
- •Isbn 5-03-001053-х (русск.) isbn 0-306-42967-5 (англ.)
- •1.1. Спонтанное и вынужденное излучение; поглощение
- •1.1.1. Спонтанное излучение (рис. L.Lf а)
- •1.1.2. Вынужденное излучение (рис. 1л?б)
- •1.2. Принцип работы лазера
- •1.3. Схемы накачки.
- •БН&лиогека вшшгездячшсогв институт з
- •1.4. Свойства лазерных пучков
- •1.4.1. Монохроматичность
- •1.4.2. Когерентность
- •1.4.3. Направленность
- •Электромагнитная Волна
- •1*4.4. Яркость
- •1.4.5. Импульсы малой длительности
- •1.5. Структура книги
- •2.1. Введение
- •2.2. Теория излучения черного тела [1]
- •2.3. Поглощение и вынужденное излучение
- •2,3.1. Вероятности поглощения и вынужденного излучения
- •2.3.3. Механизм уширения линии
- •2.3.3.1. Однородное ушарение
- •2.3.3.2. Неоднородное уширение
- •2.3,3.3. Выводы и примеры
- •2.3.4. Сечение перехода, коэффициенты поглощения и усиления
- •2.4, Спонтанное излучение
- •2.4 Л. Полуклассический подход
- •2.4.2. Квантовоэлектродинамический подход
- •2.4.3. Термодинамический подход Эйнштейна
- •2.4.4. Связь между спонтанным временем жизни
- •Ол *споит
- •2.4.5, Заключительные замечания
- •2.5. Безызлучательная релаксация [11]
- •2.6. Насыщение
- •2.6.1. Насыщение поглощения; однородно уширенная линия
- •2.6.3. Неоднородно уширенная линия
- •2.7. Релаксация многоатомной системы
- •2.7.1. Захват излучения
- •2.7.2. Сверхизлучение и суперлюминесценция
- •2,8. Вырожденные уровни
- •2.9. Молекулярные системы
- •2,9,1. Энергетические уровни молекул
- •2.9.2. Заселенность уровней при тепловом равновесии
- •2.9.3. Излучательные и безызлучательные переходы
- •2.9.4. Квантовомеханический расчет вероятностей
- •Литература
- •3.1. Введение
- •3.2. Оптическая накачка [1, 2]
- •3.2.1. Кпд накачки
- •3,2.2. Излучательная эффективность и эффективность передачи1)
- •3,2.5. Заключительные замечания
- •3.3. Электрическая накачка
- •3.3.1. Физические свойства газовых разрядов [10—12]
- •3.3.2. Возбуждение электронным ударом
- •3.3.2.1. Сечение электронного удара [13]
- •3.3.2.2. Распределение энергии электронов
- •3.3.2.4. Уравнение ионизационного равновесия
- •3.3.2.5. Вычисление скорости накачки
- •3.3.3. Возбуждение посредством (около)резонансной
- •3J1. Покажите, что упругие столкновения встречаются значительно более
- •3.12. Теория амбиполярной диффузии дает следующее соотношение между электронной температурой т„ и произведением pD:
- •Литература
- •4.1. Введение
- •4.2. Некоторые разделы геометрической и волновой оптики
- •4.2.1. Матричная формулировка геометрической оптики [1]
- •4.2.2. Интерферометр Фабри—Перо [2]
- •4.2.3. Многослойные диэлектрические покрытия [3, 4]
- •Падают пучок
- •Отраженный
- •4.3. Время жизни фотона и добротность резонатора
- •4.4. Плоскопараллельный резонатор
- •4.4.1. Приближенная теория
- •4.4.2. Теория Фокса и Ли
- •4,5, Конфокальный резонатор [8]
- •4.6. Распространение гауссова пучка
- •Волны (б).
