
- •Лабораторный практикум по Электрофизическим методам исследования диэлектриков
- •Введение
- •Тема 1. Приборы, используемые для проведения исследований электротехнических материалов
- •1.1. Мосты переменного тока
- •1.1.1. Мост переменного тока р577
- •1.1.2. Мост переменного тока р5026
- •1.1.3. Мост переменного тока р5058
- •1.1.4. Автоматические мосты переменного тока
- •1.2. Осциллографы
- •1.3. Генераторы
- •Тема 2. Проводимость полупроводников и металлов лабораторная работа № 2.1
- •2.1. Терморезисторы: термисторы и позисторы
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.2
- •2.2. Общие сведения о варисторах
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к работе
- •2. Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •7. Исследование зависимости сопротивления от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.3
- •2.3. Определение типа носителей в полупроводниках
- •2.3.1. Метод термозонда
- •2.3.2. Метод Холла
- •2.3.3. Определение концентрация и подвижности носителей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Определение типа носителей с помощью метода термозонда
- •1.1. Подготовка к работе
- •1.2. Определение типа носителей разных кристаллов
- •2. Исследования по методу Холла
- •2.1. Определение типа основных носителей в датчике Холла
- •2.3. Исследование вольтамперной характеристики датчика
- •2.4. Определение микропараметров кристалла датчика Холла
- •2.6. Определение зависимости эдс Холла от величины тока
- •2.9. Определение зависимости эдс Холла величины индукции в
- •Отчетные материалы
- •Тема 3. Поляризация диэлектриков Лабораторная работа № 3.1 "Исследование жидкокристаллических индикаторов"
- •3.1. Теоретические сведения о жк-индикаторах
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к измерениям
- •2. Изучение жк-сегментов индикатора
- •4. Исследование зависимости емкости Сn(u)
- •5. Определение зависимости значений Uпор от частоты f
- •6. Определение частоты fкр в зависимости от напряжения
- •7. Определение зависимостей ε(f) и tgδ(f) материала
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.2 "Активная сегнетокерамика"
- •3.2. Основные свойства сегнетоэлектриков
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка материалов
- •1. Испытание 1.
- •2. Испытание 2
- •2.6. Анализ зависимости параметров диэлектрика от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.3 "Исследование свойств радиочастотных кабелей"
- •3.3. Теоретические сведения о радиочастотных кабелях
- •3.3.1. Распространение электромагнитных волн по кабелю
- •3.3.2. Обозначение и строение радиочастотных кабелей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Тема 4. Диэлектрические потери Лабораторная работа № 4.1 "Исследование зависимости ε и tg диэлектрика от температуры и частоты"
- •4.1. Методы оценки диэлектрических потерь
- •4.1.1. Схемы замещения реального конденсатора
- •4.1.2. Расчет величины активных потерь в диэлектрике
- •4.1.3. Мост переменного тока р577
- •4.1.4. Зависимость tg от температуры и частоты
- •4.1.5. Зависимость от температуры и частоты
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка материалов
- •Отчетные материалы
- •Тема 5. Пробой диэлектриков Лабораторная работа № 5.1
- •5.1. Общие сведения о пробое воздуха
- •5.1.1. Влияние различных факторов на пробой воздуха
- •5.1.2. Описание эксперимента
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Тема 6. Тепловые свойства диэлектриков Лабораторная работа № 6.1 "Исследование тепловых свойств диэлектрических материалов"
- •6.1. Методы оценки тепловых потоков
- •6.1.1. Параметры теплового потока
- •6.1.2. Теплопроводность плоской стенки
- •6.1.3. Теплопроводность цилиндрической стенки
- •6.1.4. Влияние факторов на коэффициент теплопроводности
- •6.1.5. Понятие о нагревостойкости материалов
- •6.1.6. Методы измерения температуры и теплового потока
- •6.1.7. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Тема 7. Радиокомпоненты Лабораторная работа № 7.4 "Анализ рядов сопротивлений и конденсаторов"
- •7.1. Номинальные параметры резисторов и конденсаторов
- •7.1.1. Ряды сопротивлений и конденсаторов
- •7.1.2. Гистограмма распределения элементов в серии
- •7.1.3. Экспериментальное построение гистограммы выборки
- •7.1.4. Резисторы и конденсаторы для поверхностного монтажа
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к исследованиям
- •2. Исследование параметров резисторов
- •3. Исследование параметров конденсаторов
- •4. Анализ параметров резисторов и конденсаторов smd
- •Отчетные материалы
- •Тема 8. МаГнитные материалы Лабораторная работа № 8.1
- •8.1. Магнитные законы и материалы
- •8.1.1. Магнитные законы
- •8.1.2. Расчет магнитного поля с помощью закона полного тока
- •8.1.3. Общая характеристика магнитных материалов
- •8.1.4. Основные свойства ферромагнитных материалов
- •8.1.5. Магнитные цепи
- •8.1.6. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование магнитных свойств соленоидов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 8.2
- •8.2. Общие сведения об экранировании магнитного поля
- •8.2.1. Электромагнитное экранирование
- •8.2.2. Количественная оценка эффекта экранирования
- •8.2.3 Описание лабораторной установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к испытаниям
- •2. Определение зависимости индукции в(h) без экранов
- •3. Определение экспериментальной величины э при различных экранах
- •3.1. Исследование экрана из немагнитного полимерного материала
- •Экспериментальная таблица для каждого из экранов
- •3.7. Исследование экрана из немагнитного металлического материала
- •3.8. Исследование экрана из ферромагнитного материала
- •3.9. Исследование двухслойного экрана из различных материалов
- •Отчетные материалы
- •Тема 9. Оптическая пирометрия Лабораторная работа № 9.1
- •9.1. Модели и методы оптической пирометрии
- •9.1.1. Параметры и характеристики теплового излучения
- •9.1.2. Законы теплового излучения
- •9.1.3. Оценка температуры яркостным пирометром
- •9.1.4. Оценка теплового потока от нагретого тела
- •9.1.5. Схема установки и работа с пирометром оппир-017
- •9.1.6. Расчет температуры с помощью оптического пирометра
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов Определение яркостной температуры Тя и расчет температуры т
- •Отчетные материалы
- •Рекомендуемая литература Основная
- •Дополнительная
1.1.2. Мост переменного тока р5026
Мост переменного тока Р5026 предназначен для измерения диэлектрических характеристик емкости С и tgδ диэлектриков, конденсаторов, изоляции высоковольтного промышленного оборудования при частоте 50 Гц при низком и высоком напряжении вплоть до 10 кВ.
