- •Порядок расчетов сплавного выпрямительного диода
- •Порядок расчета p- I – n диода.
- •Особенности расчета варикапа.
- •Особенности расчета фотодиода.
- •Особенности расчета диода Шоттки.
- •Образование и емкости плавного, резкого и сверхрезкого p-n перехода. Образование электронно-дырочного (р-n) перехода
- •Резкий несимметричный переход
- •Плавный переход
- •Барьерная емкость р-n-перехода
- •Расчет прямой ветви вах диода.
- •8. Расчет обратной ветви вах диода
- •9. Особенности расчета коэффициента передачи тока базы мощного биполярного транзистора.
- •10. Особенности расчеты частоты отсечки мощного биполярного транзистора
- •12. Порядок расчета сопротивлений базы диодов.
- •13. Порядок расчета сопротивлений базы биполярных транзисторов.
- •14. Расчет паразитных емкостей свч мощных моп транзисторов.
- •17.Особенности расчета порогового напряжения короткоканального моп транзистора.
- •20.Конструкция корпуса мощных свч биполярных транзисторов и требования к используемым материалам.
- •21.Особенности функционирования и расчета пороговых напряжений нормально открытых и нормально закрытых птш.
- •Сравнительный анализ электрических параметров вдмоп, гдмоп и vмоп транзисторов. ( см. Вопрос 23 )
- •Расчет сопротивления сток-исток открытого вдмоп транзистора.
- •Сравнительный анализ электрических характеристик птуп и птш.
- •Особенности расчета порогового напряжения узкоканальных моп транзисторов.
- •Расчет сопротивления сток-исток открытого гдмоп транзистора.
- •Расчет сопротивления сток-исток открытого vмоп транзистора.
- •Расчет выходной мощности, удельного сопротивления и ширина эпитиканального слоя вдмоп транзистора.
- •Расчет толщины подзатворного диэлектрика, концентрации акцептов и минимальной длины канала вдмоп транзистора.
- •3.5 Современные структуры транзисторов
- •Расчет величины подвижности свободных носителей заряда в канале моп транзистора и методы ее увеличения.
- •3.7.1 Подвижность
- •Расчет величин пороговых напряжений моп транзисторов с алюминиевым, n-поликремниевым и p-поликремниевым затворами.
- •3.7.2 Пороговое напряжение классического мопт с большими размерами
- •36. Особенности, за и против применения мощных полевых и биполярных транзисторов.
- •37. Пороговое напряжение и крутизна мощных мопт с двойной диффузией.
- •38. Классификация полупроводниковых диодов.
- •39.Принципы действия, вах тиристоров. Требования, предъявляемые к материалам.
- •41.Конструирование структуры тиристоров.
- •42. Пробой тиристорной структуры.
Расчет сопротивления сток-исток открытого vмоп транзистора.
В VМОП и UМОПТ каналы образуются вертикальным диффузионным профилем за счет анизотропного травления V-канавки под углом 54,74º к поверхности. В результате при тех же самых технологических параметрах диффузии длина канала в этих транзисторах lk = xp-xn/sin54,74º в полтора раза больше, чем длина горизонтального канала в ДМОП-структурах. Поэтому при тех же самых технологических параметрах структуры можно ожидать сопротивление канала в горизонтальных структурах приблизительно на 50 % меньше.
Каналы как в ГДМОП, так и в ВДМОП формируются в кремнии с ориентацией (100). Каналы в VМОП- и в UМОП-структурах формируются в кремнии с ориентацией (111). Структуры, сформированные в кремнии с ориентацией (100), имеют по сравнению со структурами, каналы которых сформированы в кремнии с ориентацией (111), на 20 % большую подвижность носителей в инверсионном слое (канале) и на 15 % большую скорость носителей в канале. Эти эффекты значительно сказываются на уменьшении сопротивления канала и на увеличении крутизны.
в – Сечение VМОП с составляющими сопротивления сток–исток и с паразитными емкостями затвор–канал
Расчет выходной мощности, удельного сопротивления и ширина эпитиканального слоя вдмоп транзистора.
Рисунок 3.26 – Поперечное сечение вертикального МОПТ с двойной диффузией с указанием областей, необходимых для расчета сопротивления проводящего состояния
ρn- = 1/( qμобNd) – удельное сопротивление эпитаксиального n--слоя, показанного на рисунке 3.26 трапециевидной областью IV, верхнее основание которой касается р-п-переходов в точках, для которых угол θ = 45°.
В
зависимости от назначения мощные СВЧ
МОПТ характеризуются диапазоном рабочих
частот, выходной мощностью Р1,
коэффициентом усиления по мощности
Kур,
коэффициентом полезного действия
,
уровнем нелинейных искажений и собственных
шумов и т.д.
Для генераторных транзисторов основным
качественным критерием является уровень
выходной мощности, отдаваемой прибором
в нагрузку на определенной частоте или
в диапазоне частот при максимально
возможных Kур
и
.
Поэтому выбор конструкции и расчет
топологии структуры мощного генераторного
МОПТ необходимо производить, исходя
прежде всего из требуемого значения
Р1.
Выходная мощность Р1
ограничена значениями максимально
допустимых напряжений исток – сток
UCИ.макс,
сток – затвор UCЗ.макс,
максимально допустимой мощностью
рассеяния Рмакс
и максимально допустимым током стока
Iмакс.
Без учета потерь мощности на объемном
сопротивлении стока Rc
выходная мощность МОПТ в критическом
режиме класса В связана с Iмакс
и UCИ.макс
следующим известным соотношением:
P1=I 'c(UСИ.макс – Uост)8, (3.77)
где Uост = I 'cRСИ.отк – остаточное напряжение стока;
I 'c ≈I'макс – ток стока при UСИ=UЗИ.макс·UСИ=Uост
толщина
(расстояние между металлургической
границей стокового p-n-перехода
и нижним высоколегированным n+-слоем
подложки) и удельное сопротивление
эпитаксиального n--слоя
для заданной величины UСИ.проб
могут быть определены как
=
(3.79)
=
.
(3.80)
