
- •Микроэлектрониканың дамуының негізгі жағдайы және бағыты.
- •§ 1.1 Электронды аппаратураның элементтерінің ықшамдау (миниатюризация) және микроықшамдау (микроминиатюризация) кезеңдері.
- •1.1 Сурет. «Элемент-2» типті жазық модулдің құрылысы.
- •1.2 Сурет фэ типінің жазық модулі:а – монтажды плата; б – сыртқы түрі;
- •1.3 Сурет. Этажеркалы микромодуль:
- •1.4 Сурет. Микроэлементтер:
- •1.5 Сурет. Қалқаланған этажеркалы микромодульдің жалпы түрі
- •§ 1.2. Микроэлектрониканың жалпы сипаттамасы.
- •1.6 Сурет. Интегралды микросхемалардың сыртқы түрі
- •§ 1.3. Микроэлектрониканың дамуының тарихы.
- •1.7 Сурет. Транзисторларды дайындаудың топтық әдісі:
- •1.8 Сурет. Интегралды микросхемаларды дайындаудың топтық әдісі:
- •§1.4 Интегралды микросхемалардың классификациясы және микроэлектрониканың өнімі (изделие)
- •1.9 Сурет. Микроэлемктрониканың негізгі өнімдері (изделия)
- •§ 1.5. Интегралды микросхемалардың белгілеуінің жүйесі.
- •§ 2.1 Интегралдымикроэлектроникадақолданылатынқұбылыстар (явление), процесстержәнеәдістер.
- •2.1 Сурет Интегралды микроэлектроникада қолданылатын физикалық құбылыстар, процесстер және әдістер.
- •§ 2.2. Имс жұмыс істеуін анықтайтын, құбылыстардың және процесстердің жалпы сипаттамасы.
- •2.2 Сурет. Тасушы зарядтардың қозғалғыштығының қоспаның концентрациясына және температураға тәуелділігі.
- •2.3 Сурет. Бірқалыпты p-n-өткелдің облысында таралуы.
- •2.4 Сурет. Тура (а) және кері (б) бағыттарда түсірілген, сыртқы кернеу кезіндегі, p-n-өткелдегі зарядты тасушылардың таралуы және энергетикалық диаграммасы
- •2.5 Сурет. Оңзарядтың бетінде бар болуы (б– г) және бетіне жақын кезде жоқ болуы (а)планарлыp-n-өткелінің құрылымы.
- •§ 2.3. Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика – химиялық әдістері.
- •2.6 Сурет. Кремнидің термиялық тотығуын орнату құрылғысы
- •2.7 Сурет. Фотолитографияның процессінің схемасы:
- •2.9 Сурет. Екізоналы диффузионды қондырғының схемасы
- •2.10 Сурет. Бірзоналы диффузионды қондырғының схемасы: 1 – газды беруге арналған магистраль; 2 – сұйық диффузиант үшін қоректендіргіш; 3 – кварцты труба; иг – инертті газ; гн – газ –тасушы
- •2.11 Сурет. Ионды легірлеуге арналған қондырғының схемасы
- •Травление.
- •Глава 3 Шалаөткізгішті интегралды микросхемалар
- •§ 3.1 Типтік конструкциялар және шалаөткізгішті имс құрылымы.
- •§3.2 Биполярлы транзисторлар.
- •Планарлы-эпитаксиальды транзисторлар.
- •Шоттки барьері бар транзисторлар.
- •Көпэмиттерлі транзисторлар.
- •Әр түрлі структурадағы мдп-транзисторлардың параметрлері.
- •§ 3.4 Диодтар
- •Әр түрлі схема бойынша қосылған транзисторлық структура негізіндегі диодтың параметрлері
- •§3.5 Шалаөткізгіш резисторлар.
- •Диффузионды резисторлардың параметрлері. 3.3-таблица
- •§3.6 Шалаөткізгіш конденсаторлар
- •3.7. Биполяр имс дайындау технологиясы
- •Планарлы-эпитаксиалды технология.
- •Қосарлы технология.
- •Изопларлы технология.
- •§ 3.9. Имс шалаөткізгішінің герметизациясы мен бүрмесі
- •§ 3.10. Шалаөткізгішті имс - ны жобалау және өңдеу этаптары
- •4 Тарау
- •§ 4.1. Гибридті имс конструкциясы
- •§ 4.2. Қалыңпленкалы гибридті имс элементтері
- •§ 4.3. Жіңішке пленкаларды алу әдістерді
- •§ 4.4. Гибридті имс - ға арналған подложка
- •§4.5. Пленкалы резисторлар
- •4.15 Сурет. Жұқа пленкалы резисторлардың конструкциялары:
- •4.16 Сурет. Пленканың салыстырмалы кедергісінің оның еніне тәуелділігі: і-тунельді эффекттің облысы, іі-бұзылған беттің облысы, ііі-көлемдік қасиеттерінің облысы
- •§4.6. Пленкалы конденсаторлар
- •4.17 Сурет. Жұқа пленкалы конденсатордың жалпы түрі: 1-жоғары өтетін қоршау; 2-диэлектрлік пленка; 3-төменгі өтетін қоршау; 4-подложка.
