
- •1. Основные этапы развития физики полупроводников.
- •Главные направления развития электроники
- •2. Классификация веществ по удельной электрической проводимости. Основные представления о свойствах полупроводников.
- •3.Химические связи
- •7.Обратная решетка
- •8.Кристаллические структуры материалов электроники.
- •9. Дефекты кристаллического строения.
- •10.Фонон
- •1.1. Выращивание кристаллов кремния.
- •II. Следствие фазовой диаграммы ( очистка кристалла ).
- •1.1 Фазовые диаграммы и твердые растворы.
- •13. Качественная модель зонной структуры твердого тела.
- •14. Уравнение Шредингера для кристалла.
- •2.2 Уравнение Шредингера для кристалла
- •15.Адиабатическое приближение (приближение Борна - Оппенгеймера).
- •Первая зона Бриллюэна полупроводника типа алмаза
- •19.Зона Брюллеэна.
- •20. Эффективная масса носителей заряда.
- •21. Циклотронный (диамагнитный) резонанс.
- •22. Классификация материалов с позиции зонной теории.
- •23. Электронная теория примесных состояний.
- •24. Плотность квантовых состояний.
- •§ 28. Концентрация электронов и дырок
- •29. Закон действующих масс
- •30. Собственном полупроводнике
- •31. Зависимость положения уровня Ферми от концентрации примеси и температуры.
- •32. Дрейфовая и диффузная электропроводности.
- •33.Подвижность
- •34.Соотношение Эйнштейна
- •34.Эффект Холла р ассмотрим ток, протекающий в бруске из некоторого материала.
- •35,37. Механизмы рассеяния носителей тока. Зависимость подвижности от температуры.
- •38.Явление переноса в сильных электрических полях.
- •39.Электростатическая ионизация (эффект Зинера)
- •Термоэлектронная ионизация (эффект Френкеля)
- •Ударная ионизация.
- •Эффект Ганна.
- •40.Оптические свойства полупроводников.
- •42. Рекомбинация носителей заряда в полупроводниках.
- •49 Фотоэлектрические явления в полупроводниках.
§ 28. Концентрация электронов и дырок
Теперь можно определить концентрацию носителей заряда в полупроводнике. Мы знаем, сколько у нас имеется состояний (свободных энергетических уровней), а также с какой вероятностью эти состояния заняты электронами. Поэтому в диапазоне энергий между E и E+dE количество электронов будет:
dn=N(E)*F(E) dE(11)
Для всей зоны проводимости число электронов, приходящихся на единицу объёма:
.
Интегрирование проводится в пределах от нижней границы зоны проводимости Ec, до верхней границы этой зоны Emax. Сохраняя правильный смысл результата, можно существенно упростить выкладки, положив, что верхний предел интегрирования равен +∞. Выполнив соответствующие подстановки, получим:
;
Мы будем полагать, что E>>EF, т.е. энергия электронов превышает EF настолько, что E-EF>>kT. Тогда распределение Ферми-Дирака переходит в распределение Максвелла-Больцмана:
.
Тогда:
[dE→d(E-EC)]
Положим:
=x; тогда
(табличный)
(12)

Аналогичные вычисления можно провести для концентрации дырок [исключения: вероятность возникновения вакантного уровня равна 1-f(E)], а интегрирование проводится от -∞ до EV. Откуда:
(13)
Физический смысл параметров NV и NC:
NV и NC—эффективные плотности уровней в зоне проводимости и валентной зоне соответственно.
Рассмотрим графическое определение концентрации носителей заряда (электронов и дырок) в зоне проводимости и валентной зоне в зависимости от температуры:
E
EE
-- электроны
EC * EC= EC
--T>0
E
F
EF
EF
--T=0
E
V
* EV
= EV
-- дырки
(а) N(E) (б)F(E) (в) n=N(E)*F(E)
(а)- графики функций, описывающих плотность уровней;
(б)- функция распределения; вероятность, с которой уровни оказываются занятыми при
Т=0 и Т>0;
(в)- произведение этих функций, показывающее распределение носителей заряда в зонах.
при Т=0, произведение N(E)*F(E)=0 для E>EC
N(E)*F(E)=N(E) для E<EV
т.е. электроны отсутствуют в зоне проводимости,
валентная зона заполнена полностью.
2) при Т>0, электроны, оказавшиеся в зоне проводимости распределяются по закону
N(E)*F(E), а дырки, возникшие в валентной зоне, -- по закону N(E)[1-F(E)].
!!! Число электронов в зоне проводимости равно количеству дырок в валентной зоне.
3) если в запрещенной зоне имеются уровни, то вероятность их заполнения очень велика.