- •4.7. Обобщенный сферический резонатор [8]
- •4.7.1. Амплитуды мод
- •4.7.2. Резонансные частоты и дифракционные потери
- •4.7.3. Условие устойчивости
- •1 Положительная
- •(Кпршщтщшт ветвь
- •Отрицательная йетвь
- •4.8. Неустойчивые резонаторы [14, 15]
- •4.8.1. Геометрическое описание
- •4.8.2. Описание с помощью волновой оптики
- •4.8.3. Достоинства и недостатки неустойчивых резонаторов
- •4.8.4. Неустойчивые резонаторы с переменным коэффициентом отражения
- •Литература
- •5Л. Введение
- •5.2. Скоростные уравнения [2, 3]
- •5.2.1. Четырехуровневый лазер
- •5.2.2. Трехуровневый лазер
- •5.3. Непрерывный режим работы лазера
- •5.3.1. Четырехуровневый лазер
- •5.3.2. Трехуровневый лазер
- •5.3.3. Оптимальная связь на выходе лазера [7]
- •5.3.4. Перестройка частоты генерации лазера
- •5*3.5. Одномодовая и многомодовая генерация
- •5.3S.L Причины возникновения многоходовой генерации
- •5.3.5.2. Одномодовый режим генерации
- •5*3.6. Два числовых примера
- •5.3.8. Провал Лэмба и активная стабилизация
- •5.4, Нестационарный режим работы лазера
- •5.4Л, Релаксационные колебания в одномодовых лазерах
- •5.4.2, Пичковый режим многомодовых лазеров
- •5.4,3. Модуляция добротности [21]
- •5.4.3.1. Методы модуляции добротности
- •Дисррскшрозиитт пучок
- •5.4.3.2. Режимы генерации
- •5.4.3.4. Числовой пример
- •5.4.4. Модуляция усиления
- •5.4.5. Синхронизация мод [26, 27]
- •5.4Mj. Методы синхронизации мод
- •Машцштшйсн поглотитель
- •5.4.5.2. Лазерные системы с сихронизацией мод
- •5.4.6. Разгрузка резонатора
- •Выходной пучок
- •Ахтпшная среда
- •Дифрагированные пучки
- •5.5. Заключительные замечания
- •Литература
- •5. Непрерывный и нестационарный режимы работы лазеров
- •6.2. Твердотельные лазеры
- •6.2.1. Рубиновый лазер [1]
- •6.2.2. Неодимовые лазеры [4—6]
- •6.2.2.1. Nd : yag-лазер
- •6.2X2. Стекло с неодимом [7]
- •6.2.3. Лазер на александрите [8]
- •6.3.1. Лазеры на нейтральных атомах
- •6.Зал. Гелий-неоновые лазеры
- •6.3.1.2. Лазеры на парах меди и золота [12]
- •6.3,2. Ионные лазеры
- •6,3.2.1. Аргоновый лазер [13, 14]
- •Метастабитные уровни
- •6.3.3. Молекулярные газовые лазеры
- •6,3.3.3. Азотный лазер [21]
- •6.3.3.4. Эксимерные лазеры [22]
- •6.4. Жидкостные лазеры (лазеры на красителях) [23]
- •6.4.1. Фотофизические свойства органических красителей
- •Синметные Тршетные состояния состояния
- •6,4.2, Параметры лазеров на красителях
- •Модулированной добротностью.
- •Зеркало накачки
- •6.5. Химические лазеры [26f 27]
- •6.5.1. Лазер на hf
- •6.6. Полупроводниковые лазеры [28]
- •6.6.1.3. Излучательные и безызлучательные переходы
- •6.61.4. Квазиуровни Ферми
- •6.6.2.1. Лазер на гомопереходе
- •6.6.2.2. Лазер на двойном гетеропереходе
- •6*6.4. Применения полупроводниковых лазеров
- •6.6.5. Упрощенная теория полупроводникового лазера
- •6.7. Лазеры на центрах окраски [37]
- •3EpKpj7i? с „высокой
- •I V/ ospxcuw Сатрираше rtrtacmuxxti
- •6,8. Лазер на свободных электронах [3.8]
- •6.9. Рентгеновские лазеры
- •6.10. Сводка параметров
- •Назовите хотя бы четыре лазера, длины волн которых попадают в ик-область спектра.
- •Вычислите ширину лэмбовского провала для с02-лазера с продольной прокачкой и сравните ее с доплеровской шириной.
- •Литература
- •7.1. Введение
- •7.2. Монохроматичность
- •7.3. Комплексное представление полей
- •7,4. Статистические свойства лазерного излучения и излучения тепловых источников
- •7.5. Когерентность первого порядка [3]
- •7.5.1. Степень пространственной и временной когерентности
- •7.5.2. Измерение пространственной и временной когерентностей
- •Сзетазал волна
- •7.5.3. Соотношение между временной когерентностью и монохроматичностью
- •7.5.5. Пространственная и временная когерентность одномодовых и многомодовых лазеров
- •7.6. Направленность
- •7.6.1. Пучки с полной пространственной когерентностью
- •(Лампы).
