
- •Поверхностная обработка полупроводниковых материалов
- •Кремний - основной материал для полупроводниковых интегральных микросхем
- •1.2. Механическая обработка кремниевых пластин
- •1.3. Химическое травление кремния
- •1.4. Плазмохимическое травление кремния
- •2. Диэлектрические пленки на кремнии
- •2.1. Термическое окисление кремния
- •2.2. Методы контроля параметров диэлектрических слоев
- •2.3. Контроль заряда на границе раздела полупроводник - диэлектрик
- •2.4. Осаждение диэлектрических пленок
- •3. Введение примесей в кремний или легирование полупроводниковых материалов
- •3.1. Диффузия примесей в полупроводник
- •3.2. Эпитаксия
- •3.3. Ионное легирование полупроводников
- •Средние величины пробегов и нормальных отклонений в кремнии, нм
- •4. Технология литографических процессов
- •4.1. Классификация процессов литографии
- •4.2. Схема фотолитографического процесса
- •4.3. Фоторезисты
- •4.4. Фотошаблоны
- •4.5. Технологические операции фотолитографии
- •4.6. Электронолитография
- •4.7. Рентгенолитография
- •5. Металлизация
- •5.1. Свойства пленок алюминия
- •5.2. Создание омических контактов к ис
- •5.3. Использование силицидов металлов
- •5.4. Многоуровневая металлизация
- •6. Ионно-плазменные методы в технологичечких процессах микро_ наноэлектроники
- •6.1. Классификация ионно-плазменных процессов нанесения тонких пленок
- •6.2. Технологические источники ионов для процессов формирования пленок
- •6.3. Формирование тонких пленок с использованием магнетронных распылительных систем
- •7. Микролитография.
- •7.1. Классификация методов плазменного травления
- •7.2. Обработка поверхности подложек вне зоны плазмообразования
- •7.2.1. Ионно-лучевое травление
- •7.2.2. Реактивное ионно-лучевое травление
- •7.3. Обработка подложек непосредственно в зоне плазмообразования
- •7.3.1. Ионно-плазменное травление
- •7.3.2. Реактивное ионно-плазменное травление
- •7.3.3. Плазменное травление
- •8. Свч плазменные процессы и устройства
- •8.1. Общая характеристика
- •8.2. Области использования свч энергии в производстве изделий микро- и наноэлектроники
- •8.3. Конструктивные решения свч газоразрядных устройств технологического назначения
5.3. Использование силицидов металлов
С увеличением степени интеграции и уменьшением размеров элементов интегральных схем стало невозможным решить с помощью только металлических пленок проблемы создания контактов и межсоединений к сверхтонким структурам (эмиттерные и базовые контакты в биполярных транзисторах, контакты и выводы в МДП-транзисторах). Широко используются сейчас, наряду с алюминием и тугоплавкими металлами (Mo, W), силициды тугоплавких металлов TiSi2, TaSi2, WSi2, MoSi2, а также их сочетания с легированным поликристаллическим кремнием. Особенно привлекателен TiSi2, обладающий наименьшим удельным сопротивлением.
Силициды металлов могут быть получены либо при осаждении металла на кремний с последующим отжигом, либо при одновременном распылении (сораспылении) кремния и тугоплавкого металла, например с использованием магнетронного распыления.
При напылении металла и последующем его вжигании в кремний образующиеся силициды могут иметь три модификации: Me2Si с температурой образования примерно 200 °С, MeSi (моносилицид) с температурой образования 400 - 500 °С и MeSi2 (дисилицид) с наибольшей (более 600 °С) температурой образования. Не все силициды металлов имеют все три модификации, так, Pd, Pt образуют два первых соединения, a Ti и Та только два последних. Две первые модификации силицидов металлов растут по параболическому закону: квадрат толщины пленки х2 пропорционален времени вжигания t. В этом случае атомы металла диффундируют в кремний по междоузлиям, что приводит к ослаблению ковалентной связи в полупроводнике в случае большой концентрации металлических атомов. Ослабление ковалентных связей можно рассматривать как переход к связям, подобным металлическим. Одновременно идет и диффузия кремния в металл, но она гораздо слабее. При малой растворимости тугоплавких металлов в кремнии для образования растворов замещения необходимо создать большую концентрацию вакансий в кремнии. Поскольку энергия образования вакансии достаточно велика, то при низких температурах (менее 400 - 500 °С) это маловероятно.
При более высокой температуре (выше 600 °С) отрыв атома кремния может происходить на его поверхности на границе с металлом в энергетически слабых точках, например на ступеньках, за счет увеличения энергии атомов под влиянием тепловых колебаний. Рост силицида ограничивается поступлением атомов кремния, скоростью разрыва связей Si - Si, т.е. реакцией с металлом на границе раздела. Поэтому рост силицида идет по линейному закону: х пропорциональна t, и в диффузионном потоке преобладают атомы кремния.
Рост силицидов на поликристаллическом кремнии происходит аналогично росту на монокристалле. В присутствии кислорода или паров воды скорость роста силицида уменьшается. Многие тугоплавкие металлы образуют как силициды, так и окислы (Ti, Та, V). При нанесении металла на окисел кремния они образуют сильные адгезионные связи, взаимодействуя с окислом кремния улучшают адгезию Me - SiO2. При высокой температуре в результате этого взаимодействия образуется силицид металла, температура его образования на 100 - 200 °С выше, чем для реакции с кремнием. Причем на окисле кремния растут силициды, обогащенные металлом (например Ti5 Si3, а не TiSi2).
Силициды, полученные сораспылением, имеют более регулярный состав, однако их удельное сопротивление может быть выше, чем у полученных вжиганием в кремний. Возможно, это связано с большим размером кристаллитов у последнего и, следовательно, с большей подвижностью носителей заряда.
Применение силицидов металлов в качестве материалов омических контактов к тонким (менее 0,1 мкм) слоям кремния - одно из важных направлений современной технологии ИМС. Особенно перспективно использование для этих целей TiSi2. Помимо наименьшего удельного сопротивления силицид титана при взаимодействии с кислородом и окислом кремния образует окисел титана TiO2, который является полупроводником с шириной запрещенной зоны около 2 эВ. Таким образом, окисел титана не препятствует протеканию тока в контакте и незначительно увеличивает его сопротивление.