- •1.Аморфты және сұйық материалдарды алу және зерттеудің негізгі этаптары ( кезеңдері )
- •1) Газ тәріздес металдарда
- •2) Ионизацияланған металдарда
- •2.«Аморфты және сұйық материалдар» курсының анықтамасы, теориялық негіздері.
- •3.Вакуумдық техника
- •4.Форвакуумдық сорғыш
- •5Диффузиялық сорғыш.
- •6Вакуумдық лампалар жұмыс істеу принципі
- •7.Қатты денелердегі химиялық байланыстардың типтер
- •8.Аморфты және сұйық материалдар.
- •10Кристалдың және ретсіз заттардың энтальпиясы мен энергиясы
- •11Термиялық әдіспен жұқа қабықшаларды орналастыру
- •14.Тасымалдаушылардың потенциалдық энергиясындағы кездейсоқ және кездейсоқ емес ауытқулар
- •15.Магнетрондық әдіспен аморфты көміртек қабықшаларын алу
- •16. Аморфты металдарды алу жолдары.
- •Аморфты металдарды бірнеше әдістермен алу;
- •19. Рентген құрылымдық сараптау.
- •21.Нейтрондар дифракциясы
- •23. Аморфты қабатты күлгін разрядта орналастыру.
- •25.Газдық фазадан аморфты көміртек қабықшаларын алу.Булы фазада химиялық орналастыру. ( cvd)
- •26.Сутегі ендірілген аморфты кремнийді алу жолдары
- •27.Әртүрлі құрылымдық модификациада аморфты алмазтәріздес көміртегі қабықшаларын алу
- •28.Ретсіз орналасқан атомдық құрылымдағы алыс және жақын қатарлары туралы түсінік.
- •29.Бекітілген қатар.
- •33. Атомдар орналасуындағы жақын көршілер саны.
- •34. Жоғары жиілікте тозаңдату әдісімен алынған халькогенидті жартылай өткізгіштердің электрөткізгіштігін анықтау.
- •35. Ретсіз құрылымды жартылай өткізгіштің жады мен айырып қосу эффектісі.
- •36.Шыны тәріздес заттар
- •38Тотыққан шынылардың химиялық байланысы, құрамы, құрылысы.
- •39.Көміртек ендірілген аморфты кремний қабықшаларын зерттеу
- •40.Кристалл емес жартылай өткізгіштер негізінде жасалған резистер мен оптикалық ақпарат тасушылар.
- •41Шыны тәріздес халькогенидті жартылай өткізгіштер. Аморфты германий, кремний, көміртегі
- •42Аморфты материалдардың оптикалық қасиеттерін зерттеу
- •43Аморфты және сұйық металдар және асқын өткізгіштер. Асқын өткiзгiштiк
- •44Аморфты металдар құрылысы. Меншікті кедергі. Орташа атомдық магнит моменті.
- •46.Андерсон бекітілуі. Бекітілген және бекітілмеген электрондық күйлер. Электрондық күйлердің тығыздығы
- •47.Аморфты материалдардың Раман спектрі.
- •48. Ретсіз құрылымды жартылай өткізгіштердегі және диэлектриктердегі электрондардың энергетикалық спектрі. Зоналық модельдер.
- •49. Құрылымның өздік ақаулары.
- •51. Ығыспалы қозғалгыштыкты аныктау әдісі. Ти- жане вч- қабыкшалардағы As2Se3 и As2s3 заряд тасымалдаушыларының ығыспалы қозғалгыштығы.
- •52. Электрография
- •53. Ионды плазмалы тозаңдатумен алынған As-Se системалы аморфты қабыкшалардағы электрондардың энергетикалық спектрінің ерекшеліктері
- •54. Аморфты алмазтәріздес көміртекті (а-с:н) қабыкшаларының электрондық жане кұрылымдық қасиеттерін модификациалау.
- •60 Химиялық байланыс түріне тәуелді кристалдық материалдардың физикалық
51. Ығыспалы қозғалгыштыкты аныктау әдісі. Ти- жане вч- қабыкшалардағы As2Se3 и As2s3 заряд тасымалдаушыларының ығыспалы қозғалгыштығы.
