
- •Микроэлектрониканың дамуының негізгі жағдайы және бағыты.
- •§ 1.1 Электронды аппаратураның элементтерінің ықшамдау (миниатюризация) және микроықшамдау (микроминиатюризация) кезеңдері.
- •1.1 Сурет. «Элемент-2» типті жазық модулдің құрылысы.
- •1.2 Сурет фэ типінің жазық модулі:а – монтажды плата; б – сыртқы түрі;
- •1.3 Сурет. Этажеркалы микромодуль:
- •1.4 Сурет. Микроэлементтер:
- •1.5 Сурет. Қалқаланған этажеркалы микромодульдің жалпы түрі
- •§ 1.2. Микроэлектрониканың жалпы сипаттамасы.
- •1.6 Сурет. Интегралды микросхемалардың сыртқы түрі
- •§ 1.3. Микроэлектрониканың дамуының тарихы.
- •1.7 Сурет. Транзисторларды дайындаудың топтық әдісі:
- •1.8 Сурет. Интегралды микросхемаларды дайындаудың топтық әдісі:
- •§1.4 Интегралды микросхемалардың классификациясы және микроэлектрониканың өнімі (изделие)
- •1.9 Сурет. Микроэлемктрониканың негізгі өнімдері (изделия)
- •§ 1.5. Интегралды микросхемалардың белгілеуінің жүйесі.
- •§ 2.1 Интегралдымикроэлектроникадақолданылатынқұбылыстар (явление), процесстержәнеәдістер.
- •2.1 Сурет Интегралды микроэлектроникада қолданылатын физикалық құбылыстар, процесстер және әдістер.
- •§ 2.2. Имс жұмыс істеуін анықтайтын, құбылыстардың және процесстердің жалпы сипаттамасы.
- •2.2 Сурет. Тасушы зарядтардың қозғалғыштығының қоспаның концентрациясына және температураға тәуелділігі.
- •2.3 Сурет. Бірқалыпты p-n-өткелдің облысында таралуы.
- •2.4 Сурет. Тура (а) және кері (б) бағыттарда түсірілген, сыртқы кернеу кезіндегі, p-n-өткелдегі зарядты тасушылардың таралуы және энергетикалық диаграммасы
- •2.5 Сурет. Оңзарядтың бетінде бар болуы (б– г) және бетіне жақын кезде жоқ болуы (а)планарлыp-n-өткелінің құрылымы.
- •§ 2.3. Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика – химиялық әдістері.
- •2.6 Сурет. Кремнидің термиялық тотығуын орнату құрылғысы
- •2.7 Сурет. Фотолитографияның процессінің схемасы:
- •2.9 Сурет. Екізоналы диффузионды қондырғының схемасы
- •2.10 Сурет. Бірзоналы диффузионды қондырғының схемасы: 1 – газды беруге арналған магистраль; 2 – сұйық диффузиант үшін қоректендіргіш; 3 – кварцты труба; иг – инертті газ; гн – газ –тасушы
- •2.11 Сурет. Ионды легірлеуге арналған қондырғының схемасы
- •Травление.
- •Глава 3 Шалаөткізгішті интегралды микросхемалар
- •§ 3.1 Типтік конструкциялар және шалаөткізгішті имс құрылымы.
- •§3.2 Биполярлы транзисторлар.
- •Планарлы-эпитаксиальды транзисторлар.
- •Шоттки барьері бар транзисторлар.
- •Көпэмиттерлі транзисторлар.
- •Әр түрлі структурадағы мдп-транзисторлардың параметрлері.
- •§ 3.4 Диодтар
- •Әр түрлі схема бойынша қосылған транзисторлық структура негізіндегі диодтың параметрлері
- •§3.5 Шалаөткізгіш резисторлар.
- •Диффузионды резисторлардың параметрлері. 3.3-таблица
- •§3.6 Шалаөткізгіш конденсаторлар
- •3.7. Биполяр имс дайындау технологиясы
- •Планарлы-эпитаксиалды технология.
- •Қосарлы технология.
- •Изопларлы технология.
- •§ 3.9. Имс шалаөткізгішінің герметизациясы мен бүрмесі
- •§ 3.10. Шалаөткізгішті имс - ны жобалау және өңдеу этаптары
- •4 Тарау
- •§ 4.1. Гибридті имс конструкциясы
- •§ 4.2. Қалыңпленкалы гибридті имс элементтері
- •§ 4.3. Жіңішке пленкаларды алу әдістерді
- •§ 4.4. Гибридті имс - ға арналған подложка
- •§4.5. Пленкалы резисторлар
- •4.15 Сурет. Жұқа пленкалы резисторлардың конструкциялары:
- •4.16 Сурет. Пленканың салыстырмалы кедергісінің оның еніне тәуелділігі: і-тунельді эффекттің облысы, іі-бұзылған беттің облысы, ііі-көлемдік қасиеттерінің облысы
- •§4.6. Пленкалы конденсаторлар
- •4.17 Сурет. Жұқа пленкалы конденсатордың жалпы түрі: 1-жоғары өтетін қоршау; 2-диэлектрлік пленка; 3-төменгі өтетін қоршау; 4-подложка.