- •4.18 Сурет. Кремний қышқылы негізіндегі пленкалы конденсатордың диэлектр өткізгіштігінің тәуелділігі:
- •4.19 Сурет. Қалдық газдардың әртүрлі қысымымен тозаңданған кремний моноқышқылы негізіндегі конденсаторлардың вас-ы:
- •§ 4.7. Пленкалы имс – дағы индуктивті элементтер
- •§ 4.8. Пленкалы өткізгіштер және контактілік алаңдар
- •§ 4.9. Қабатаралық изоляция
- •§ 4.10. Гибридті имс – ның пассивті элементтерінің әртүрлі конфигурацияларын алу әдісі
- •§ 4.11. Гибридті имс – ның навесный компоненттері
- •§ 4.12. Гибридті имс – ға арналған корпустар
- •4.13. Гибридті имс құрудың негізгі принциптері және жобалау кезеңдері
- •4.14. Гибридті имс жобалаудың бастапқы деректері
- •4.15. Гибридті имс топологиясын және құрылымын жобалау
- •5 Бөлім. Үлкен интегралды схемалар (үис)
- •5.1. Үис жалпы сипаттамалары және негізгі параметрлері
- •5.2. Үис классификациясы және қолдану аймақтары
- •5.3 Үис қарапайым базасы
- •5.4. Шалаөткізгішті үис құрылымы және жасау технологиясы
- •5.5. Гибридті үис құрылымы және дайындау технологиясы
- •5.6. Үис жобалаудың ерекшеліктері және негізгі кезеңдері
- •6 Бөлім. Байланыс құрылғыларна арналған негізгі микросхемотехникалар мен интегралды микросхемалар
- •6.1. Имс схемотехникалық ерекшеліктері
- •6.2. Биполяр транзистордағы сандық имс негізгі типтері
- •§6.4 Микроқуатты логикалық имс
- •§ 6.6 Сандық имс дамуының тенденциясы
- •§ 6.7 Аналогты (сызықты) имс негізгі типтeрі
- •§6.8. Аппаратуралық байланысқа арналған интегрлды микросхема
- •§6.9 Микропроцессор
- •§ 6.10 Аса жоғары жиілік (свч) диапазонының интегралды микросхемасы
- •Сапа, сенімділік және интегралды схемаларды қолдану
- •§ 7.1. Сапа теориясының негізігі түсінігі
- •§7.2. Сапа бақылау әдісі және имс сенімділік бағасы
- •§7.4 Имс сынағының санаттары мен түрлері
- •§7.6 Сапа көтерілуінің жолдары және имс сенімділігі
- •§7.7 Имс мен үис (бис)нің негізгі қолданыстары
- •§8.1. Функционалды микроэлектрониканың негізгі даму бағыттары
- •§ 8.2. Оптоэлектроника
- •249 Сериялы оптоэлектронды имс - ның электрлік схемасы
- •§ 8.3 . Акустоэлектроника
- •§ 8.4. Диэлектрлік электроника
- •§ 8.5. Хемотроника
- •§ 8.6. Биоэлектроника
- •§ 8.7. Микроэлектрониканың алдағы дамуы
3.7. Биполяр имс дайындау технологиясы
Өндіру технологиясының ерекшеліктері. ИМС дайындау процесі бірнеше технологиялық операциялар мен ауысулардан тұрады. Олардың нәтижесінде пластинадағы бастапқы материалдардан дайын электронды функционалды құрылғылар - микросхемалар пайда болады.
ҮИС жасаудың спецификлық ерекшелігі - өндірудің интегралды-топтық әдісінде. Оның мағынасы бір пластинадағы көптеген әртүрлі және біртекті элементтер интеграциясында және топтық әдістегі технологиялық процестер (операциялар) интеграциясында. Бұл бір технологиялық циклде бірден бір емес, бірнеше ИМС құрылатынын білдіреді. Сонымен қоса оған технологиялық өңдеуге пластинаның толық тобы кіреді. Осылай негізгі мақсат - жарамды өнімдер шығысының процнетінt және олардың сапасы мен ИМС құнының төмендеуіне қол жеткіземіз.
Қазіргі кезде технологиялық процестердің барлығы интегралды топтық әдіспен алынбайды. Топтық әдістер пластинада қолданылатын барлық процестер мен операцияларды біріктіреді.
