
- •Микроэлектрониканың дамуының негізгі жағдайы және бағыты.
- •§ 1.1 Электронды аппаратураның элементтерінің ықшамдау (миниатюризация) және микроықшамдау (микроминиатюризация) кезеңдері.
- •1.1 Сурет. «Элемент-2» типті жазық модулдің құрылысы.
- •1.2 Сурет фэ типінің жазық модулі:а – монтажды плата; б – сыртқы түрі;
- •1.3 Сурет. Этажеркалы микромодуль:
- •1.4 Сурет. Микроэлементтер:
- •1.5 Сурет. Қалқаланған этажеркалы микромодульдің жалпы түрі
- •§ 1.2. Микроэлектрониканың жалпы сипаттамасы.
- •1.6 Сурет. Интегралды микросхемалардың сыртқы түрі
- •§ 1.3. Микроэлектрониканың дамуының тарихы.
- •1.7 Сурет. Транзисторларды дайындаудың топтық әдісі:
- •1.8 Сурет. Интегралды микросхемаларды дайындаудың топтық әдісі:
- •§1.4 Интегралды микросхемалардың классификациясы және микроэлектрониканың өнімі (изделие)
- •1.9 Сурет. Микроэлемктрониканың негізгі өнімдері (изделия)
- •§ 1.5. Интегралды микросхемалардың белгілеуінің жүйесі.
- •§ 2.1 Интегралдымикроэлектроникадақолданылатынқұбылыстар (явление), процесстержәнеәдістер.
- •2.1 Сурет Интегралды микроэлектроникада қолданылатын физикалық құбылыстар, процесстер және әдістер.
- •§ 2.2. Имс жұмыс істеуін анықтайтын, құбылыстардың және процесстердің жалпы сипаттамасы.
- •2.2 Сурет. Тасушы зарядтардың қозғалғыштығының қоспаның концентрациясына және температураға тәуелділігі.
- •2.3 Сурет. Бірқалыпты p-n-өткелдің облысында таралуы.
- •2.4 Сурет. Тура (а) және кері (б) бағыттарда түсірілген, сыртқы кернеу кезіндегі, p-n-өткелдегі зарядты тасушылардың таралуы және энергетикалық диаграммасы
- •2.5 Сурет. Оңзарядтың бетінде бар болуы (б– г) және бетіне жақын кезде жоқ болуы (а)планарлыp-n-өткелінің құрылымы.
- •§ 2.3. Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика – химиялық әдістері.
- •2.6 Сурет. Кремнидің термиялық тотығуын орнату құрылғысы
- •2.7 Сурет. Фотолитографияның процессінің схемасы:
- •2.9 Сурет. Екізоналы диффузионды қондырғының схемасы
- •2.10 Сурет. Бірзоналы диффузионды қондырғының схемасы: 1 – газды беруге арналған магистраль; 2 – сұйық диффузиант үшін қоректендіргіш; 3 – кварцты труба; иг – инертті газ; гн – газ –тасушы
- •2.11 Сурет. Ионды легірлеуге арналған қондырғының схемасы
- •Травление.
- •Глава 3 Шалаөткізгішті интегралды микросхемалар
- •§ 3.1 Типтік конструкциялар және шалаөткізгішті имс құрылымы.
- •§3.2 Биполярлы транзисторлар.
- •Планарлы-эпитаксиальды транзисторлар.
- •Шоттки барьері бар транзисторлар.
- •Көпэмиттерлі транзисторлар.
- •Әр түрлі структурадағы мдп-транзисторлардың параметрлері.
- •§ 3.4 Диодтар
- •Әр түрлі схема бойынша қосылған транзисторлық структура негізіндегі диодтың параметрлері
- •§3.5 Шалаөткізгіш резисторлар.
- •Диффузионды резисторлардың параметрлері. 3.3-таблица
- •§3.6 Шалаөткізгіш конденсаторлар
- •3.7. Биполяр имс дайындау технологиясы
- •Планарлы-эпитаксиалды технология.
- •Қосарлы технология.
- •Изопларлы технология.
- •§ 3.9. Имс шалаөткізгішінің герметизациясы мен бүрмесі
- •§ 3.10. Шалаөткізгішті имс - ны жобалау және өңдеу этаптары
- •4 Тарау
- •§ 4.1. Гибридті имс конструкциясы
- •§ 4.2. Қалыңпленкалы гибридті имс элементтері
- •§ 4.3. Жіңішке пленкаларды алу әдістерді
- •§ 4.4. Гибридті имс - ға арналған подложка
- •§4.5. Пленкалы резисторлар
- •4.15 Сурет. Жұқа пленкалы резисторлардың конструкциялары:
- •4.16 Сурет. Пленканың салыстырмалы кедергісінің оның еніне тәуелділігі: і-тунельді эффекттің облысы, іі-бұзылған беттің облысы, ііі-көлемдік қасиеттерінің облысы
- •§4.6. Пленкалы конденсаторлар
- •4.17 Сурет. Жұқа пленкалы конденсатордың жалпы түрі: 1-жоғары өтетін қоршау; 2-диэлектрлік пленка; 3-төменгі өтетін қоршау; 4-подложка.
