
- •Лабораторна робота № 1.
- •Дослідження сферичної аберації
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •Сферична аберація.
- •3. Опис вимірювальної установки.
- •4. Контрольні запитання.
- •5. Домашнє завдання.
- •6. Лабораторне завдання.
- •7. Прилади та обладнання.
- •8. Література.
- •Дослідження явища дифракції за допомогою дифракційної гратки
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Порядок виконання роботи.
- •Дослідження законів поляризації світла Варіант 1. Закон Малюса
- •3. Опис вимірювальної установки
- •4. Контрольні запитання
- •5. Домашнє завдання
- •6. Лабораторне завдання
- •Дослідження лінійчастих спектрів випромінювання
- •3. Теоретичні відомості.
- •4. Контрольні запитання.
- •5. Домашнє завдання.
- •6. Лабораторне завдання.
- •7. Порядок виконання роботи
- •8. Прилади та обладнання.
- •9. Література.
- •Визначення сталої Стефана- Больцмана
- •Загальні вказівки
- •Опис лабораторнї установки
- •Виведення робочої формули
- •5. Порядок виконання роботи
- •7. Література:
- •Вивчення температурної залежності електричного опору металів
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •3. Метод вимірювань.
- •4. Послідовність виконання роботи.
- •5. Контрольні запитання.
- •6. Домашнє завдання.
- •7. Прилади та обладнання.
- •8. Література
- •Температурна залежність електричного опору напівпровідників
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи
- •Визначення концентрації вільних носіїв заряду в напівпровіднику
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи:
- •6. Прилади і матеріали.
- •7. Література.
- •Вивчення фотопровідності речовини
- •1. Мета роботи.
- •2. Теоретичні відомості.
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Послідовність виконання роботи.
- •Дослідження термоелектричного явища (Зеєбека)
- •3. Контрольні запитання.
- •4. Домашнє завдання.
- •5. Лабораторне завдання.
- •6. Порядок виконання роботи.
- •6. Прилади та обладнання.
- •7. Література.
Визначення концентрації вільних носіїв заряду в напівпровіднику
1. Мета роботи.
Визначити питому електропровідність та концентрацію вільних носіїв заряду в напівпровідниковому монокристалі з електронною провідністю.
2. Теоретичні відомості.
В напівпровідникових монокристалах має місце впорядковане розташування атомів, яке називається кристалічною граткою. Стабільність взаємного розташування атомів в монокристалах зумовлена виникненням між атомами ковалентних зв'язків.
Ковалентний зв'язок двох сусідніх атомів можна промоделювати таким чином: електронні орбіти двох близько розташованих атомів перекриваються i відповідні валентні електрони стають приналежними обом атомам. Це проілюстровано на рис. 1 для молекули водню.
Рис. 1. Модель ковалентного зв’язку молекули водню Н2.
Два електрони двох атомів створюють спільну орбіту і взаємодіють при цьому з обома атомами. Такою взаємодією забезпечується утворення молекули при достатньому зближенні атомів. В стаціонарному стані молекули взаємне відштовхування ядер врівноважується їхнім притяганням до електронів.
Зв'язки між атомами в напівпровідникових монокристалах германію або кремнію (типові представники напівпровідників) створені валентними електронами. Валентні електрони розташовані на зовнішніх відносно ядра електронних opбiтax i тому слабо зв'язані з ядрами. Крім того, вони зазнають впливу cyсідніx атомів.
Чотиривалентний атом кремнію утворює ковалентні зв'язки з чотирма сусідніми атомами кремнію.
Схематичне зображення зв’язків між атомами в кристалічній гратці кремнію без атомів сторонніх домішок показано на рис. 2.
А
томи
кремнію віддають по 4 валентних електрони
для утворення ковалентних зв’язків.
Ковалентні зв’язки позначені рисками між атомами, а валентні електрони на цих зв’язках позначені крапками.
П
Рис. 2
ри дуже низькій температурі напівпровідник без домішок (власний напівпровідник) не має електропровідності, бо всі валентні електрони є зв’язані з атомами і в кристалі немає вільних носіїв заряду, здатних переміщуватись в прикладеному до кристала електричному полі.При підвищенні температури кристала електрони можуть вириватись з ковалентних зв’язків за рахунок теплової енергії. Такі вивільнені з атомів електрони називаються вільними. Вони здатні вільно переміщуватись в кристалі і здійснювати хаотичний тепловий рух. Якщо до кристала прикласти електричну напругу, то вільні електрони поряд з хаотичним рухом будуть здійснювати переміщення в певному порядку, що визначається напрямом прикладеного до кристалу електричного поля. Так виникає електронна провідність.
Вивільнення електрона з ковалентного зв’язку призводить до появи на звільненому електроном місці позитивного заряду. Цей заряд називається «дірка». Дірка притягує до себе електрони з сусідніх зв’язків, а сама при цьому немов би переходить на їхні місця. При наявності в кристалі накладеного на нього зовнішнього поля дірка буде переміщуватись вздовж напрямку цього поля і створювати діркову електропровідність.
Отже, у власних напівпровідниках електропровідність буде складатись з двох компонентів – електронної і діркової при однаковій кількості вільних електронів і дірок.
Розглянемо напівпровідник з домішковими атомами. Нехай деякі атоми кремнію заміщені атомами п’ятивалентного фосфору. У виникненні ковалентного зв’язку атома фосфору з сусідніми атомами кремнію беруть участь 4 валентних електрони атома фосфору з наявних 5. П’ятий валентний електрон атома фосфору не задіяний у створенні ковалентних зв’язків, він слабо зв’язаний з атомом фосфору, легко відривається від нього та стає вільним. Відданий домішковим атомом фосфору вільний електрон бере участь у електропровідності. Що ж до атома домішки, який віддав вільний електрон, то він стає позитивно зарядженим нерухомим іоном, і зберігає своє місце в структурі кристалічної гратки.
Домішкові атоми, які порівняно легко віддають свої електрони, називаються донорами. Введення в напівпровідник домішкових донорних атомів призводить до того, що концентрація електронів стає значно більшою ніж концентрація дірок. В такому напівпровіднику електропровідність забезпечується переважно електронною компонентою, а не дірковою. Тому електрони в такому напівпровіднику є основними носіями заряду, а дірки – неосновними.
Напівпровідник, в якому основними вільними носіями зарядів є електрони, називається електронним або напівпровідником п-типу.
Розглянемо електропровідність електронного напівпровідника. При накладанні на кристал зовнішнього електричного поля до хаотичного теплового руху вільних носіїв заряду додається напрямлене переміщення носіїв заряду в електричному полі. Такий складний рух носіїв називається дрейфом. Електричний струм, створений дрейфом носіїв в електричному полі, називається дрейфовим струмом. Дрейфовий струм в напівпровіднику дорівнює сумі електронного та діркового струмів. В напівпровідниках п-типу дірковою складовою струму можна знехтувати і вважати, що електропровідність напівпровідника п-типу є електронною.
Згідно з законом Ома в диференціальній формі густина сили струму j пропорційна напруженості електричного поля E. В скалярному вигляді цей закон записується так:
j = E, (1)
де - питома електропровідність. Питома електропровідність у напівпровідників при сталій температурі залежить прямо пропорційно від концентрації п вільних електронів згідно з формулою:
,
(2)
де е-величина елементарного заряду,
- рухливість електронів. Рухливість
електрона є характеристичним параметром
напівпровідника. З формул (1) і (2) одержимо
вираз для шуканої концентрації електронів:
(3)