Вакуумда термиялық шашырау (ТШ-қабықшалары) әдісімен алынған халькогенитті шынылы As2 Se3 және артық мышьякты құрамды монолиттік үлгілер сияқты қабықшаларында қозғалғыш заряд тасымалдаушылар тек қана кемтіктер болып табылады. Бұл ХСП-дағы Фермий деңгейі тиым салынған зонаның ортасында орналасқан және электрондарды терең қармағыштардың қармауына байланысты. Ионды-плазмалық (жоғары жиілікпен тозаңдату әдісімен алынған ЖЖ-қабықша). Осы ХСП жүйесінің аморфты қабықшаларда қозғалғыш заряд тасымалдаушылары болып кемтіктер сияқты, электрондар да саналады. ХСП-дағы заряд тасымалдаушылардың дрейфі локальденген күйімен бақыланады, ТШ және ЖЖ-қабықшаларының электрондық күйлерінің спектрінде айтарлықтай айырмашылық бар, осы құблысты түсіндіретін сапалы модель ұсынылған болатын. ЖЖ-қабықшақтардағы қозғалғыш электрондардың пайда болуының және қабыршалардағы мышьяк атомдарының концентрациясының өсуімен (ұлғаюымен) электрондар мен кемтіктер қозғалғыштығының өзгеруі түсіндірілмей қалды. Сонымен қатар, ХСП локальденген күйден күрделі энергетикалық спектрге ие, қаыптастырудың айтарлықтай үлесін өзіндік деффекттер құрайды, ол корреляцияның теріс эффективті энергиясының ортасы U- деп аталады. Бұл орта нүктелік зарядталған деффекттер (ақаулар) D+ және D- күйінде болады, экзотермиялық реакцияда нейтральді исходный күйде D0 құрылған.
(14.2)
Қозғалғыш массалар заңына сәйкес концентрациялардың D+ және D- сандық қатынасы мына түрде жазылады:
(14.3)
D+ және D- ортасы ХСП-да тыйым салынған зонаның ортасына Фермий деңгейін бекітеді және электрондар мен кемтіктер үшін ловушка (қақпан) болып табылады, заряд тасымалдаушылардың тасымалдауын бақылайды.
Вакуумда ионды-плазмалық жоғары жиілікті тозаңдату және термиялық буландыру әдісімен алынған U—ортасында модельді ұсынымдар бағдарынан заряд тасымалдаушылардың дрейфтік қозғалысын зерттеудің экспериментальді нәтижесін қарастырайық стехиометриялық құрамды As2 S3 қабықшаларында және артық құрамды мышьяктағы As2 S3, As3 Se2
14.10-суретте электрондар мен кемтіктердің дрейфтік қозғалғыштығының электр өрісі кернеуі E=105B/см және температура T=300K кезіндегі мышьяк концентрациясынан тәуелділігі көрсетілген суреттен, ТИ-қабықшаларында қозғалғыш тасымалдаушылар тек кемтіктер екенін көруге болады. Стехиометриялық құрамды As2 Se3 қабыршақ үшін μp≈2×10-5см2/(В×с) құрайды. Қабықшада мышьяк концентрациясының 40-тан 60 ат.%-ға ұлғаюынан кемтіктің дрейфтік қозғалғыштығы айтарлықтай азаяды, ал As3 Se2-де μp≈2×10-7см2/(В×с) құрайды.
14.10-сурет Вакуумда ЖЖ-тозаңдату (1,2) және термиялық шашыратудан алынған As S жүйелі аморфты қабықшадағы кемтіктердің (1,3) және электрондардың (2) дрейфтік қозғалғыштығының мышьяк конструкциясынан тәуелділігі, F=105 B/см, T=300K.
ЖЖ-қабықшалардың ТШ-қабықшалардан айырмашылығы, қозғалғыш заряд тасымалдаушылар кемтіктер мен қатар электрондар, оның үстіне As2 S3 құрамы үшін электрондар мен кемтіктер практикалық түрде сәйкес және μр≈μn≈10-5см2/(В×с) құрайды, яғни бұл қабықшаларда биполярлық тасымалдау байқалады. Мышьяктың құрамы артқан сайын осы жүйедегі қабықшада μn айтарлықтай көбейеді және μр едәуір азаяды. Мысалы, As3 Se2 құрамы үшін электрондар мен кемтіктердің қозғалғыштығы μn≈2×10-4 см2/(В×с) және
μр≈5×10-7см2/(В×с), яғни монополярлы электрондық тасымалдау практикалық түрде байқалады.
