- •Лабораторный практикум по Электрофизическим методам исследования диэлектриков
- •Введение
- •Тема 1. Приборы, используемые для проведения исследований электротехнических материалов
- •1.1. Мосты переменного тока
- •1.1.1. Мост переменного тока р577
- •1.1.2. Мост переменного тока р5026
- •1.1.3. Мост переменного тока р5058
- •1.1.4. Автоматические мосты переменного тока
- •1.2. Осциллографы
- •1.3. Генераторы
- •Тема 2. Проводимость полупроводников и металлов лабораторная работа № 2.1
- •2.1. Терморезисторы: термисторы и позисторы
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.2
- •2.2. Общие сведения о варисторах
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к работе
- •2. Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •7. Исследование зависимости сопротивления от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.3
- •2.3. Определение типа носителей в полупроводниках
- •2.3.1. Метод термозонда
- •2.3.2. Метод Холла
- •2.3.3. Определение концентрация и подвижности носителей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Определение типа носителей с помощью метода термозонда
- •1.1. Подготовка к работе
- •1.2. Определение типа носителей разных кристаллов
- •2. Исследования по методу Холла
- •2.1. Определение типа основных носителей в датчике Холла
- •2.3. Исследование вольтамперной характеристики датчика
- •2.4. Определение микропараметров кристалла датчика Холла
- •2.6. Определение зависимости эдс Холла от величины тока
- •2.9. Определение зависимости эдс Холла величины индукции в
- •Отчетные материалы
- •Тема 3. Поляризация диэлектриков Лабораторная работа № 3.1 "Исследование жидкокристаллических индикаторов"
- •3.1. Теоретические сведения о жк-индикаторах
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к измерениям
- •2. Изучение жк-сегментов индикатора
- •4. Исследование зависимости емкости Сn(u)
- •5. Определение зависимости значений Uпор от частоты f
- •6. Определение частоты fкр в зависимости от напряжения
- •7. Определение зависимостей ε(f) и tgδ(f) материала
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.2 "Активная сегнетокерамика"
- •3.2. Основные свойства сегнетоэлектриков
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка материалов
- •1. Испытание 1.
- •2. Испытание 2
- •2.6. Анализ зависимости параметров диэлектрика от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.3 "Исследование свойств радиочастотных кабелей"
- •3.3. Теоретические сведения о радиочастотных кабелях
- •3.3.1. Распространение электромагнитных волн по кабелю
- •3.3.2. Обозначение и строение радиочастотных кабелей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Тема 4. Диэлектрические потери Лабораторная работа № 4.1 "Исследование зависимости ε и tg диэлектрика от температуры и частоты"
- •4.1. Методы оценки диэлектрических потерь
- •4.1.1. Схемы замещения реального конденсатора
- •4.1.2. Расчет величины активных потерь в диэлектрике
- •4.1.3. Мост переменного тока р577
- •4.1.4. Зависимость tg от температуры и частоты
- •4.1.5. Зависимость от температуры и частоты
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка материалов
- •Отчетные материалы
- •Тема 5. Пробой диэлектриков Лабораторная работа № 5.1
- •5.1. Общие сведения о пробое воздуха
- •5.1.1. Влияние различных факторов на пробой воздуха
- •5.1.2. Описание эксперимента
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Тема 6. Тепловые свойства диэлектриков Лабораторная работа № 6.1 "Исследование тепловых свойств диэлектрических материалов"
- •6.1. Методы оценки тепловых потоков
- •6.1.1. Параметры теплового потока
- •6.1.2. Теплопроводность плоской стенки
- •6.1.3. Теплопроводность цилиндрической стенки
- •6.1.4. Влияние факторов на коэффициент теплопроводности
- •6.1.5. Понятие о нагревостойкости материалов
- •6.1.6. Методы измерения температуры и теплового потока
- •6.1.7. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Тема 7. Радиокомпоненты Лабораторная работа № 7.4 "Анализ рядов сопротивлений и конденсаторов"
- •7.1. Номинальные параметры резисторов и конденсаторов
