
- •Федеральное агентство по образованию рф
- •Основы рефлектометрии
- •1.1 Рэлеевское рассеяние в волоконных световодах
- •1.2 Бриллюэновское рассеяние в волоконных световодах
- •1.3 Рамановское рассеяние в волоконных световодах
- •1.4 Эффект антистоксова излучения
- •2.1 Рефлектометрия во временной области
- •2.1.1 Рефлектометрия во временной области – традиционный подход.
- •2.1.2 Когерентная временная рефлектометрия.
- •2.1.3 Корреляционная рефлектометрия с применением псевдослучайного сигнала.
- •2.1.4 Слабокорреляционная рефлектометрия.
- •2.1.5 Рефлектометрия на основе счета фотонов.
- •2.2 Рефлектометрия в частотной области
- •2.2.1 Рефлектометрия с частотным сканированием.
- •2.2.2 Рефлектометрия с синтезом функции когерентности.
- •2.3 Поляризационная рефлектометрия
- •2.4 Выводы по главе
- •3.1 Временной когерентный симметричный рефлектометр
- •3.2 Симметричный некогерентный рефлектометр
- •3.3 Симметричный рефлектометр с синтезом функции когерентности
- •3.4 Обсуждение результатов
- •4.1 Изгибные потери в оптических волокнах
- •4.2 Искажения формы контура волоконной решетки Брэгга
- •4.3 Симметричные методы контроля изгибных потерь в вс и искажений контура врб
- •4.3.1 Симметричное зондирование участков вс с изгибными потерями
- •4.3.2 Симметричное зондирование контура врб
- •4.3.3 Мониторинг профиля контуров нескольких врб в волп
- •5.1 Системы несимметричной бриллюэновской рефлектометрии
- •5.2 Симметричный бриллюэновский рефлектометр
- •5.2.1 Физические принципы работы системы с симметричным двухчастотным гетеродинированием.
- •5.2.2 Схема экспериментальной установки.
- •5.2.3 Выводы по разделу.
- •5.3 Вопросы применения бриллюэновского рефлектометра
- •5.3.1 Бриллюэновский датчик механического напряжения вс.
- •3.3.2 Бриллюэновский датчик температуры.
- •6.1 Лазерные диоды
- •6.1.1 Многомодовые (mlm) лазеры, или лазеры с резонаторами Фабри-Перо.
- •6.1.2 Одномодовые (slm) лазеры.
- •6.1.3 Полупроводниковый лазер с распределенной обратной связью (dfb).
- •6.1.5 Лазер с вертикальной резонаторной полостью и излучающей поверхностью (vcsel).
- •7.1 Амплитудно-фазовый метод преобразования одночастотного колебания в симметричное двухчастотное
- •7.2 Спектр выходного излучения амплитудно-фазовых электрооптических уфдли
- •7.3 Влияния параметров преобразования частоты на спектральный состав излучения на выходе аэм
- •7.4 Реализация симметричного уфдли
- •8.2 Конструкция детектора на основе кремниевого фотодиода
- •8.3 Обзор фотодиодных детекторов на основе InGaAs
- •8.4 Лавинные фотодиоды (apd)
- •8.4.1 Рабочие параметры apd.
- •8.4.2 Типы apd.
- •8.4.3 Apd с разделением процессов поглощения и умножения (sam apd).
- •8.5 Оптические приемники
- •Заключение
- •Список литературы
- •Глава 1 6
- •Глава 2 21
- •Глава 3 36
- •Глава 4 45
- •Глава 5 61
- •Глава 6 70
- •Глава 7 79
- •Глава 8 98
Министерство образования и науки Российской Федерации
Федеральное агентство по образованию рф
Казанский государственный технический университет
им. А. Н. Туполева
д. л. айбатов, О. Г. Морозов, Ю. Е. Польский
Основы рефлектометрии
Учебное пособие
Издание 2-е, переработанное и дополненное
Рекомендовано к изданию УМО по образованию в области телекоммуникаций в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений,
обучающихся по специальности 071700 (210401) – Физика и техника
оптической связи
Казань 2008
УДК 621.395.126
Основы рефлектометрии: Учебное пособие / Айбатов Д.Л., Морозов О.Г., Польский Ю.Е. – Казань: ЗАО «Новое знание», 2008. – 116 с.
Учебное пособие разработано на базе классических и современных учебно-методических материалов с целью интенсификации процесса изучения дисциплин "Оптические направляющие среды и пассивные компоненты волоконно-оптических линий связи (ВОЛС)", "Метрология в оптических телекоммуникационных системах", студентами специальностей 210401 направления 210400 «Телекоммуникации» очных и заочных форм обучения технических университетов.
Излагаются вопросы теории обратного рассеяния, принципы построения современных рефлектометров и систем контроля параметров волоконно-оптических структур. Приведены основные характеристики, а также структурные схемы рефлектометрических систем и устройств.
Табл.- 2 . Ил. - 65 . Библиогр.: 62 назв.