- •4.18 Сурет. Кремний қышқылы негізіндегі пленкалы конденсатордың диэлектр өткізгіштігінің тәуелділігі:
- •4.19 Сурет. Қалдық газдардың әртүрлі қысымымен тозаңданған кремний моноқышқылы негізіндегі конденсаторлардың вас-ы:
- •§ 4.7. Пленкалы имс – дағы индуктивті элементтер
- •§ 4.8. Пленкалы өткізгіштер және контактілік алаңдар
- •§ 4.9. Қабатаралық изоляция
- •§ 4.10. Гибридті имс – ның пассивті элементтерінің әртүрлі конфигурацияларын алу әдісі
- •§ 4.11. Гибридті имс – ның навесный компоненттері
- •§ 4.12. Гибридті имс – ға арналған корпустар
- •4.13. Гибридті имс құрудың негізгі принциптері және жобалау кезеңдері
- •4.14. Гибридті имс жобалаудың бастапқы деректері
- •4.15. Гибридті имс топологиясын және құрылымын жобалау
- •5 Бөлім. Үлкен интегралды схемалар (үис)
- •5.1. Үис жалпы сипаттамалары және негізгі параметрлері
- •5.2. Үис классификациясы және қолдану аймақтары
- •5.3 Үис қарапайым базасы
- •5.4. Шалаөткізгішті үис құрылымы және жасау технологиясы
- •5.5. Гибридті үис құрылымы және дайындау технологиясы
- •5.6. Үис жобалаудың ерекшеліктері және негізгі кезеңдері
- •6 Бөлім. Байланыс құрылғыларна арналған негізгі микросхемотехникалар мен интегралды микросхемалар
- •6.1. Имс схемотехникалық ерекшеліктері
- •6.2. Биполяр транзистордағы сандық имс негізгі типтері
- •§6.4 Микроқуатты логикалық имс
- •§ 6.6 Сандық имс дамуының тенденциясы
- •§ 6.7 Аналогты (сызықты) имс негізгі типтeрі
- •§6.8. Аппаратуралық байланысқа арналған интегрлды микросхема
- •§6.9 Микропроцессор
- •§ 6.10 Аса жоғары жиілік (свч) диапазонының интегралды микросхемасы
- •Сапа, сенімділік және интегралды схемаларды қолдану
- •§ 7.1. Сапа теориясының негізігі түсінігі
- •§7.2. Сапа бақылау әдісі және имс сенімділік бағасы
- •§7.4 Имс сынағының санаттары мен түрлері
- •§7.6 Сапа көтерілуінің жолдары және имс сенімділігі
- •§7.7 Имс мен үис (бис)нің негізгі қолданыстары
- •§8.1. Функционалды микроэлектрониканың негізгі даму бағыттары
- •§ 8.2. Оптоэлектроника
- •249 Сериялы оптоэлектронды имс - ның электрлік схемасы
- •§ 8.3 . Акустоэлектроника
- •§ 8.4. Диэлектрлік электроника
- •§ 8.5. Хемотроника
- •§ 8.6. Биоэлектроника
- •§ 8.7. Микроэлектрониканың алдағы дамуы
Шоттки барьері бар транзисторлар.
Цифрлі және кілтті схемаларда жұмыс істейтін ауыстырушы транзисторлардың маңызды параметрлері tp жайылу уақыты болып табылады,ол транзистордың қанығу режимінен отсечка режиміне өткендегі коллекторлы токтың импульс өшуі фронтының ұзақтығын сипаттайды.Егер планарлы-эпитаксиальды транзистор қанығу режимінде болса базалы және жоғарыомды коллекторлы облыста негізгі емес заряд тасушылар жинақталады.Базалы токтың жапқыш импульсін бергенде негізгі емес тасушылар бірнеше уақытта жайылады.Бұл уақыт негізгі емес заряд тасушылардың жайылуына қажет,10-100 нс-ты кұрайды және тез әрекет ететін ИМС-терді шығарғанда мағызды шектеулік болып табылады.