- •7.1.1. Ряды сопротивлений и конденсаторов
- •7.1.2. Гистограмма распределения элементов в серии
- •7.1.3. Экспериментальное построение гистограммы выборки
- •7.1.4. Резисторы и конденсаторы для поверхностного монтажа
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к исследованиям
- •2. Исследование параметров резисторов
- •3. Исследование параметров конденсаторов
- •4. Анализ параметров резисторов и конденсаторов smd
- •Отчетные материалы
- •Тема 8. МаГнитные материалы Лабораторная работа № 8.1
- •8.1. Магнитные законы и материалы
- •8.1.1. Магнитные законы
- •8.1.2. Расчет магнитного поля с помощью закона полного тока
- •8.1.3. Общая характеристика магнитных материалов
- •8.1.4. Основные свойства ферромагнитных материалов
- •8.1.5. Магнитные цепи
- •8.1.6. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование магнитных свойств соленоидов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 8.2
- •8.2. Общие сведения об экранировании магнитного поля
- •8.2.1. Электромагнитное экранирование
- •8.2.2. Количественная оценка эффекта экранирования
- •8.2.3 Описание лабораторной установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к испытаниям
- •2. Определение зависимости индукции в(h) без экранов
- •3. Определение экспериментальной величины э при различных экранах
- •3.1. Исследование экрана из немагнитного полимерного материала
- •Экспериментальная таблица для каждого из экранов
- •3.7. Исследование экрана из немагнитного металлического материала
- •3.8. Исследование экрана из ферромагнитного материала
- •3.9. Исследование двухслойного экрана из различных материалов
- •Отчетные материалы
- •Тема 9. Оптическая пирометрия Лабораторная работа № 9.1
- •9.1. Модели и методы оптической пирометрии
- •9.1.1. Параметры и характеристики теплового излучения
- •9.1.2. Законы теплового излучения
- •9.1.3. Оценка температуры яркостным пирометром
- •9.1.4. Оценка теплового потока от нагретого тела
- •9.1.5. Схема установки и работа с пирометром оппир-017
- •9.1.6. Расчет температуры с помощью оптического пирометра
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов Определение яркостной температуры Тя и расчет температуры т
- •Отчетные материалы
- •Рекомендуемая литература Основная
- •Дополнительная
1.1.3. Мост переменного тока р5058
Автоматический мост переменного тока Р5058 с цифровым отсчетом предназначен для измерения:
– емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь tgδ при последовательной схеме замещения (первая левая кнопка нажата);
– емкости С и проводимости образца G0 при параллельной схеме замещения (вторая левая кнопка нажата);
– индуктивности, сопротивления по переменному току и других параметров.
Рабочие частоты устанавливаем с помощью кнопок, соответствующих значениям 50 Гц, 1 кГц, 10 кГц.
Результаты измерения представляются на табло в виде цифр, отображающих значения двух параметров, и буквенных символов, обозначающих величины размерностей.
Выбор режима измерения осуществляем, используя ручной и автоматический способы. При ручном способе (нажата кнопка "Ручн.") запуск измерения производим с помощью кнопки "Старт". При автоматическом способе (нажата кнопка "Автом.") запуск осуществляется автоматически; регулировку времени цикла запуска (от 0,5 до 10 с) производим потенциометром "Время индикации".
Объект измерения подключаем к мосту с использованием кабелей с коаксиальными разъемами к передней панели прибора.
В работе используем двухзажимную схему подключения (кнопка "Двухзажимная" должна быть нажата).
1.1.4. Автоматические мосты переменного тока
Различные автоматические мосты переменного тока (мосты Е7, мультиметры, приборы типа "тестер" и т. д.), используемые для измерения емкости C, сопротивления R, индуктивности L и других параметров радиокомпонентов и диэлектриков, содержат встроенные генераторы, которые генерируют гармонические сигналы со стандартной частой, равной 1 кГц.
Для питания мостов используют сетевое напряжение (действующее напряжение U≈ = 220 В частотой f = 50 Гц), а также источники питания напряжением U= = 5-6 В, подключаемые к прибору в строгом соответствии с полярностью.
