Додаткові задачі

2.5. Зчитати із зображення рельєфу поверхні (рис.2.1б) горизонтальний профіль за шириною зображення, тобто яскравості горизонтального рядка пікселів (номер рядка по вертикалі вказується користувачем).

Довідка. Наведемо фрагменти програми, створеної в середовищі Delphi, призначеної для зчитування профілю. Для відображення зображення рельєфу використати компонент Image, а для відображення профілю – компонент діаграми Chart.

Початкові дані: початок і кінець профілю в пікселях заданий координатами (0, y_р) та (n, y_p), де n:=Image1.Picture.Width – ширина зображення в пікселях; y_p – номер рядка пікселів по вертикалі. Реальні значення кінців профілю задані координатами (x_min, x_max), а висоти профілю обмежуються значеннями (y_min, y_max).

Знайти: координати висот профілю, записати їх у масиви mx[i], my[і], де i=1...n.

Лістинг:

for i:=1 to n do

begin

mx[i]:=xMin+(i–1)*(xMax–xMin)/(n–1); {координати х

точки профілю}

c:=Image1.Picture.Bitmap.Canvas.Pixels[i,yp];

{Отримати колір пікселя}

r:=GetRValue(c); {отримати з кольору с

його R, G, B складові}

g:=GetGValue(c);

b:=GetBValue(c);

Br:=(r+g+b) div 3; {отримати яскравість пікселя}

my[i]:=yMin+br*(yMax–yMin)/(255); {координата у

точки профілю}

end;

2.6. Побудувати фрактальну криву Коха.

2.7. Побудувати фрактальний профіль та рельєф, використовуючи алгоритм послідовних випадкових додавань Р.Ф.Фосса (додаток Б).

Список використаних джерел

1. Литвин О.С., Прокопенко І.В. Вивчення морфології поверхні полікристалічних плівок методом атомно-силової мікроскопії // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. – 2001. – Вип. 112. – С.5-10.

2. Топорец А.С. Оптика шероховатой поверхности. - Л.: Машиностроение, 1988. – 184 с.

3. Хусу А.П., Виттенберг Ю.Р., Пальмов В.А. Шероховатость поверхностей. – М.: Наука, 1975. – 343 с.

4. Ангельський О.В., Максимяк П.П. Кореляційно-оптична діагностика випадкових та фрактальних шорстких поверхонь // Науковий вісник Чернівецького університету. Фізика. Електроніка. – 2001. – Вип.112. – С.37-47.

5. Выгодский М.Я. Справочник по высшей математике. – М.: Наука, 1962. – 870 с.

6. Мудров А.Е. Численные методы для ПЭВМ на языках Бейсик, Фортран и Паскаль. – Томск: Раско, 1991. – 272 с.

7. Мандельброт Б. Фрактальная геометрия природы. – М.: Ин-тут компьютерных исследований, 2002. – 656 с.

8. Федер Е. Фракталы: Пер. с англ. – М.: Мир, 1991. – 254 с.

9. Фодчук И.М., Баловсяк С.В. Определение параметров поверхности GaAs и SiO₂ методами полного внешнего отражения рентгеновских лучей// Поверхность. Рент-геновские, синхротронные и нейтронные исследования. – 2005. – №7. – С.41-47.

10. Clarke K.S. Computtation of the fractal dimension of topographic surfaces using the triangular prism surface area method // Computers and Geosciences. – 1986. – V.12, No.5. – P.713-722.

11. Фотографії поверхні Місяця. – [Електронний ресурс]. – Режим доступу: http://www.astrolab.ru/cgi-bin/galery3.cgi.

12. Архангельский А.Я. Программирование в Delphi 7. – М.: БИНОМ, 2004. – 1152 с.

77