі нociї покидають її через р-п‑перехід або рекомбінують, внаслідок чого зворотний струм зменшується до стаціонарного значення струму насичення І0 . Водночас відновлюється зворотний oпip діода.
Процес
розосередження накопичених нociїв
відбувається значно повільніше, ніж
процес їx
накопичення, і саме тривалість
розосередження визначає інерційні
властивості більшості діодів, а також
тривалість перехідних процесів.
Перехідний процес, протягом якого зворотний імпеданс (опір) переходу НД відновлюється до сталого значення після швидкого перемикання ЕДП з пропускного напряму на зворотний, називають відновленням зворотного опору діода. Відповідно одним з головних параметрів імпульсного діода є тривалість відновлення зворотного опору trr, який дорівнює інтервалу часу від моменту проходження струму через нуль після перемикання діода iз заданого прямого струму в стан заданої зворотної напруги, до моменту досягнення зворотним струмом заданого низького значення (рис. 3.7 б). За значенням цього параметра всі імпульсні діоди поділяють на шість груп: понад 500 нс; 150...500 нс; 30...150 нс; 5...30 нс; 1...5 нс; 1 нс; менше 1 нс.
Імпульсні діоди, крім параметрів, trr, Сб, характеризуються ще рядом параметрів. До них належать: постійна пряма напруга, постійний прямий струм, зворотний струм, зворотна напруга, гранично допустимі зворотна напруга та амплітуда імпульсу прямого струму.
