- •Вольтамперная характеристика (вах)
- •Обозначения и маркировка полупроводниковых диодов
- •Коэффициенты усиления тока
- •3) Режим насыщения
- •3) Режим насыщения
- •Классификация и маркировка биполярных транзисторов
- •Создание лабораторных макетов для исследования биполярных транзисторов
- •Исследование диодов
- •Список литературы
- •Продолжение приложения а
- •Продолжение приложения б
Создание лабораторных макетов для исследования биполярных транзисторов
Создание лабораторных макетов для исследования биполярных транзисторов аналогично созданию лабораторных макетов для исследования диодов. Согласно рисунку 16, производится выбор компонентов, в соответствии с таблицей 4 и таблицей 5, при этом каждый выбранный элемент фиксируется кнопкой «OK» и переносится на рабочее поле.
Таблица 4 – Элементы схем
Group |
Family |
Component |
Sources |
POWER_SOURCES |
DC_POWER (4 шт.) |
GROUND (2 шт.) |
||
SIGNAL_CURRENT_SOURCES |
DC_CURRENT (2 шт.) |
|
Indicators |
VOLTMETER |
VOLTMETER_V (4 шт.) |
AMMETER |
AMMETER_H (4 шт.) |
|
Transistors |
BJT_NPN |
Приложение Б (2 шт.) |
Таблица 5 – Элементы схем
Group |
Family |
Component |
Sources |
POWER_SOURCES |
DC_POWER (4 шт.) |
GROUND (2 шт.) |
||
SIGNAL_CURRENT_SOURCES |
DC_CURRENT (2 шт.) |
|
Indicators |
VOLTMETER |
VOLTMETER_V (4 шт.) |
AMMETER |
AMMETER_H (4 шт.) |
|
Transistors |
BJT_PNP |
Приложение Б (2 шт.) |
Далее из элементов необходимо собрать моделируемые схемы для исследования биполярных транзисторов n-p-n типа по схеме с ОБ и ОЭ, в соответствии с рисунком 20 (а, б), и для исследования биполярных транзисторов p-n-p типа по схеме с ОБ и ОЭ, в соответствии с рисунком 20 (в, г), соблюдая полярность источников питания и направления токов. Для того, чтобы поменять положение элемента необходимо выбрать пункт меню «Edit» → «Orientation».
VT
а )
VT
б)
VT
в)
VT
г)
Рисунок 20 – Моделируемые схемы
Изменение напряжения источника питания производится согласно рисунку 18. Для изменения силы тока в источнике тока производится двойной щелчок «мышью» на его изображении. В открывшемся диалоговом окне, в соответствии с рисунком 21, выбирается вкладка «Value». Значение вводится в поле «Current (I)». Предварительно необходимо выставить требуемые единицы измерения.
Рисунок 21 – Свойства источника тока
Внимание! Перед изменением параметров необходимо произвести выключение схемы, выбрав пункт меню «Simulate» → «Stop».
Порядок выполнения работы
Исследование диодов
Исследование прямой и обратной ветвей ВАХ диодов
Собрать моделируемую схему, в соответствии с рисунком 17 (а);
Изменяя инкремент потенциометра R2, снять прямую ветвь ВАХ диода, контролируя прямые токи и напряжения по приборам A1 и V1 соответственно. Данные измерений занести в таблицу 6;
Переключить схему в режим снятия обратной ветви ВАХ диода щелчком «мыши» на компоненте SPDT;
Изменяя инкремент потенциометра R3, снять обратную ветвь ВАХ диода, контролируя обратные токи и напряжения по приборам A2 и V2 соответственно. Данные измерений занести в таблицу 6;
По данным таблицы 6 построить в одном масштабе графики прямой и обратной ветвей ВАХ диода;
Рассчитать сопротивления диода при прямом и обратном включениях по формуле:
(18)
Сделать выводы.
Таблица 6 – Данные измерений ВАХ диода
Инкремент потенциометра, [%] |
0 |
10 |
20 |
30 |
40 |
50 |
60 |
70 |
80 |
90 |
100 |
|
Прямая ветвь |
I, [мА] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
U, [В] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Обратная ветвь |
I, [мА] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
U, [В] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Исследование прямой и обратной ветвей ВАХ стабилитронов
Собрать моделируемую схему, в соответствии с рисунком 17 (б);
Изменяя инкремент потенциометра R2, снять прямую ветвь ВАХ стабилитрона, контролируя прямые токи и напряжения по приборам A1 и V1 соответственно. Данные измерений занести в таблицу 7;
Переключить схему в режим снятия обратной ветви ВАХ стабилитрона щелчком «мыши» на компоненте SPDT;
Изменяя инкремент потенциометра R4, снять обратную ветвь ВАХ стабилитрона, контролируя обратные токи и напряжения по приборам A2 и V2 соответственно. Данные измерений занести в таблицу 7;
По данным таблицы 7 построить в одном масштабе графики прямой и обратной ветвей ВАХ стабилитрона;
Рассчитать сопротивления стабилитрона при прямом и обратном включениях по формуле (18);
Сделать выводы.