Транзистордың жайылу уақытын азайту үшін алтынмен легірлейді,рекомбинацияның толық центін құрады.Бірақ бұл әдіс технологиялық емес,қосымша алтын шығынымен байланысты.Сонымен бірге алтынмен легірлеу базадағы негізгі емес заряд тасушылардың өмір сүру уақытын азайтады,В күшейту коэффициентін төмендетеді,сонымен қатарколлекторлы өткелдегі заряд тасушылардың өмір сүру уатытын азайтады және Iк0 кері токты көбейтеді.tp жайылу уақытын төмендетудің басқа әдісі-коллекторлы өткелді p-n өткелді диодпен шунттау болып табылады.ол диод коллектор жылжуын тура бағытта жүзеге асырады.Бірақ диодтың өзінде артық заряд жинақталады,ИМС-тың структурасы күрделенеді.
tp-ны төмендетудің кемел әдісі- коллекторлы өткелді шунттайтын Шоттки барьері бар диодты қолдану болып табылады.Интегралды атқарудағы Шоттки диоды металл мен n-типті жоғарыомды шалаөткізгіш арасындағы контакт болып табылады,транзистордың коллекторлы облысы қолданылады.Шалаөткізгіштің бетін сәйкес тазалау кезінде металл-шалаөткізгіш шекарасында обедненный слой пайда болады және Шоттки барьері құрылады..Мұндай контакт тегістейтін қасиетке ие және диод сияқты жұмыс істейді.Диодпен салыстырғанда p-n өткелде Шоттки диоды ашық жағдайдағы кернеудің(0,35-0,45В) құлауының төмен мәнін және 0,1 нс-тен аспайтын өшу уақытын сипаттайды.Шоттки диодын транзистордың коллекторлы өткеліне параллель қосқанда транзистордың қанығу дәрежесіне шек қойылады.Интегралды орындауда транзистор және диод бірлік структурадан тұрады және Шоттки барьерлі транзистор деп атайды.
3.9-сурет.Шоттки барьері бар транзистордың структурасы (а) және схемасы.(б)
3.9-суретте планарлы-эпитаксиальды технологиямен дайындалған p-n өткелді изоляциясы бар Шоттки барьерлі транзистордың (а) структурасы және (б) схемасы көрсетілген.Бұл структура n-p-n+ типті планарлы-эпитаксиалды қарапайым транзистор болып табылады,мұнда базаның металдық контакты коллекторлы облысқа ұлғайтылған.Шоттки диоды металл мен жоғарыомды коллекторлы n-облыстың шалаөткізгішімен контакты орнында құрылады.Осымен Шоттки барьері бар транзисторларды технологиялық дайындау қосымща операцияны қажет етпейді.Осы транзистордың алып жатқан ауданы іс жүзінде аздап кәдімгі транзистордың ауданынан көбірек.Осыған ұқсас ИМС-тың әр түрлі типтері үшін қышқыл қабығын изоляциялау немесе изопланарлы технологияны қолдану арқылы Шоттки барьері бар транзисторларды құруға болады.Шоттки барьері бар транзистор жұмыс істеу принципі бойынша кәдімгі планарлы-эпитаксиальды транзисторлардан былай ерекшеленеді:қанығу режиміне өткен кезде онда коллектордан базаға негізгі емес заряд тасушылардың инжекциясы болмайды,сомен қатар коллектор облысында заряд жинақталуы болмайды.
Шоттки
барьері бар транзисторлар күшейту
коэффициентінің үлкендігімен(алтынмен
легірленетін болғандықтан),инверсті
күшейту коэффициентінің аздығымен,тез
әрекет етуінің жоғарылылығымен(tp≈0)
сипатталады.Бірақ та оларға қанығу
режимі кезінде кернеудің құлауының
жоғарылауы (Uкнш≤ 0,4 В) және коллекторлы
өткелдің сыйымдылығының жоғарылылығы
да
жатады.Бұл аздап ИМС-тың параметрлерін
нашарлатады,бірақ та Шоттки барьері
бар транзисторларды қолданғандағы тез
әрекеттілігі бойынша ұтуы анық болып
табылады.Тағы да айта кететін нәрсе,Шоттки
барьері бар транзисторларға қойылатын
негізгі талап-металл-шалаөткізгіш
контакт алу болып табылады,ал ол
коллекторлы өткел арқылы болатын токқа
қарағанда, тура жылжу кезінде контакт
арқылы үлкен токқа ие болады.Сонымен
бірге Al-Si-n ШОттки барьерінің сипаттамасы
аллюминий металлизациясының технологиялық
процесіне өте сезімтал және Iдш
бойынша іс жүзінде анықталған разбростан
тұрады,және tp
бойынша да.Сондықтан жоғары сапалы
шоттки барьерін алу үшін технологиялық
планарлы-эпитаксиалды процесске қосымша
операцияларды енгізеді:кремнийдің
бетін арнайы тазалау,металл-шалаөткізгіш
контактының астына платинаны немес
молибденді шаңдату немес еріту.Мұндай
технологияның күрделілігі- тез әрекет
ететін цифрлы ИМС-терде қолданылатын
қалпына келетін параметрлері бар Шоттки
барьерлі тез әрекет ететін транзисторларды
алуға мүмкіндік береді.