- •4.18 Сурет. Кремний қышқылы негізіндегі пленкалы конденсатордың диэлектр өткізгіштігінің тәуелділігі:
- •4.19 Сурет. Қалдық газдардың әртүрлі қысымымен тозаңданған кремний моноқышқылы негізіндегі конденсаторлардың вас-ы:
- •§ 4.7. Пленкалы имс – дағы индуктивті элементтер
- •§ 4.8. Пленкалы өткізгіштер және контактілік алаңдар
- •§ 4.9. Қабатаралық изоляция
- •§ 4.10. Гибридті имс – ның пассивті элементтерінің әртүрлі конфигурацияларын алу әдісі
- •§ 4.11. Гибридті имс – ның навесный компоненттері
- •§ 4.12. Гибридті имс – ға арналған корпустар
- •4.13. Гибридті имс құрудың негізгі принциптері және жобалау кезеңдері
- •4.14. Гибридті имс жобалаудың бастапқы деректері
- •4.15. Гибридті имс топологиясын және құрылымын жобалау
- •5 Бөлім. Үлкен интегралды схемалар (үис)
- •5.1. Үис жалпы сипаттамалары және негізгі параметрлері
- •5.2. Үис классификациясы және қолдану аймақтары
- •5.3 Үис қарапайым базасы
- •5.4. Шалаөткізгішті үис құрылымы және жасау технологиясы
- •5.5. Гибридті үис құрылымы және дайындау технологиясы
- •5.6. Үис жобалаудың ерекшеліктері және негізгі кезеңдері
- •6 Бөлім. Байланыс құрылғыларна арналған негізгі микросхемотехникалар мен интегралды микросхемалар
- •6.1. Имс схемотехникалық ерекшеліктері
- •6.2. Биполяр транзистордағы сандық имс негізгі типтері
- •§6.4 Микроқуатты логикалық имс
- •§ 6.6 Сандық имс дамуының тенденциясы
- •§ 6.7 Аналогты (сызықты) имс негізгі типтeрі
- •§6.8. Аппаратуралық байланысқа арналған интегрлды микросхема
- •§6.9 Микропроцессор
- •§ 6.10 Аса жоғары жиілік (свч) диапазонының интегралды микросхемасы
- •Сапа, сенімділік және интегралды схемаларды қолдану
- •§ 7.1. Сапа теориясының негізігі түсінігі
- •§7.2. Сапа бақылау әдісі және имс сенімділік бағасы
- •§7.4 Имс сынағының санаттары мен түрлері
- •§7.6 Сапа көтерілуінің жолдары және имс сенімділігі
- •§7.7 Имс мен үис (бис)нің негізгі қолданыстары
- •§8.1. Функционалды микроэлектрониканың негізгі даму бағыттары
- •§ 8.2. Оптоэлектроника
- •249 Сериялы оптоэлектронды имс - ның электрлік схемасы
- •§ 8.3 . Акустоэлектроника
- •§ 8.4. Диэлектрлік электроника
- •§ 8.5. Хемотроника
- •§ 8.6. Биоэлектроника
- •§ 8.7. Микроэлектрониканың алдағы дамуы
2.9 Сурет. Екізоналы диффузионды қондырғының схемасы
2.10 Сурет. Бірзоналы диффузионды қондырғының схемасы: 1 – газды беруге арналған магистраль; 2 – сұйық диффузиант үшін қоректендіргіш; 3 – кварцты труба; иг – инертті газ; гн – газ –тасушы
Кварцты трубаның кіріс соңы 4 беру жүйесімен 1 жалғасқан. Труба, температураға сәйкес зона құратын, екі қыздырғыш пеште (төменгі температуралы2 және жоғары температуралы 3) орналасады. Төменгі температуралы зонада, жүрісі бойынша бірінші газ – тасушыны, қоспа көзіне (источник) 6 орналастырады, жоғары температуралы зонада арнайы кварцты қайықшада (лодочке) трубаның шығысына жақын – кремнидің пластиналары 5. Газ – тасушы вентели 7 арқылы газды беру жүйесінен шығып, трубадан ауаны ығыстырады.
