
- •Л.Й. Дворкін, і.Г. Скрипник фізико-хімічні і фізичні методи досліджень будівельних матеріалів
- •Передмова
- •1. Основні поняття та визначення
- •1.1. Фізико-хімічний аналіз
- •1.2. Хімічні, фізичні і фізико-хімічні методи аналізу
- •1.З. Фізико-хімічні і фізичні методи досліджень
- •Фігуровського
- •2.1.1. Опис експериментальної установки
- •2.1.2. Порядок обробки результатів вимірювань
- •2.1.3. Питання самоконтролю
- •2.2. Визначення питомої поверхні дисперсних матеріалів
- •2.2.1. Суть методу та опис приладу псх-2. Робоча формула
- •2.2.2. Прилад Блейна
- •2.2.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •3. Методи дослідження структури порового простору будівельних матеріалів
- •3.1. Будова пористого матеріалу
- •3.1.1. Пікнометричний метод визначення істинної густини речовини
- •3.1.2. Визначення середньої густини твердих тіл за допомогою гідростатичного зважування
- •3.1.3. Визначення загальної, відкритої та закритої пористості твердих тіл
- •3.1.4. Питання самоконтролю
- •Література
- •3.2. Метод визначення показників пористості матеріалів за кінетикою їх водопоглинання
- •3.2.1. Порядок обробки результатів вимірювань
- •3.2.2 .Питання самоконтролю
- •Література
- •4. Визначення в’язкості речовин в рідкому стані та дослідження реологічних властивостей структурованих дисперсних систем
- •4.1. Визначення умовної в'язкості рідин
- •4 Рис. 4.2. Віскозиметр .1.1. Опис експериментальної установки
- •4.2. Дослідження в’язкості рідин методом Пуазейля і Стокса
- •4.3. Дослідження в’язкості рідин методом Швидковського
- •4.3.1. Опис експериментальної установки
- •Ампула зі зразком
- •Кінематичної в'язкості
- •4.4. Дослідження реологічних властивостей структурованих дисперсних систем
- •4.4.1. Опис експериментальної установки
- •4.5. Визначення граничної напруги зсуву формовочних мас конічним пластоміром
- •4.5.1. Опис експериментальної установки
- •4.6. Питання самоконтролю
- •Література
- •5. Термічні методи дослідження матеріалів
- •5.1. Простий термічний аналіз (та)
- •5.2. Диференціальний термічний аналіз (дта)
- •5.3. Термогравіметричний аналіз (тг) та диференціальнотермогравіметричний аналіз (дтг) матеріалів
- •5.4. Ідентифікація олігомерів та полімерів як приклад застосування термографії
- •5.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •6. Методи дослідження теплофізичних властивостей матеріалів
- •6.1. Теплопровідність як явище переносу енергії
- •6.1.1 .Вимірювання теплопровідності методом відносного горизонтального шару
- •6.1.2. Опис експериментальної установки
- •6.2. Питома теплоємність будівельних матеріалів
- •6.2.1. Визначення питомої теплоємності матеріалів калориметричним методом змішування
- •6.2.2. Опис експериментальної установки
- •6.3. Калориметричні методи
- •6.3.1. Тепловиділення
- •6.3.2. Теплота гідратацій цементу
- •(За о.В. Ушеровим-Маршаком):
- •6.3.3. Види калориметрії
- •6.3.4. Термосний метод калориметрії
- •6.3.5. Ізотермічний метод калориметрії
- •6.3.6. Адіабатичний метод калориметрії
- •6.3.7. Метод розчинення
- •6.3.8. Диференціальна мікрокалориметрія
- •6.4. Питання самоконтролю
- •Література
- •7. Ультразвукові методи дослідження властивостей матеріалів
- •7.1. Основні положення
- •7.2. Суть та застосування ультразвукового імпульсного методу для дослідження міцності бетону
- •7.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •8. Дослідження електрофізичних властивостей сировини та матеріалів
- •8.1. Метод електропровідності
- •8.1.1. Вимірювання електропровідності матеріалів контактним методом
- •8.2. Метод діелектрометрії
- •8.2.1. Відносна діелектрична проникність речовини та діелектричні втрати
- •8.2.2. Застосування методу діелектрометрії
- •8.2.3. Установка для вимірювання ємності та діелектричних втрат на змінному струмі
- •8.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •9. Застосування методу термо-е.Р.С. Для визначення вмісту вуглецю в сталях і чавунах та фізичні основи теорії і практики термоелектричної термометрії
- •9.1. Фізичні основи термоелектричних ефектів
- •9.1.1. Ефект Пельтьє
- •9.1.2.Ефект Томсона
- •9.1.3. Ефект Зеебека
- •9.2. Закони термоелектричних ефектів та їх застосування
- •9.3. Конструкція приладу експрес-методу термо-е.Р.С. Для визначення вмісту вуглецю в сталях і чавунах та виробах із них
- •9.3.1. Принципова і електровимірювальна схема та функціональна робота приладу.