Таблица 7 – Данные измерений ВАХ стабилитрона
Инкремент потенциометра, [%] |
0 |
10 |
20 |
30 |
40 |
50 |
60 |
70 |
80 |
90 |
100 |
|
Прямая ветвь |
I, [мА] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
U, [В] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Обратная ветвь |
I, [мА] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
U, [В] |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Исследование биполярных транзисторов
Исследование биполярных транзисторов по схеме с ОБ
а) Исследование входных характеристик
Собрать моделируемые схемы, в соответствии с рисунком 20 (а, в);
Изменяя значение входного напряжения UЭБ, снять входные характеристики n-p-n и p-n-p транзисторов, контролируя ток IЭ амперметром A1, при этом поддерживая выходное напряжение UКБ постоянным. Данные измерений занести в таблицу 8;
По данным таблицы 8 построить в одном масштабе ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов;
Определить входное сопротивление n-p-n и p-n-p транзисторов по формуле:
(19)
Сделать выводы.
Таблица 8 – Данные измерений ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов
UЭБ, [В] |
0,57 |
0,59 |
0,61 |
0,63 |
0,65 |
0,67 |
0,69 |
0,71 |
0,73 |
1 |
||
n-p-n транз. |
IЭ, [мА] |
UКБ = 0 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
UКБ = 5 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
p-n-p транз. |
IЭ, [мА] |
UКБ = 0 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
UКБ = 5 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
б) Исследование выходных характеристик
На входе схем заменить компонент DC_POWER на компонент DC_CURRENT;
Изменяя значение выходного напряжения UКБ, снять выходные характеристики n-p-n и p-n-p транзисторов, контролируя ток IК амперметром A2, при этом поддерживая входной ток IЭ постоянным. Данные измерений занести в таблицу 9;
По данным таблицы 9 построить в одном масштабе ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов;
Рассчитать следующие параметры n-p-n и p-n-p транзисторов:
4.1) Коэффициент усиления согласно формуле:
4.2) Входное сопротивление транзисторов по формуле:
(20)
где сопротивление базы
= 100
200 Ом;
сопротивление эмиттера rЭ определяется как:
среднее значение тока эмиттера IЭср вычисляется как:
4.3) Сравнить результаты Rвх, полученные по формулам (19) и (20).
Сделать выводы.
Таблица 9 – Данные измерений ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов
UКБ, [В] |
0 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
||
n-p-n транз. |
IК, [мА]
|
IЭ = 4 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
IЭ = 8 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IЭ = 12 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IЭ = 16 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
p-n-p транз. |
IК, [мА]
|
IЭ = 4 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
IЭ = 8 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IЭ = 12 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IЭ = 16 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Исследование биполярных транзисторов по схеме с ОЭ
а) Исследование входных характеристик
Собрать моделируемые схемы, в соответствии с рисунком 20 (б, г);
Изменяя значение входного напряжения UБЭ, снять входные характеристики n-p-n и p-n-p транзисторов, контролируя ток IБ амперметром A1, при этом поддерживая выходное напряжение UКЭ постоянным. Данные измерений занести в таблицу 10;
По данным таблицы 10 построить в одном масштабе ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов;
Определить входное сопротивление n-p-n и p-n-p транзисторов по формуле:
(21)
Сделать выводы.
Таблица 10 – Данные измерений ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов
UБЭ, [В] |
0,57 |
0,59 |
0,61 |
0,63 |
0,65 |
0,67 |
0,69 |
0,71 |
0,73 |
1 |
||
n-p-n транз. |
IБ, [мА] |
UКЭ = 0 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
UКЭ = 5 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
p-n-p транз. |
IБ, [мА] |
UКЭ = 0 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
UКЭ = 5 В |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
б) Исследование выходных характеристик
На входе схем заменить компонент DC_POWER на компонент DC_CURRENT;
Изменяя значение выходного напряжения UКЭ, снять выходные характеристики n-p-n и p-n-p транзисторов, контролируя ток IК амперметром A2, при этом поддерживая входной ток IБ постоянным. Данные измерений занести в таблицу 11;
По данным таблицы 11 построить в одном масштабе ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов;
Рассчитать следующие параметры n-p-n и p-n-p транзисторов:
4.1) Коэффициент усиления β согласно формуле:
4.2) Входное сопротивление транзисторов по формуле:
(22)
где сопротивление базы = 100 200 Ом;
сопротивление эмиттера rЭ определяется как:
среднее значение тока эмиттера IЭср вычисляется как:
токи IЭ1 и IЭ2 определяются по формулам:
;
4.3) Сравнить результаты Rвх, полученные по формулам (21) и (22).
Сделать выводы.
Таблица 11 – Данные измерений ВАХ n-p-n и p-n-p транзисторов
UКЭ, [В] |
0 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
||
n-p-n транз. |
IК, [мА]
|
IБ = 0,05 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
IБ = 0,1 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IБ = 0,15 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IБ = 0,2 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
p-n-p транз. |
IК, [мА]
|
IБ = 0,05 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
IБ = 0,1 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IБ = 0,15 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
IБ = 0,2 мА |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
Содержание отчета
Отчет по лабораторной работе должен содержать:
Маркировку исследуемых диодов и биполярных транзисторов;
Схемы включения диодов и биполярных транзисторов;
Таблицы с результатами измерений;
Графики ВАХ диодов и биполярных транзисторов;
Расчет параметров диодов и биполярных транзисторов;
Выводы о проделанной работе.