- •7.7. Лазерная спекл-картина [6, 7]
- •7.8. Яркость
- •7.9. Сравнение лазерного и теплового излучений
- •Литература
- •Преобразование лазерного пучка: распространение, усиление, преобразование частоты, сжатие импульса
- •8.1. Введение
- •8.2. Преобразование в пространстве; распространение гауссова Пучка
- •8.3. Преобразование амплитуды: лазерное усиление [6—8]
- •8.4. Преобразование частоты; генерация второй гармоники и параметрическая генерация [9-11]
- •8.4.1. Физическая картина
- •Химическая формула
- •8.4,1.2, Параметрическая генерация
- •8*4,2. Аналитическое рассмотрение
- •8.4.2.1. Параметрическая генерация
- •2Ш ф exp[/(aJte)l (8.90а)
- •8.5. Временное преобразование; сжатие импульса
- •6;Ic Дифракаматая решетка Сжатый импульс " о, г т д ифрякцаонноя решетки Одн&уюдззсе оптическое волокно
- •6 Пс примерно в 10 раз.
- •Литература
- •Полуклассическая теория взаимодействия излучения с веществом
- •Пространственно-зависимые скоростные уравнения
- •Теория активной синхронизации мод для однородно уширенной линии
- •Литература
- •Глава 1
- •Глава 2
- •Глава 3
- •Глава 4
- •Глава 5
- •Периодическая последова-
- •При замене суммы интегралом получается не тельность импульсов, а одиночный импульс.
- •Глава 6
- •Глава 7
- •Только в 2 раза. .
- •Глава 8
- •Введение
- •5.3. Непрерывный режим работы лазера 245 .
- •6. F Полупроводниковые лазеры г28м
(Лампы).
Если теперь апертура D собирающей линзы U удовлетворяет условию D = 28/= 2,44Я//^де f— фокусное расстояние линзы,
то линза будет собирать только свет, дифрагированный на диафрагме и формировать при этом когерентный пучок на выходе. Однако это доказательство является довольно упрощенным, поскольку оно использует соотношение (7.43), которое справедливо лишь в случае, когда диафрагма освещается светом, который уже является когерентным. Более строгое решение этой задачи требует изучения распространения частично-когерентных электромагнитных волн [3, с. 508—518]. Предположим для простоты (а также потому, что это нередко встречающийся на практике случай), что падающая на диафрагму волна не имеет пространственной когерентности. В этом случае из хорошо известной теоремы ван Циттерта—Цернике [3, с. 508—518] следует, что если пучок, выходящий из линзы V (см. рис. 7.9), должен иметь некоторое вполне определенное значение пространственной когерентности, то диаметр D линзы должен быть равен D = рХ//бГ,где р — числовой коэффициент, который зависит от заданной нами степени когерентности. Например, если мы потребуем, чтобы степень пространственной когерентности между двумя крайними точками Pi и Ро на краях линзы имела значение
\у (Ри Р2, 0) \ — 0,88, то мы получим р = 0,32. Это приводит к выражению
/) = 0,32Л/Дг, (7.55)
которое имеет такой же вид, как и выражение, полученное из первоначального упрощенного рассмотрения, но с другим (и фактически со значительно меньшим) числовым коэффиди-ентом.
7.7. Лазерная спекл-картина [6, 7]
После того как мы рассмотрели в предыдущих разделах когерентность первого порядка, упомянем теперь об удивительном явлении, характерном для лазерного излучения и называемом спекл-картиной. Спекл-картину можно увидеть, если наблюдать лазерный свет, рассеянный от стены или рассеивающего транспаранта. Наблюдаемый рассеянный свет состоит из хаотического скопления ярких и темных пятен (или спеклов) (рис. 7.10, а). Несмотря на хаотическое распределение пятен можно различить пятно (или зерно) средних размеров. Из первых же работ стало ясно, что это явление обусловлено интерференцией вторичных волн с усилением и ослаблением, распространяющихся от небольших рассеивающих центров, расположенных на поверхности стены или рассеивающего транспаранта.
Поскольку рассматриваемое явление наблюдается только тогда, когда излучение имеет высокую степень когерентности первого порядка, оно представляет собой неотъемлемое свойство лазерного излучения.