- •9.3.2. Електрична схема тиристорного регулятора температур робочих електродів
- •9.3.3. Механічна частина приладу
- •9.3.4. Обґрунтування вибору матеріалів для виготовлення робочих електродів, наконечників, термопар і нагрівних елементів
- •Значення коефіцієнтів а, в і с та е0100 для Cu і Ag, в контакті із Fe
- •Фізичні властивості для Сu, Аg, Fe і ніхрома
- •Термоелектрична характеристика гілок тха
- •9.3.5. Калібровка приладу та його апробація
- •9.3.6. Основні конструкційні і технічні характеристики приладу
- •9.4. Області застосування методу термо-е.Р.С.
- •9.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •10. Метод рентгенографічного дослідження фазового складу сировини та матеріалів
- •10.1. Структура кристалічних речовин, дифракція рентгенівських променів та суть методу рентгенографії
- •10.2. Застосування методу рентгенографії
- •10.3. Якісний рентгенфазовий аналіз
- •10.4. Питання самоконтролю
- •Література
- •11. Оптична спектроскопія
- •11.1. Атомна спектроскопія
- •11.1.1. Емісійний спектральний аналіз
- •11.1.2. Фотометрія полум'я
- •11.1.3. Атомно-абсорбційний спектральний аналіз
- •11.2. Молекулярна спектроскопія
- •11.2.1. Спектроскопія комбінаційного розсіювання
- •11.2.2. Застосування інфрачервоної спектроскопії
- •11.3. Питання самоконтролю
- •Література
- •12. Метод інфрачервоної спектроскопії у дослідженні органічних і неорганічних речовин
- •12.1. Взаємодія інфрачервоного випромінювання з речовиною
- •12.2. Способи зображення спектрів пропускання та поглинання
- •12.3. Апаратура та приготування досліджуваних зразків
- •12.3.1. Спектрометр
- •12.3.2. Джерела інфрачервоного випромінювання
- •12.3.3. Монохроматори та їх оптичні характеристики
- •12.3.4. Приймачі випромінювання
- •12.3.5. Приготування досліджуваних зразків
- •12.3.6.Інфрачервоний спектрофотометр типу ur -20
- •12.4. Розшифровка інфрачервоного спектру поглинання
- •Спектри каолініту:
- •12.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •13. Оптична мікроскопія
- •13.1. Застосування оптичної мікроскопії
- •13.2.Оптична схема і принцип дії мікроскопа та основні його характеристики
- •13.3. Вимірювання лінійних розмірів об'єкта за допомогою мікроскопа
- •13.4. Методи мікроскопії
- •13.4.1. Дослідження матеріалів у прохідному світлі
- •Мікроскопа
- •13.4.2. Дослідження матеріалів у відбитому світлі
- •Мікроскопа
- •13.4.3. Метод ультрамікроскопії
- •13.4.4. Метод спостереження об'єктів у поляризованому світлі
- •13.4.5. Метод дослідження у люмінесцентному світлі та флуоресцентна мікроскопія
- •13.4.6. Методи спостереження в ультрафіолетових та інфрачервоних променях
- •13.4.7. Методи фазового та інтерференційного контрасту
- •13.4.8. Високо- і низькотемпературна мікроскопія
- •13.4.9. Телевізійна мікроскопія
- •13.5. Питання самоконтролю
- •Література
- •14. Електронна мікроскопія
- •14.1. Оптична схема та вузли електронного мікроскопа
- •14.2. Роздільна здатність і збільшення електронного мікроскопа
- •14.3.Типи електронних мікроскопів
- •14.4. Методи досліджень в електронній мікроскопії
- •14.5. Методи препарування зразків для досліджень
- •14.6. Растрова електронна мікроскопія
- •14.6.1. Суть методу електронної растрової мікроскопії
- •14.6.2. Електронні растрові мікроскопи на просвічування і відбивання
- •Р ис. 14.7. Принципова схема растрового електронного мікроскопа на просвічування:
- •14.6.3. Растрова мікроскопія спеціального призначення
- •14.7. Приклади використання електронної мікроскопії
- •14.8. Питання самоконтролю
- •Література
12.2. Способи зображення спектрів пропускання та поглинання
Спектральні дані записуються як залежність коефіцієнта поглинання від довжини хвилі, тобто виражаються за допомогою двох змінних величин-фактора інтенсивності і фактора довжини хвилі. Вибір найбільш придатних виразів для таких двох факторів залежить від умови роботи, області дослідження, а також від подальшого використання одержаних величин.