Рецензенты: Марийский государственный технический университет;
Филлипов В.Л., д.ф.-м.н., профессор ФГУП НПО ГИПО
|
Д. Л. Айбатов, О. Г. Морозов, Ю.Е.Польский, 2008 |
|
ЗАО «Новое знание», 2008
|
ВВЕДЕНИЕ |
|
Быстрое развитие волоконной оптики и, в частности, волоконно-оптических систем передачи (ВОЛП) потребовало разработки удобных в эксплуатации и надежных методов диагностики характеристик волоконных световодов (ВС) и кабелей на их основе. Среди многочисленных методов таких исследований наибольшее внимание привлекает так называемый метод обратного рассеяния (МОР), или как его часто называют OTDR-метод (optical time domain reflectometry – оптическая рефлектометрия во временной области), предложенная несколько лет назад американскими учеными Барноски [1] и Персоником [2]. Об этом свидетельствуют многочисленные работы по МОР, количество которых быстро возрастает [1–5]. Большой интерес обусловлен рядом особенностей МОР: во-первых, он обладает уникальной способностью определить распределение характеристик, в частности потерь света, по длине ВС без их разрушения; во-вторых, МОР достаточно универсален и пригоден для изучения целого ряда параметров ВС; и, в третьих, МОР перспективен для изучения различных физических процессов и создания распределенных датчиков физических величин и полей. В общих чертах, принцип действия МОР основан на анализе временной формы сигнала, рассеянного назад при прохождении по ВС коротких зондирующих оптических импульсов. В такой форме данный метод получил название OTDR, однако в ряде случаев анализируются также поляризационные свойства обратного рассеяния, кроме того, зондирующий сигнал может иметь не импульсную (во времени) форму. Для усовершенствования МОР во временной области в начале 80-х годов был разработан МОР в частотной области [6]. В дальнейшем мы будем пользоваться более общим, на наш взгляд, обозначением – рефлектометрия.
Современный этап развития рефлектометрических систем направлен на дальнейшее улучшение их характеристик, изыскание новых принципов зондирования и регистрации рефлектометрической информации, разработку высокоточных измерительных преобразователей и базируется на использовании систем с непрерывным излучением. Такой акцент объясняется, во-первых, энергетической эквивалентностью импульсного зондирования с высокой пиковой мощностью и малой длительностью импульса и непрерывного зондирования с малой мощностью излучения и большим временем наблюдения, во-вторых, отработанной методикой получения пространственно-разрешенных измерений, основанной на методе линейной частотной модуляции, в-третьих, значительным прогрессом в области создания высокотехнологичной и недорогой элементной базы (источников излучения с большой длиной когерентности, широкополосных устройств управления параметрами излучения и быстродействующих фотоприемных устройств).
Подавляющее большинство непрерывных рефлектометрических систем представляют собой гомодинные системы, в которых несущие частоты опорных и измерительных каналов совпадают. Такие системы обладают простой конструкцией и возможностью непосредственного выделения и регистрации информационного сигнала. Однако в процессе фотоэлектрического преобразования в них существенную роль играют шумовые характеристики источников излучения и фотоприемников, низкочастотные шумы характерные для структурных узлов, что значительно ухудшает метрологические характеристики, а также функциональные возможности указанных систем.
Решение проблем гомодинных рефлектометрических систем основано на использовании двухчастотных методов. В этом случае, системы преобразуются в гетеродинные, у которых частоты опорных и измерительных каналов не совпадают, а смещение частот достигается за счет использования устройств формирования двухчастотного лазерного излучения (УФДЛИ). Гетеродинные системы можно разделить на два типа несимметричные и симметричные. Для несимметричных систем характерно сохранение опорной частоты в опорном канале и наличие сдвинутой относительно нее измерительной, либо наличие двух измерительных частот, одна из которых совпадает с опорной, в измерительном канале. Для симметричных систем характерно сохранение опорной частоты в опорном канале и наличие двух измерительных частот, симметрично сдвинутых относительно опорной, в измерительном.
В настоящем учебном пособии дан анализ физических особенностей оптической рефлектометрии, получены основные выражения для регистрируемых в эксперименте сигналах, рассмотрены различные варианты практической реализации методов, а также наиболее распространенные случаи применения их для исследований свойств ВС и элементов ВОЛП.
В главе 1 рассмотрены физические особенности рэлеевского, бриллюэновского и рамановского рассеяний.
В главах 2 и 3 представлены методы измерений и структуры несимметричных и симметричных систем рэлеевской рефлектометрии во временной и частотной областях.
В главе 4 рассмотрены вопросы применения симметричных систем рэлеевской рефлектометрии.
В главе 5 изучаются вопросы методологии измерений, синтеза структур и применения симметричных систем бриллюэновской и рамановской рефлектометрии.
В главах 6 – 8 обсуждаются вопросы, связанные с используемой в рефлектомтерических системах элементной базой, а именно, принципы построения источников измерительных сигналов, симметричных УФДЛИ и приемников рефлектометрических сигналов соответственно.
ГЛАВА 1 |
ВИДЫ РАССЕЯНИЯ В ВОЛОКОННЫХ СВЕТОВОДАХ И ИХ ИНФОРМАЦИОННАЯ СОСТАВЛЯЮЩАЯ |