Объект измерения присоединяем к мосту проводами, которые должны иметь незначительную собственную емкость C0. В случае необходимости емкость C0 проводов определяется с использованием самых чувствительных шкал, и, соответственно, вычитаем из показаний при измерении емкости неизвестного образца.
Как правило, на передней панели прибора имеются переключатели режимов, используемые для измерения емкости С, индуктивности L, сопротивления резисторов R, проводимости G объектов. В частности, для определения емкости конденсатора C переключатель устанавливается на соответствующий диапазон измерения.
При считывании значений необходимо знать российские и международные обозначения (табл. 1.1).
Таблица 1.1
Соответствия обозначений
Название |
Обозначение |
Значение |
|
русское |
международное |
||
атто- |
a |
a |
10–18 |
фемто- |
ф |
f |
10–15 |
пико- |
п |
p |
1012 |
нана- |
н |
n |
109 |
микро- |
мк |
μ |
106 |
милли- |
м |
m |
10–3 |
деци- |
д |
d |
10–2 |
кило- |
к |
к |
103 |
мега- |
М |
М |
106 |
гига- |
Г |
G |
109 |
тера- |
Т |
Т |
1012 |
пета |
П |
Р |
1015 |
экса |
Э |
E |
1018 |
В том случае, если переключатель диапазонов и режимов находится на отметке, соответствующей, например, 20 нФ, считаем, что при данном режиме максимальное измеряемое значение емкости не более 20 нФ, следовательно, нет необходимости рассчитывать значения параметров, отражаемых на табло. Поэтому при измерениях используем такой диапазон, чтобы значение измеряемого параметра имело одну или две значащие цифры, т. е. добиваемся максимальной чувствительности.
В ряде приборов, например, в мосте переменного тока Е7-13 (рис. 1.6), при неправильном выборе режима работы (например, переключатель диапазонов находится на отметке 20 нФ, а измеряемая емкость равна Сх = 40 нФ) возникает режим "переполнения" и на шкале появляется индикация "1" (иногда мигающая),. В этом случае переходим на другой более ″грубый″ (менее чувствительный) диапазон.
Рис. 1.6. Внешний вид моста Е7-13
Некоторые мосты переменного тока, например, мост Е7-22 (рис. 1.7, а), автоматически устанавливаются в оптимальный режим испытаний, так что не требуется вмешательство оператора для установки диапазона.
а) б)
Рис. 1.7. Внешний вид Е7-22 (а) и мультиметра (б)
Например, после включения прибора кнопкой ″Вкл.″ (рис. 1.7, а) при испытании резистора или катушки для выбора режимов L, R или C следует несколько раз нажать на кнопку ″R/L/C″. При этом на шкале высвечиваются значения рабочей частоты моста (120 Гц или 1 кГц устанавливаются кнопкой ″Част.″), значение индуктивности L (в единицах Н – Генри), значение R (в единицах , Ом), С в производных единицах F. В частности, при установке режима ″L″ возможно одновременное измерение как индуктивности L, так и сопротивления R резистора.
Мультиметр – многофункциональный измерительный прибор (рис. 1.7, б), который можно использовать в качестве амперметра (постоянного и переменного тока), вольтметра (постоянного и переменного напряжения), омметра, термометра, измерителя емкости конденсаторов и других параметров цепи.
Во избежание поломки любые переключения режимов работы мультиметра производятся при выключенном питании схемы.
Вход мультиметра ″COM″ рекомендуется всегда соединять проводом с шиной (гнездом) ″Земля″ схемы. К клемме ″U″ подводится провод при измерении напряжения (разности потенциалов). К клемме ″I″ подводится провод при измерении тока в какой-либо ветви цепи.
При пользовании мультиметрами необходимо строго выполнять условия подключения прибора к цепи (в режиме вольтметра - параллельно элементу цепи, в режиме ″амперметра″ для измерения тока последовательно), соответственно, меняя контакты на входе прибора и режимы работы.
Все измерения действующих значений переменных токов и напряжений производятся в режимах, соответственно, А и U.
Измерения сопротивлений резисторов производятся в режиме R при отключенном питании анализируемой схемы, т.е. исследумый резистор не должен находиться под напряжением.