Устройство моста реализовано на основе схемы Шеринга (рис. 1.4), описанной лабораторной работе № 3.2 и литературе [1, п. 4.4].
Аналогично подобным мостовым схемам, принцип работы прибора Р5026 заключается в балансировке моста переменного тока таким образом, чтобы индикатор, включенный в соответствующую диагональ моста, показывал по возможности наименьшее значение при наибольшей чувствительности гальванометра (см. описание моста Р577). После балансировки на панели прибора (рис. 1.5) считываем соответствующие параметры, которые связаны с измеряемыми значениями емкости С конденсатора с диэлектриком и тангенса угла диэлектрических потерь tgматериала.
Схема моста, используемого в работе для измерения емкости конденсаторов, приведена на рис. 1.4 [1]. Принцип работы мостовой схемы и расчеты его параметров описаны в пособии [1, п. 4.4]. В процессе анализа устройства моста следует уделить особое внимание отличиям между "прямой" и "перевернутой" схемами. В лаборатории реализована "перевернутая" схема Шеринга измерения (рис. 1.4).
А
Cx C0
220 В U2 Р С D Р
С4
R3 R4
В
Рис. 1.4. Упрощенная схема (″перевернутая″) моста Шеринга
С расположением рукояток управления моста Р5026 следует ознакомиться на стенде в лаборатории (рис. 1.5).
Рассмотрим алгоритм измерения емкости с помощью моста Р5026:
1. Не включая мост Р5026, в соответствии с обозначениями управления устанавливаем рукоятки и потенциометры в исходное состояние: N = 1; Б = tg2; A = 1; "Чувствительность"– "mах", потенциометр, регулирующий напряжение на образце (находится в блоке с образцами) – в положение "0", потенциометр С4 – "0 0 0 0"; R3 – "0 0 0 0" (не рекомендуется использовать крайнюю правую декаду магазина).
2. Включаем мост переменного тока с помощью тумблера "Вкл.". Нажимаем кнопку "Контроль". Стрелка прибора-индикатора должна отклониться не менее чем на 30 A. Этот факт свидетельствует об удовлетворительной работе схемы.
Рис. 1.5. Внешний вид панели моста Р5026
3. Устанавливаем начальное рабочее напряжение с помощью потенциометра установки напряжения на образце (например, U = 5…10 В). Стрелка прибора устанавливается в произвольное положение.
4. Регулируя потенциометры R3, добиваемся минимально возможного отклонения стрелки гальванометра-индикатора (потенциометр чувствительности установлен в положение "mах").
5. В соответствии с используемой схемой Шеринга (рис. 1.4) значение емкости конденсатора или образца диэлектрика рассчитываем по формуле
Сх = С0R4/R3, (1.7)
где С0 значение эталонного конденсатора в схеме Шеринга, равное 50 пФ; R4 = 3183N.
Например, при R3 = 100,0 имеем
Cх = 3183150/100 = 1592 пФ ≈ 1,6 нФ.
6. В соответствии с используемой схемой Шеринга (рис. 1.4) значение тангенса угла диэлектрических потерь материала рассчитываем по формуле
tgδ = ωC4R4, (1.8)
где ω – угловая частота на промышленной частоте f = 50 Гц; ω = 2f = 314 рад/с.
В лабораторных работах исследуются конденсаторы и материалы с высокими диэлектрическими характеристиками, значения tgδ которых сопоставимы с предельными величинами, регистрируемыми прибором, поэтому экспериментальное значение С4 может быть ″нулевым″.
7. После определения значения емкости С расчет величины относительной диэлектрической проницаемости производится по формулам (1.5), (1.6) в соответствии с формой и размерами образца.