Физическую природу наблюдаемой зернистости нетрудно понять как при распространении света в свободном пространстве (рис. 7.10,6), так и при распространении его через систему формирования изображения (рис. 7.10,0), если рассмотреть случай, когда рабочие поверхности рассеивателей имеют очень большую шероховатость в масштабе оптических длин волн. При распространении в свободном пространстве результирующая оптическая волна в любой точке, находящейся на не слишком большом
расстоянии от рассеивающей поверхности, состоит из многих когерентных компонент или элементарных волн, каждая из которых испускается со своего микроскопического элемента поверхности. Обратившись к рис. 7.10,6, заметим, что расстояния, пройденные этими различными волнами, могут отличаться на много длин волн. Интерференция сдвинутых по фазе, но когерентных элементарных волн приводит к «зернистому» распределению интенсивности (или спекл-картине, как ее называют). Если оптическое устройство представляет собой систему формирования изображения (рис. 7.10, в)9 то при объяснении наблю-
■
8
д
аемой
картины необходимо учитывать как
дифракцию, так и интерференцию. Даже в
случае идеально скорректированной
системы формирования изображения
интенсивность света в данной точке
изображения может быть результатом
когерентного сложения вкладов световых
волн, испущенных из многих независимых
участков поверхности. Необходимо
только для гарантии суммирования
в каждой точке изображений
многочисленных сдвинутых по фазе
когерентных
наблЮдена»
в
кладов,
чтобы функция разрешения системы
формирования изображения была
широкой по сравнению с
микроскопическими
дефектами поверхности.
Функции spacctfttm
Нетрудно получить оценку по порядку величины размера зерна dg (т. е. средний размер пятен в спекл-карти-не) для двух рассмотренных выше схем. В первом случае (рис. 7.11, а) рассеянный свет регистрируется на фотопленке, расположенной на
расстоянии L от рассеивате-ля, причем между фотопленкой и рассеивателем никаких линз нет. Предположим, что в плоскости регистрации в некоторой точке Р существует светлый спекл. Это означает, что свет, дифрагированный на рассеивателе
(например, в точках Ри Р2 и 0), будет интерферировать в точке Р преимущественно с усилением, давая в результате ненулевое значение амплитуды поля. Подходя эвристически, при этом можно утверждать, что вклады от дифракции в точке Р от волн, рассеянных в точках
Pv Prv Pf и т. д., складываются (в среднем) в фазе с волнами, рассеянными в точках Р2, Pfv Р% и т. д. Теперь можно спросить, сколь далеко необходимо переместить точку Р вдоль оси х в
плоскости регистрации, чтобы расстроить наблюдаемую интерференцию с усилением. Это произойдет, когда вклады от волн, дифрагированных, например, от точек р\ и Р2 в новую точку Р' интерферируют с ослаблением, а не с усилением. В этом случае можем показать, что вклады от точек P'v Р'2 будут также интерферировать с ослаблением, как и в случае точек Р", Р" и т.д..
и
полная
интенсивность
света
будет
иметь
минимальное
значение.
Например,
выберем
точки
Pi
и
Р2
и
потребуем
чтобы
изменение
бл-координаты
х
точки
Р
было
таким,
что
соответствующее
изменение
б(Р2Р—Р]Р)
разности
длин
Р2Р
—
—
PiP
было
равно
К/2.
Поскольку
расстояние
Р^Р
= (х2+
L2)1/2
и
расстояние
Р,Р={[ф/2)-х}Ч/7К
то
(для
D<L)
получаем
6(Р2Р-
Рассеаватет
lies
— Р^) ж\D/2L)bx. Если потребовать, чтобы ЦР2Р-РХР) = 1/2, то находим
6* = ХЦО. (7.56)
рассмотреть
точки P't и Р'2 (или точки р" и Р'1
Рис. 7.11. К расчету размера зерна при распространении
света в свободном простран- п d п
стве (а) и через систему, фор- И т. Д.)., а не ТОЧКИ У\ И "2- UHOBH
мирующую изображение (б), все соответствующие вклады от
волн (в среднем) будут складываться с ослаблением, а не с усилением. Таким образом, для размера зерна de можно написать следующее приближенное выражение:
dg = 26* = 2KL/D. (7,57)
Следует заметить, что аналогичный подход можно использовать
при расчете диаметра пятна пучка в фокальной плоскости линз.
