1 Деформациялық қысым өлшеу құралдары
Деформациялыққысым ӨҚ-ның жұмыс істеу принципі сезгіш элементтің (СЭ) серіппелі деформациясын немесе оның көмегімен алынатын күшті қолдануға негізделген.
10.1.1 Сезгіш элементтер Берілген типтегі ӨҚ өлшенетін қысым мөлшері ретінде СЭ-тің серіппелі деформациясы немесе оның көмегімен алынатын күш алынады. СЭ негізгі үш түрі бар: түтікшелі серіппелер (пружина), сильфондар, мембраналар. СЭ құрылымы Б қосымшасында көрсетілген.
10.1.1.1
Түтікшелі
серіппе
– манометрлік серіппе (Бурдон
пружинасы) – бұл бір ұшы еркін қозғала
алатын, ал екінші ұшы қатты бекітілген
серіппелі қисықсызықты металл іші бос
түтікше.Көлденең қимасы сопақ болатын
бір орамды түтікшелі серіппе ең көп
таралған (Б қосымшасы, Б.1, а
сурет).
Түтікшенің бұрылу бұрышын көбейту үшін
іс жүзінде түтікшелі серіппенің орам
санын арттыру керек. Бұл көпорамды
винттік
түтікшелі серіппеден айқын көрінеді
(Б қосымшасы, Б.1, б
сурет).
Р
1000кПа
жоғары қысымды өлшеу үшін қисықсызықты
және түзусызықты түтікшелі серіппелер
қолданылады (Б қосымшасы, Б.1, в,г
сурет).
Қысымды бос ұшының орын ауыстыруынан
тік қимасының өзгеруіне байланысты
өлшемейді, ал бүгуші моментке сәйкес
өлшейді.
10.1.1.2 Сильфондар – қысым немесе күш әсерінен біршама орын ауыстыра алатын тік гофралары (ирек) бар жұқа қабырғалы цилиндрлік қап (Б қосымшасы, Б.1, д сурет). Сильфонға әсер етуші күш пен деформацияның қатынасы тұрақты болып қалады да, ол сильфон қатаңдығы деп аталады. Сильфон қатаңдығын арттыру үшін олардың ішіне серіппе орналастырады.
10.1.1.3 Мембраналар серіппелі және икемді болады.
Серіппелі мембрана бұл – қысым әсерінен майысатын иілгіш дөңгелек жазық немесе гофрленген пластина. Б қосымшасындағы Б.1 суретінде жазық (е) және гофрленген (ж) серіппелі мембраналардың сұлбалық суреттері көрсетілген. Сипаттамасының сызықсыздығы аз болғандықтан, гофрленген мембрана жазық мембранаға қарағанда үлкен майысулар кезінде қолданыла алады. Гофраның тереңдігі статикалық сипаттаманың сызықтығына зор әсер етеді: неғұрлым тереңдігі үлкен болған сайын соғұрлым сипаттамасы сызықты. Икемді мембраналар кіші қысымдар мен қысымдар айырмасын өлшеуге арналған. Олар резиналанған матадан, тефлон және т.б. жасалған жазық және гофрленген дисктер болып табылады. Сызықсыздығын азайту үшін қатаң центрлі мембрана қолданылады: мембрананың екі жағынан бекітілген екі металл дисктер (Б қосымшасы, Б.1, м,н сурет). Барлық СЭ көп рет қолдануға тыйым салынады, себебі өлшеу қателіктеріне әкеліп соқтыратын қалдық деформация жиналып қалады. Өлшеу шегі сипаттамасының шегіне сәйкес келетін қысымның жартысымен шектеледі (жұмысшы СЭ үшін).
27 Билет
Қ
оңыраулы
дифманометрлер кішірейетін құрылғының
қысым ауысуы кезіндегі газдың шығынын
өлшеуінде қолданылады. Бұл дифманометрлер
артық және вакуумметрлік газ қысымдарын
сонымен қатар қысым төмендеуін өлшеуде
қолданылады. Сұйықтықта Еркін жүзетін
қоңыраулы аспаптарда өлшенетін қысым
ауысуы оны көтеру кезіндегі ауырлық
күшінің өсуі арқылы пайда болатын күшпен
теңестіріледі. Бұл әдісті әдетте
гидростатикалық әдіс деп атайды.
Қарастырылатын аспапта 5 винтті серіппеде
ілінген 3 жұқа қабырғалы болат қоңырау
4 ыдыстағы трансформатор майында
сұйықтықта жүзеді. Трансформатор майы
қоңырау астындағы оң камераны қоңырау
үстіндегі теріс камерадан бөледі.
Ауырлық центрін төмендету үшін қоңыраудың
төменгі шеттеріне 10 сақиналы жүк
бекітілген. Ол қоңыраудың орын ауыстыруы
кезінде әрқашан майға батырылған күйінде
қалады. 9 дифференциалды-трансформаторлы
түрлендіргіш даттанбайтын магнитсіз
болаттан жасалған 8 бөлгіш трубкаға
бекітілген. Бөлгіш трубканың ішінде 11
жүрекше бар. Ол қоңыраумен магнитсіз
болаттан жасалған 7 стержень арқылы
қатаң бекітілген.
2. Фотоэлектрлік пирометрлер (ФП) автоматикалық болып саналады. Сәулелік энергияны қабылдаушы сезгіш элемент ретінде фотоэлементтер, фотокөбейткіштер, фотокедергілер және фотодиодтар қолданылады.
ФП жұмыс істеу принципі бойынша екі типке бөлінеді:
1. Аспап қабылдайтын сәулелік энергия сезгіш элементке түскенде оның көрсеткіштерін өзгертеді (фототок, кедергі);
2. Сәулелік энергияны өлшеу компенсациялық әдіспен жүреді, мұда сезгіш элемент нуль-индикатор ретінде жұмыс істейді.
Екінші типтегі ФП әдісі қиынырақ, бірақ дәлдігі жоғары, өйткені оның көрсетуі сезгіш элемент сипаттамасына және электрондық сұлбаға тәуелсіз.Сұлбадағы белггілер: 1 – реттелетін жарық көзі; 2 – объектив; 3, 5 – диафрагма;4– вибрациялық бөгет; 6– қызғылт жарық фильтрі; 7 – фотоэлемент;8–электрондық күшейткіш;9 – күштік блок;10 – резистор.ОИ -өлшеу объектісінің және 1-нің жарық ағыны 7 фотоэлементке кезектесіп түседі. Әрбір жарық ағыны фотоэлементтке түсіп, фаза бойынша қарама-қарсы синусоидалды тоқты тудырады. ОИ -өлшеу объектісінің және 1-нің спектрлік жарықтықтары бірдей болғанда фотоэлементте тұрақты ток туындайды.Егер спектрлік жарықтықтар өзара тең болмаса (мысалы температураны өлшегенде), онда фотоэлементте фототоктың айнымалы құрамы пайда болады, ол 8 күшейткішпен күшейтіледі және 9 күштік блоктың фазасезгіш каскадына түседі. Нәтижесінде фотоэлементте ОИ және 1-нің жарық ағыны теңескенге дейін 1 лампа тоғы өзгереді.Спектрлік жарықтыққа тәуелді лампаның тогы объекттің жарықтық температурасының мөлшері ретінде қолданылады. Сондықтан автоматты потенциометрмен 10 резистордағы кернеудің құлауын өлшейді, ал потенциометр шкаласын жарықтық температурасы бойынша градуирлейді.ФП басты қателігі ±1% (800—2000 оС) және ±1,5%(>2000оС).