4. Средства измерения и контроля параметров шероховатости, выпускаемые зарубежными фирмами

Прибор	Параметр	Диапазон измерения, мкм	Базовая длина, мм
Профилограф- про филометр “Tafysurf-I”	Ra	0,1 ... 5,0	0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8,0
Профил Офаф- про филометр “Та ly surf-10”	Ra, Rq Rt, Rtm Rp	0,025 ... 50 0,25 ... 500	0,8 ... 8,0
Профилофаф- про филометр “Та ly surf-4”	Ra Ягпах //min 'vv //max Tp	0,05 ... 10 0,2 ...40 0,2 ... 40 0,4 ... 80 100%	0,25 ... 2,5
Мини- 1;. компьютер ' “Та ly nova”	Ra, Rq //max, Rt Rz, Rtm Sm Tp	0,05 ... 100 10... 5000 100%	0,25 ... 2,5
Цеховой профи- лофаф Профилометр “S nitron ik-3”	Ra Rp, Rt, Rtm Tp	0... 10 0... 200 0... 100 %	0,25 ... 2,5
Профилограф “Talysfer”	Ra	до 10	0,25 ... 0,8
Rotary Talysurf Наибольший ра­диус измеряемой поверхности 38 мм, минималь­ный - 0,25 мм	Ra	Как у Talysurf-10 или Talysurf-4	0,8 ... 2,5 ■
Профилофаф- профилометр «Сурфтест-З»	Ra, Rt	0,02... 100	0,8 ...2,5 •
Профилометр РМ-01	Ra	0,1 ... 10	0,8... 2,5
Основные части	Rt, //max Rz, Ra Wt	Для параметров 0,1... 100; для волнистости 1 ... 500	0,025 ...2,5 -
Дополнительные блоки Н, Rmc, Rs Rp,tp	Дополнительные параметры кривая опорной поверхности	Для параметров шероховатости 0,1 ... 100; для волнистости 1 ... 500	-
Профилометр П5 пз	Ra Rt //шах	0,3 ... 10 1 ...30 1 ...30	0,8;2,5
“Homel Tester” профилом етр- профилофаф	Ra Rz Rt	0,3 ... 10 1 ... 30 0.1 ... 100	0,025 ...2,5 .
Патер-О-метр DWR-LP	Rt, Wt	2,5 ... 100	0,8... 8

Для относительной качественной оценки шероховатости обработанной поверхно­сти на рабочем месте могут быть использованы и образцы шероховатости.

Параметры волнистости поверхностей могут быть измерены теми же средствами, что и параметры шероховатости. Все зарубежные профилометры, как правило, имеют соответствующие электрические фильтры, позволяющие при переключении переходить с измерения шероховатости к измерению волнистости.

Отечественные профилометры также могут быть использованы для измерения вол­нистости, но с применением механического фильтра (щуп радиусом 1,5 мм).

Для определения окружной волнистости с успехом используются отечественные кругломеры мод. 218 и 253, а также различные зарубежное кругломеры, в частности, модели “Talyrond”.

Для измерения поверхностной микротвердости с успехом применяется отечествен­ный микротвердомер МТ-5М.

^ Средства активного контроля можно разделить на средства прямого и косвенного измерения необходимых параметров.

При прямом методе контроля измеряется непосредственно размер или параметр шероховатости.

При косвенном методе величина обрабатываемого размера оценивается по кон­кретному положению режущей кромки инструмента, по измеряемой силе резания и т.д. Параметры качества поверхностного слоя контролируются по температуре в зоне реза­ния, экзоэлектрон ной эмиссии, колебаниям и т.д. Косвенный метод обладает большими погрешностями по сравнению с прямым, и к нему, как правило, прибегают при невоз­можности реализации прямого метода.

По функциональному назначению средства активного (технологического) контроля подразделяют на группы:

1. средства контроля, осуществляющие измерение текущих значений размеров, параметров качества поверхностного слоя непосредственно в процессе обработки пря­мым или косвенным методом;

‘д«^!Ь2) средства контроля и подналадки, осуществляющие поднастройку станка при от­клонении измеряемого размера или параметра качества поверхностного слоя от задан­ных значений;

*/дидЗ) средства контроля и блокировки, осуществляющие прекращение работы при от­клонении измеряемого размера или параметра качества поверхностного слоя от задан­ных значений.

Наиболее прогрессивными из них являются средства активного контроля и подна­ладки. Причем их развитие может привести к созданию самообучающихся технологичес­ких систем.

Все автоматические средства пассивного и активного контроля в качестве измери­тельных устройств используют различные датчики: пневматические, индуктивные, ем­костные, пьезо и др. Сигнал от датчиков поступает на усилитель, а затем на преобра­зующее и сравнивающее устройства, командоаппарат и исполнительный орган станка.

Пример одлой из таких систем приведен в главе 4.