Қоспаның көздері қатты, сұйық және газ тәрізді болуы мүмкін; осыған байланысты қоспаны жүйеге енгізудің әр түрлі әдістерін ажыратады. Қоспаның қатты көзінде жүйеге диффузантты енгізу әдісін қолданады. Қоспаның сұйық көзінде арнайы қоректендіргішті және бірзонды қондырғыны қолданады (2.10 сурет). Қоспаның газ тәрізді көзінде арнайы баллондардан газ диффузант жүйеге беріледі және газ тасушылармен бірге қажетті пропорцияда араласады. Диффузант ретінде бордың, фосфордың, мышьяктың және сүрменің қосылуларын қолданады.
Қоспаның келтірілген көзіндегі диффузия (диффузия из нанесенного источника примеси) жартылай өткізгішті пластинаның бір жағына қоспа көзінің қабатын жағады, содан кейін пластинаны пеште ашық труба әдісімен қыздырады және қоспа пластинаға диффундирлейді.
Қоспаның диффузиясы диффузионды қондырғыда жүзеге асады. Бұрынғы тәжірибеде диффузионды бірзонды қондырғылардың СДО – 13, СДО – 125/4 және СДО -125/3 -12 типтерін және екізонды қондырғының СДД – 13, СДД-125П/1 типтерін қолданады.
Ионды легірлеу. Микроэлектрониканың технологиясында ионды имплатация кеңінен таралған. Ионды имплатация әдісі электрлі және магнитті өрістермен басқарылатын жоғары энергиямен зарядталған атомның бөлшектер (иондар) ағынына бағытталған, қатты денені бомбылаушы, оның беткі қабатындағы құрылымды, электрофизикалық, физика – химиялық және басқа қасиеттері өзгеруі үшін қолдануға негізделген. Жартылай өткізгіште қоспаға енгізу үшін ионды имплатация көбірек қолданым тапты. Бұндай процесс ионды легірлеу деп аталады.
Ионды легірлеудің мәні келесіде қорытындылады. Арнайы көздерден алынған қоспаның иондары, электрлі және магнитті өрісте жылдамдатылады және бір орынға жиналады, оны бомбылап, жартылай өткізгішті пластинаның бетіне түседі. Көп энергияға ие болып, иондар жартылай өткізгіштің кристаллдық торына ұшады, кездескен атомдармен соқтығысады және бірлесіп әрекет жасайды. Әр соқтығысқанда иондар атомдардың ядроларына жжәне электронддарға өзінің кинетикалық энергиясының бөлігін береді. Соқтығысу энергия шығыны нәтижесінде болады, серпінді және серпінді емеске жіктейді. Атоммен ионның бірлесіп әрекет жасауы толығымен серпінді, ал электронды қабықшамен – серпінді емес болып табылады. Егер серпінді соқтығысу кезінде ионнан атомға берілген энергия қатты денедегі атомдарға байланысты энегияны жоғарылатады, онда атом түйінді тастап кетеді. Нәтижесінде бос орын және түйін аралық атом пайда болады. Дегенмен бірінші жылжыған атомның энергиясы үлкен, өзінің қозғалу жолында ол толық жылжу каскадын құрады. Сондықтан иондардың имплатация процессі радиоционды кемшіліктерді жинаумен жүреді. Енгізілген иондар бос орынды түйінге, донорлар мен акцепторлар болып, түсуі мүмкін, дегенмен түйіндердің орнын баса тұру ықтималдығы аз. Көптеген енгізілген иондар, электрлі бейтарап болып табылатын, түйінаралығында орналасады. Оларды түйіндерге ауыстыру және қалпына келіту үшін жартылай өткізгіштің кристаллдық құрылымдары өңдеуді жасайды. Нәтижесінде ыдырайды және радиоционды кемшіліктерді аннигиляциялайды , енгізілген қоспалы атомдар бос орынды түйіндерге ие болады, п және р типті электрөткізгіштікті қабатты құруды қамтамасыз ететін, элекрлі активті болады.
Ионды легірлеу процессі пластинаға иондардың енуінен және біруақытта не одан кейін енумен жүзеге асатын, оның өңдеуінен тұрады.
Ионды легірлеудің сипаттамалы ерекшелігі,енгізілген қоспа атомдарын ұстау жартылай өткізгішті пластинаның подложкасының физикалық қасиетімен емес,диффузияның температурасынан айтарлықтай төмен, өңдеудің температурасымен және енген иондардың шарттарымен анықталады.
Ионды легірлеу арнайы вакуумды қондырғыда, 2.11 суреттегі схемада көрсетілгендей жүзеге асады.