Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
ФПП_Help.docx
Скачиваний:
2
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
1.81 Mб
Скачать

29. Закон действующих масс

Исключим уровень Ферми, перемножив n и p:

(15)

(16) Правая часть зависит только от температуры и

ширины запрещ. зоны полупроводника.

Но! Не зависит от концентрации.

np=n2i=p2i=const (17) ni и pi –собственные концентрации носителей;

Уравнение (17) называют уравнением полупроводника или законом действующих масс.

Произведение концентраций основных и не основных носителей заряда в невырожденном полупроводнике при фиксированной температуре является постоянной величиной, которая не зависит от концентрации введённой примеси и равна квадрату концентраций собственных носителей заряда при той же температуре.

{Ввести понятия основных и неосновных носителей заряда; понятие энергии неосновных носителей заряда.}

С помощью формулы (16) можно найти, что в Siпри Ткомн. 1 электронно-дырочная пара приходится на 7,3*1011атомов.

Ткомн: GaAs:n≈107 ;Eg=1.41eV

Si: n≈1010 ;Eg=1.12eV

Ge: n≈3*1013 ; Eg=0.67eV

1 000K 500 300 200

1019

1017

1015

1013 GaAs Ge

1011Si

109

107

Si: ni NSi=5*1022ат/см3

T=300K ni~1010 см-3

T=500K ni~1014 см-3

T=1000Kni~1018 см-3

30. Собственном полупроводнике

Напомнить: что такое примесный и собственный полупроводник §2.6.3 стр. реальных п/п-в

В собственном полупроводнике каждый электрон, перешедший в зону проводимости, оставляет дырку в валентной зоне. Поэтому: n=p. Тогда:

Если определить за нулевую энергию верх валентной зоны, т.е. EV=0 =>EC=EV+EG=EG.

логарифмируя:

(14)

Уровень Ферми при абсолютном нуле расположен посередине запрещённой зоны!

kT при Ткомн≈0,026 эВ. Поэтому, если эффективные массы электронов и дырок различаются не очень сильно, то уровень Ферми находится приблизительно посередине, между EVиEC

31. Зависимость положения уровня Ферми от концентрации примеси и температуры.

Повторить немного о легировании (атомы V и III группы в кремнии). Расположение донорного и акцепторного уровней в запрещённой зоне!!! Соотношение концентрации атомов примеси и собственных атомов.

А. Влияние концентрации.

Для того, чтобы определить влияние концентрации примеси на положение уровня Ферми, нужно в общем случае решить следующее уравнение общей электронейтральности:

(17)

где -- число ионизованных акцепторных атомов (которые захватили электрон из валентной зоны); -- число ионизованных донорных атомов (которые отдали электрон в зону проводимости).

Для решения этого уравнения нужно подставить выражения для ni, pi, и NA, ND.

(18)

где F(EA) – вероятность того, что электрон находится на акцепторном уровне А;

1-F(ED) – вероятность того, что электрон не находится на донорном уровне D.

В общем случае Вы можете попробовать подставить эти значения и решить его. Мы же здесь приведём решение для случая, когда (т.е. уровень легирования очень высокий по сравнению с собственной концентрацией электронов).

n>>p, ND>>NA =>n≈ND

В этом случае n≈ND≈NCexp(-(EC-EF)/kT), откуда EF≈ EC –kTln(NC/ ND). Аналогично для р-типа полупроводника EF≈ EV +kTln(NV/ NA).

В кремнии при ТКОМН:

N C =2,8 • 1019 см-3 Различаются

NV =1019 см-3 эффективные массы !!!

Т.е. в этих случаях (поскольку NV<NA и NC<ND) энергия Ферми располагается вблизи границ разрешённых зон (соответственно зоны проводимости и запрещённой зоны).

Говорят, что полупроводник является вырожденным, если концентрация примеси настолько высока, что уровень EF находится на границах разрешённых зон.

Можно показать также, что в области малых концентраций легирующей примеси EF≈ lnND, т.е. EF растёт с увеличением ND по логарифмическому закону (достаточно медленно).

Таким образом, графически можно изобразить положение EF от концентрации примеси следующим образом:

E

EC

- EF , T=0, ND=0

EV

l nND lnNA

Б. Как изменяется положение уровня Ферми в примесном полу проводнике от температуры ?

В общем случае этот вопрос достаточно трудно описать математически, т.к. EGи EDзависят от периода решётки и связаны с температурой, но этот эффект мы учитывать не будем.

Рассмотрим 2 крайних случая:

Соотношение концентраций примеси и собственных атомов !!!

  1. при очень низких температурах ионизация собственных носителей не происходит (по сравнению с примесными). Поэтому EF и EFi будет находиться посреди ED и EG;

  2. при очень высоких температурах можно предположить, что почти все собственные атомы ионизованы, т.е. концентрация электронов и дырок приблизительно равна объёмной концентрации собственных атомов. Концентрация примеси – невелика. Следовательно, EF к EFi. На картинке это выглядит следующим образом:

E

E C

E D

EFi ND2 > ND1

E A

EV

T

В свою очередь EFi будет увеличиваться как :

С ростом температуры ширина запрещённой зоны уменьшается. Качественно причину этого можно представить следующим образом: при более высокой температуре тепловое движение атомов в решётке становится более энергичным, период решётки оказывается менее определённым (чётким) и взаимодействие ослабевает (т.е. уменьшается энергия связи электрона с атомом решётки), а следовательно и EG.

С ростом ТEF в собственном полупроводнике уходит к EC:

рост EF