Хвильовий параметр виражається довжиною хвилі λ (мкм) або хвильовим числом ν' =І/λ (см-1). В більшості запис спектру проводять в процентах пропускання або процентах поглинання (рис. 12.3).
Рис. 12.3. Інфрачервоний спектр пропускання та поглинання дифенилового ефіру
12.3. Апаратура та приготування досліджуваних зразків
12.3.1. Спектрометр
Спектроскопом називають спектральний прилад для спостереження спектрів. В залежності від способу реєстрації спектру розрізняють спектрографи і спектрометри. Спектрограф - прилад, призначений для фотографування різних випромінювань. Спектрометр - спектральний прилад, призначений для реєстрації спектральних кривих і вимірювань спектральних характеристик. Спектральний прилад із фотометричною насадкою, призначений для вимірювання коефіцієнтів пропускання різних речовин називають спектрофотометром. На рис. 12.4 приведено скелетну схему спектрометра.
Рис. 12.4.Схема спектрометра:
1-джерело випромінювання; 2-кювета із зразком; 3-монохроматор; 4-вхідна і вихідна щілини монохроматора; 5-фокусуюча оптика; 6-диспергуюча оптика - призма або дифракційна гратка; 7-приймач випромінювання; 8-реєструючий пристрій
Широкого поширення набули двохпроменеві спектрометри. Вони містять всі вузли, перераховані на рис. 12.4, і ще додатковий пристрій, який дозволяє почергово одержувати сигнал при проходженні випромінювання через кювету із зразком і кювету порівняння. Внаслідок чого здійснюється автоматичний запис спектру зразка без фону (спектра розчинника, атмосферних парів та ін.).
12.3.2. Джерела інфрачервоного випромінювання
В якості джерела інфрачервоного випромінювання найчастіше всього використовують штифт Нернста і глобар.
Штифт Нернста являє собою циліндрик довжиною біля 3 см і діаметром від 1 до 3 мм, виготовлений із суміші оксидів цирконію та ітрію. В холодному стані штифт є ізолятором, для переводу якого у провідник потрібно розігрівати до 2000 К електричною спіраллю або газовим пальником. Якщо необхідне більш довгохвильове інфрачервоне випромінювання, замість штифтової лампи використовують силітовий випромінювач.
Силіт або глобар являє собою стержень із карбіду кремнію, розігріваємий на повітрі електричним струмом. Діаметр стержня може бути від 6 мм до 3...5 см, а довжина - кілька сантиметрів. Робоча температура стержня 1200...1400 К.
12.3.3. Монохроматори та їх оптичні характеристики
Для розкладання складного променистого потоку на його монохроматичні складові використовують монохроматори, основним елементом яких є диспергуюча система у вигляді призми, виготовленої із матеріалів, прозорих в ІЧ області спектру, або дифракційної ґратки.
В інфрачервоних спектрометрах найчастіше всього використовують трьохгранну призму з кутом заломлення 600. Оскільки скло не є прозорим для ІЧ-випромінювання, то для виготовлення призм використовують кристали LiF, NaCl, KCl, KBr, CsI. Із таких самих матеріалів виготовляють і деякі інші деталі оптичної системи.
Дифракційна ґратка являє собою ряд прозорих щілин, розділених однаковими непрозорими проміжками. Сучасні дифракційні ґратки мають 200, 300, 600, 1200, 1800 і 2400 штрихів на 1 мм.
До оптичних характеристик монохроматора відносяться лінійна дисперсія, роздільна здатність і світлосила.
Лінійна дисперсія dl/dλ визначається відстанню dl між двома лініями спектру, які відрізняються за довжиною хвилі на величину dλ (рис. 12.5).
Рис. 12.5. Схема оптичної системи найпростішого монохроматора:
1-вхідна щілина; 2-лінза коліматора; 3-диспергуюча призма; 4-фокусуюча лінза; АВ – крива, вздовж якої сфокусовано спектр
Лінійна дисперсія виражається в мм/нм та мм/мкм і показує лінійну ширину одиничного спектрального інтервалу в фокальній площині. Для практичного застосування більш зручною величиною є обернена лінійна дисперсія dλ/dl, яка показує, який спектральний інтервал має ширину, рівну лінійній одиниці. Так, наприклад, у приладі з оберненою дисперсією 0,1 нм/мм на 1 мм у фокальній площині припадає ділянка довжин хвиль dλ = 0,1 нм, цей прилад має більш високу дисперсію, ніж прилад, що має 5,0 нм/мм.
Роздільна здатність спектрального приладу λ/dλ визначається як відношення довжини хвилі λ до різниці довжин хвиль самих близьких ліній однакової інтенсивності, які ще можуть бути розділені приладом при такій довжині хвилі.
Світлосила монохроматора - відношення променевого потоку, який пройшов через вихідну щілину приладу, до яскравості його вхідної щілини.