2.2.2 Построение диагностического теста

Для построения диагностического теста, согласно выражению 2.6, для каждой пары неисправностей ТФН находим различающую функцию:

φ_1,2=1v3v5v7

φ_1,3=0v1v3v4

φ_1,4=1v2v3v6

φ_1,5=1v3v6

φ_1,6=1v3v5v7

φ_1,7=0v1v3v4

φ_1,8=3

φ_2,3=0v4v5v7

φ_2,4=2v5v6v7

φ_2,5=5v6v7

φ_2,6= —

φ_2,7=0v4v5v7

φ_2,8=1v5v7

φ_3,4=0v2v4v6

φ_3,5=0v4v6

φ_3,6=0v4v5v7

φ_3,7= —

φ_3,8=0v1v4

φ_4,5=2

φ_4,6=2v5v6v7

φ_4,7=0v2v4v6

φ_4,8=1v2v6

φ_5,6=5v6v7

φ_5,7=0v4v6

φ_5,8=1v6

φ_6,7=0v4v5v7

φ_6,8=1v5v7

φ_7,8=0v1v4

Диагностический тест первого вида определяем согласно выражению 2.7, при этом предполагается, что диагностируемая схема неисправна.

Диагностический тест имеет вид:

Т_д= φ_1,2∙ φ_1,3∙ φ_1,4∙ …∙ φ_4,8∙ …∙ φ_7,8=

=(1v3v5v7)∙(0v1v3v4)∙(1v2v3v6)∙(1v3v6)∙3∙(0v4v5v7)∙(2v5v6v7)∙

∙(5v6v7)∙(0v2v4v6)∙(0v4v6)∙(0v1v4)∙2∙(1v2v6)∙(1v6)=

=2∙3∙(0v4v5v7)∙(5v6v7)∙(0v4v6)∙(0v1v4)∙(1v6) (2.16)

После выполнения процедуры минимизации полученного выражения и рассмотрения всего множества диагностических тестов получим, что оно содержит два минимальных теста:

Т_д1=0∙2∙3∙6

Т_д2=2∙3∙4∙6

Словарь неисправностей для Т_д1 представлен в таблице 2.7.

Словарь неисправностей для Т_д2 представлен в таблице 2.8.

Таблица 2.7 — Словарь неисправностей для Т_д1

Входной набор				F	f1	f2	f3	f4	f5	f6	f7	f8
					при внесении неисправности
№	a	b	c		a1	a0	b1	b0	c11	c10	c21	c20
0	0	0	0	1	1	1	0	1	1	1	0	1
2	0	1	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0
3	0	1	1	0	1	0	0	0	0	0	0	0
6	1	1	0	0	0	0	0	1	1	0	0	0

Таблица 2.8 — Словарь неисправностей для Т_д2

Входной набор				F	f1	f2	f3	f4	f5	f6	f7	f8
					при внесении неисправности
№	a	b	c		a1	a0	b1	b0	c11	c10	c21	c20
2	0	1	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0
3	0	1	1	0	1	0	0	0	0	0	0	0
4	1	0	0	1	1	1	0	1	1	1	0	1
6	1	1	0	0	0	0	0	1	1	0	0	0

Поиск неисправности в заданной схеме осуществляется следующим образом. На входы схемы последовательно подают входные наборы, входящие в диагностический тест. Для каждого случая фиксируют значения выхода схемы по состоянию реле F. Полученные результаты сравнивают с данными, приведенными в словаре неисправностей. Совпадение состояний выхода и состояний, приведенных в словаре неисправностей, указывает на неисправность или на класс эквивалентных неисправностей.

Точное указание неисправности внутри класса эквивалентных неисправностей возможно только при измерениях во внутренних точках схемы, соответствующих классу эквивалентных неисправностей.

Диагностический тест второго вида определяется в том случае, если заранее неизвестно, что тестируемая схема неисправна. В этом случае диагностический тест Т_д′ определяется по выражению 2.12.

Т_д′=Т_п∙ φ_1,2∙ φ_1,3∙ φ_1,4∙ …∙ φ_4,8∙ …∙ φ_7,8=

=0∙1∙5∙6∙2∙3∙(0v4v5v7)∙(5v6v7)∙(0v4v6)∙(0v1v4)∙(1v6) (2.17)

После минимизации полученного выражения получаем множество диагностических тестов. Из результатов анализа полученного множества следует, что оно содержит один минимальный тест Т_д′=0∙1∙2∙3∙5∙6

Словарь неисправностей для минимального диагностического теста Т_д′ представлен в таблице 2.9.

Таблица 2.9 — Словарь неисправностей для Т_д′

Входной набор				F	f1	f2	f3	f4	f5	f6	f7	f8
					при внесении неисправности
№	a	b	c		a1	a0	b1	b0	c11	c10	c21	c20
0	0	0	0	1	1	1	0	1	1	1	0	1
1	0	0	1	0	1	0	0	0	0	0	0	1
2	0	1	0	0	0	0	0	1	0	0	0	0
3	0	1	1	0	1	0	0	0	0	0	0	0
5	1	0	1	1	1	0	1	1	1	0	1	1
6	1	1	0	0	0	0	0	1	1	0	0	0

Поиск неисправности в схеме осуществляется также, как и в случае диагностического теста Т_д.