Келесі ерекшелігі - ИМС дайындаудың толық технологиялық циклының бір завод өндірушісінде орындалуы. Онда технологиялық цикл технологиялық ауысулар ұзақтығы минимумға жақындайды және оларды арнайы технологиялық ыдысдарға салу арқылы жүзеге асады. ИМС өндірудің маңызды еркекшелігі микросхемалар дайындауға арналған аналогты технологиялық процестерді қолдану болып табылады. Бұл жағдайда тек жеке технологиялық операцияларды қолданып қоймай, сонымен қатар белгілі бір реттелген операциялары бар технологиялық циклды қолданады. Сондықтан микроэлектроника технологиясында типтік технологиялық процестер ұғымы бар. Типтік процесс - белгілі бір құрылымды ИМС алудың топтық әдісіне арналған нақты технологиялық құрылғының технологиялық процестер немесе операциялар жиынтығы. Типтік процестерді қолдану арқылы көптеген әртүрлі микросхемаларды бір құрылымдық топология негізінде жасауға болады. Онда интегралды топтық дайындау әдісінің үнемділік эффекті байқалады.
ИМСның әр құрылымдық технологгиялық типі үшін өзіндік типтік технологиялық процесі дайындалады. Әр типтік процесс негізінде реттелген технологиялық операциялары болады. Осылайша шалаөткізгішті ИМС жасауда келесі негізгі процестерді атауға болады:
Фототүпнұсқалар мен прецизионды фотошаблондар дайындау;
Кремний пластиналар тобының дайындығы мен оладың бетінің өңделуі;
Кремний пластинасындағы құрылымдырды дайындау;
Схемаішілік байланыстарды жасау;
Құрылымы мен гермитицациясы.
Құрылымы мен гермитизациясынан басқа барлық дайындау кезеңдерінде технологиялық операцияларға топтық әдіс қолданылады.Кіріс, операциялық, шығыс (қабылдаушы) бақылаулар және дайын микросхемаларды тексеру технологиялық процестің ажырамас бөлігі болып табылады.
Реттелген типтік технологиялық процесс технологиялық сызықта, яғни технологиялар комплектінің жинағы, өлшеуіш және тексекру құрылғыларында орындалады. Технологиялық сызықтық қосымша бөлігіне өндіруші аймақтар жатады.
Олар ИМС-ты дайындаудың негізгі стадиясына сәйкес қалыптасады және физика-химиялық белгілерімен группаланатын,технологиялық процестер реализацияланатын құрылғылармен толымданады.Шалаөткізгіш ИМС өндірісін ұйымдастырғанда келесі өндірушілік аймақтан құрылады:фотошаблондар,фотолитографиялар,химиялық,термиялық,вакуумды-шаңдатылған ,сборкалар және монтаждар,герметизация,өлшеуші,сынау.
ИМС-ты дайындау технологиясы үшін ерекше болып табылатыны технологиялық процестердің-бір технологиялық қондырудағы,бір өндірушілік аймақ шегіндегі бірнеше технологиялық операциялардың бірігуінің және реализациясының одан әрі интеграциясы.
Биполярлы транзисторлардағы шалаөткізгіш ИМС-тердің негізгі структуралық элементі- коллекторлы облыста қоспаның біркелкі таралуымен n-p-n-типті транзисторлық структура болып табылады.Мұндай структура негізінде микросхеманың барлық активті немесе пассивті элементтері құрылады.Сондықтан биполярлы транзисторлардағы шалаөткізгіш ИМС-терді дайындаудың типтік технологиялық процесі n-p-n типті транзисторлық структурадағы кремний пластинасында қалыптасуына алып келеды.
Шалаөткізгіш ИМС-терді дайындаудағы операциялар тізімі микросхемадағы элемен изоляциясы және транзисторлы структураны құру әдісімен анықталады.Элемент изоляциясының негізгі әдісі кері жылжыйтын p-n өткелдің көмегімен болған изоляция болып табылады.Ол былай іске асады:эпитаксиалды қабатқа бөлетін диффузиямен,диэлектрикпен изоляцилаумен,кремний қышқылының негізгі қабатында,және біріктірілген изоляциямен,ал транзисторлы структураны қалыптастыру үшін базалы физико-химиялық процестер қолданылады.Осыған байланысты шалаөткізгіш ИМС-терді дайындауды келесі типтік процестерге бөледі:
Транзистордың коллекторлы облысындағы n+ жасырын қабаты бар және p-n өткелдермен элемент изоляциясы бар шалаөткізгіш ИМС-терді дайындаудың планарлы-эпитаксиалды технологиясы;
SiO2 (EPIC-технология) диэлектрлі қабатымен изоляциясы бар шалаөткізгіш ИМС-терді дайындаудың планарлы-эпитаксиалды технологиясы;
қосарлы технология;
шалаөткізгіш ИМС-терді дайындаудың изопланарлы-технологиялық процесі;
ионды имплантацияны қолдану арқылы шалаөткізгіш ИМС-терді дайындау технологиясы(ионды-диффузионды технология).