Рассмотрим случай, когда рассеиватель на рис. 7.11, а помещен
перед линзой с фокусным расстоянием f = L. Тогда максимум интенсивности будет в точке с координатой х = 0 (т. е. в центре
плоскости поскольку линза даст сферический вол-
новой фронт и вклады от волн, дифрагированных в точках
Pfv Р" и т. д., складываются в фазе с волнами, исходящими из точек Р" пятна в фокальной плоско-
сти снова приближенно дается выражением (7.57), и для рассматриваемого случая мы имеем dt = 2Х//Л Этот результат
Аналогичным образом нетрудно показать, что точно такой же результат получается, если
сравним с точным значением d = 2,44Х//Д полученным с помощью рис. 7.6. Следовательно, можно теперь понять следующее общее свойство дифрагированной волны: если вся апертура диаметром D дает когерентный вклад при формировании одного или многих пятен дифрагированным светом в плоскости регистрации на расстоянии L, то в любом случае минимальный размер пятна в этой плоскости приближенно равен 2XL/D". Заметим, что в случае рассеивателя этот когерентный вклад от всей
апертуры D имеет место при условии, что 1) диаметр ds отдельного рассеивающего центра гораздо меньше диаметра отверстия D и 2) в плоскости регистрации имеется существенное перекрытие ме'жду дифрагированными пучками от различных рассеивающих центров. Это означает, что сечение любого из этих пучков в плоскости регистрации (~ XL/d$) больше, чем среднее расстояние между ними (~D). Следовательно, длина L должна быть такой, чтобы выполнялось неравенство L > dsD/X. Например, если ds = 10 мкм и X = 0,5 мкм, то L > 20 D.
Второй случай, который мы рассмотрим, характеризуется
тем, что рассеянный свет регистрируется на фотопленке после
того, как он прошел через линзу, которая отображает рассеива-тель на фотопленку. Перед линзой помещена диафрагма диаметром D' (рис, 7.11,6). Если расстояние L снова является таким, что выполняется неравенство L > dsD/X, то диаметр зерна dg на линзе будет определяться выражением (7.57). Как и в предыдущем случае, будем считать, что 1) диаметр зерна dg много меньше диаметра отверстия Си 2) в плоскости регистрации
имеется существенное перекрытие пучков, дифрагированных от
различных зерен. Это означает, что сечение любого из данных
пучков в плоскости регистрации (XL'/de) больше, чем среднее расстояние между ними (£>'). В соответствии с (/.5/) это, очевидно, означает/что D' < D'{L'/L). Если оба этих предположения выполняются, то диаметр зерна dg в плоскости регистрации дается выражением
d'=2XL'/D'. (7,58)
о
В этом случае мы имеем целый пучок диаметром который
действует когерентно при формировании каждого отдельного
пятна дифрагированным светом. Заметим, что устройство на рис. 7.11,6 также соответствует случаю, когда глаз смотрит
*)
Поскольку
L
Д
то
распределение
поля
в
плоскости
регистрации
определяется
пространственным
фурье-преобразованием
распределения
во
входной
плоскости
[8].
Это
свойство
следует
из
общего
характера
фурье-преобразования.
(7.58), представляет собой диаметр зерна на сетчатке глаза. Заметим, что видимый диаметр зерна на рассеивающей поверхности dag—d/g(LfL')=2XLjD/. Он возрастает с увеличением
расстояния L, т. е. с увеличением расстояния между наблюдателем и рассеивающей поверхностью. В то же время он уменьшается с увеличением диаметра диафрагмы (например, когда глаз адаптирован в темноте). Оба этих результата действительно подтверждаются в экспериментах.
Спекл-шум часто является нежелательным свойством когерентного света. Пространственное разрешение объектов, освещенных лазерным светом, во многих случаях ограничивается
спекл-шумом. Спекл-шум возникает также в реконструированном изображении голограммы и ограничивает пространственное разрешение этого изображения. Поэтому были разработаны методы, которые уменьшают влияние спекл-картины при когерентном освещении объектов [7]. Однако спекл-шум не всегда является вредным эффектом. Действительно, разработаны методы, в которых используются свойства спекл-картины (спекл-интер-
ферометрия), чтобы определять довольно простым способом деформации крупных объектов, вызываемые, например, напряжениями или вибрациями [7].