
- •1 1 . Системы сбора и обработки данных, основные определения, разновидности. Задачи, решаемые разновидностями систем.
- •1.Производство
- •1.Производство
- •1.Экспериментальное исследование объектов, процессов или явлений
- •2 2 . Классификация измерительных систем. Функции, выполняемые в измерительных системах. Характеристики измерительных систем.
- •3 3 . Точностные характеристики измерительных систем.
- •4 4 . Быстродействие измерительных систем. Квантование во времени и восстановление сигнала. Погрешности восстановления.
- •5 5 . Обобщенная структурная схема ис. Основные функциональные блоки и типовые структуры. Сравнение характеристик различных структур измерительных систем.
- •6 6 . Помехоустойчивость измерительных систем. Источники и разновидности помех.
- •7 7 . Влияние заземления, внутреннего сопротивления источника и приемника на помехоустойчивость. Методы повышения помехоустойчивости.
- •8 8 . Теплоизмерительная система «Тепло-2». Структурная схема, общая характеристика. Первичные измерительные преобразователи и каналы измерения.
- •9 9 . Алгоритмы повышения точности измерений в «Тепло-2».
- •1 10 0. Контроль – основные определения и задачи. Классификация систем контроля
- •1 11 1. Системы контроля. Структуры и разновидности каналов контроля.
- •1 13 3. Полнота контроля. Способы оценки полноты контроля.
- •1 14 4. Достоверность контроля. Ошибки контроля, природа возникновения ошибок.
- •1 15 16 5. 16. Оценка ошибки контроля 1-го и 2-го рода.
- •1 18 8. Эффективность контроля, способы оценки эффективности.
- •1 19 9. Пpедмет и задачи технической диагностики. Основные опpеделения.
- •2 20 0. Виды ошибок и неиспpавностей. Модели объектов диагностиpования.
- •2 21 1. Таблица функций неиспpавностей. Совокупности обнаpуживающих и pазличающих пpовеpок.
- •2 22 2. Синтез теста контроля по таблице функций неисправностей.
- •2 23 3. Синтез диагностического теста по таблице функций неисправностей.
- •2 24 4. Оптимизация тестов.
- •2 25 5. Хаpактеpистики систем диагностирования.
- •2 290 9. Постpоение тестов методом pазличающих функций
- •30. Постpоение тестов методом существенных путей
- •Построение тестов методом существенных путей
- •3 31 1. Модели автоматов с памятью. Особенности диагностиpования автоматов с памятью.
- •3 32 2. Пpоблемы испытаний микpопpоцессоpных систем. Методы испытаний.
- •3 33 3. Анализ логических состояний. Устpойство и пpинцип действия анализатоpов логических состояний
- •3 34 4. Устройство и принцип действия сигнатурного анализатора.
- •3 35 5. Алгоритм поиска неисправностей с помощью сигнатурного анализатора.
- •1. Системы сбора и обработки данных, основные определения, разновидности. Задачи, решаемые разновидностями систем.
- •2. Классификация измерительных систем. Функции, выполняемые в измерительных системах. Характеристики измерительных систем.
Построение тестов методом существенных путей
1.
Найти условие проявления неисправности
2. Найти условие транспортировки неисправности
3. Найти наборы, которые удовлетворяют обоим условиям одновременно, т.е. найти наборы при которых истинно булево выражение:
Чтобы построить тест, обнаруживающий неисправность y6 = const 1, или любую другую неисправность элемента D6, необходимо найти соответствующие условия проявления неисправностей, а условие транспортировки остается прежним…
3 31 1. Модели автоматов с памятью. Особенности диагностиpования автоматов с памятью.
Модели дискретных объектов с памятью Абстрактный конечный автомат. Автомат Мили
Абстрактный конечный автомат X –
внешний входной сигнал Z – внешний
выходной сигнал W – сигнал возбуждения
элементов памяти Y – сигнал состояния
автомата Синхронный автомат: Отработка
изменения состояния (Y) и входного
сигнала (X) происходит одновременно
через интервал синхронизации
(такт).
Функционирование абстрактного автомата
Комбинационное устройство - вырожденный автомат - - выходные сигналы зависят только от входных переменных.
Аналитическое описание абстрактного автомата: Перечисление всех возможных пар «входной сигнал – состояние» и сопоставление этим парам комбинаций выходных сигналов и сигналов состояний в следующий момент времени. Форма представления описаний: графы переходов-выходов, таблицы, матрицы…
Граф
переходов-выходов
1.Вершины соответствуют состояниям автомата
2.Дуги соответствуют переходам
3.Каждой дуге приписан:
• входной символ, вызывающий переход
• выходной символ, генерируемый автоматом
Таблица переходов-выходов (пример) А. Определяются: • Входной алфавит {X} = {X1 , X2 }
• Выходной алфавит {Z} = {Z1 , Z2 } • Алфавит состояний {Y} = {Y1 , Y2 , Y3 , Y4 , Y5 } Б. Ставятся в соответствие: • Строкам - входные символы в момент v• Столбцам – состояния автомата в момент v В. В клетках: • Состояния автомата в момент v +1 • Выходной сигнал в момент v
Разновидности автоматов Автомат находится в устойчивом состоянии, если при одном и том же входном символе состояния автомата в момент v и в момент v +1 одно и то же. (в примере – состояния Y1 , Y4 , Y5 при входных символах X1 , X2 , X2 , соответственно) Инициальный автомат – автомат с определенным начальным состоянием В неинициальном автомате – любое состояние может быть начальным
Структурная модель автомата 1.Каждый из символов входного и выходного алфавитов, алфавитов функций возбуждения и состояний кодируются наборами соответствующих переменных. 2.Каждый вход (выход) абстрактного автомата представляется группой линий, соответственно числу входных, внутренних и выходных переменных.
3 32 2. Пpоблемы испытаний микpопpоцессоpных систем. Методы испытаний.
Проблемы тестирования микропроцессорных систем
1. Сложность комплектующих – до 106 и более компонентов на кристалле
2. Высокая плотность компонентов на кристалле
3. Взаимное влияние компонентов
4. Зависимость поведения от напряжения питания, температуры, топологии
5. Ограниченное количество контрольных точек
6. Высокие рабочие частоты
7. Зависимость поведения от последовательности состояний
8. Шинная организация соединений
9. Сложная, многофазная система синхронизации
10.Комплексная, программно-аппаратная реализация целевых функций
11.Многофункциональность выводов
12.Огромные объемы данных
13.Непериодичность исследуемых процессов
14.Сложность моделирования
15.Трудоемкость синтеза тестов
16.Невозможность полного контроля
Пусть объект контроля – 8 разрядный микропроцессор Intel 8080 Количество элементов памяти
~ 200 Тактовая частота ~ 3 МГц Сколько времени необходимо для полного контроля такого объекта? Полный контроль 8-разрядного микропроцессора потребует… ~1032 лет!!!
Логический анализ - метод диагностирования цифровых систем, основанный на преобразовании множеств двоичных последовательностей, поступающих от ОК(объекта контроля), в подмножества меньшей мощности, запоминании этих подмножеств и отображении полученной информации в форматах, наиболее полно отражающих логику функционирования объекта на том или ином уровне описания.