Випробування тунельних діодів

Про справність і якість тунельного діода судять за характером зміни його струму, викликаного підвищенням і зниженням прикладеної до нього напруги. Процес випробування полягає в наступному:

1 Збирають схему, наведену на рис 10.10:

Рис. 10.10

Як джерело живлення використовують гальванічний елемент зі струмом розряду 50 мА, а як вимірник струму міліамперметр, струм повного відхилення якого дорівнює або перевищує струм максимуму випробовуваного діода.

2 Установлюють повзунок змінного резистора R₁ у крайнє праве за схемою рис 10.10 положення, тобто вводять у ланцюг весь опір R₁ і приєднують до затискачів З₁ і З₂ випробовуваний тунельний діод (при показаній на рис 10.10 полярності напруги елемента анод діода з'єднують із затискачем З₂ а катод - із затискачем З₁.

3. Повільно обертають вісь резистора R₁ у напрямку зменшення його опору й спостерігають за міліамперметром. Якщо діод справний, то струм, вимірюваний міліамперметром, швидко збільшується (мал. 10.11), досягає максимуму Iмах, потім різко зменшується.

Рис. 10.11	Рис. 10.12

Подальше підвищення напруги па діоді, здійснюване шляхом зменшення опору R₁, викликає падіння струму до мінімуму Iмін, а потім знову ріст до максимуму й вище. Доводити струм на цій другій висхідній галузі до значень, що перевищують граничне значення струму, не рекомендується.

Чим більше відношення Iмах/Iмін, тим краще діод.

Перевірка фотодіодів

Фотодіодом називають напівпровідниковий прилад, що перетворить світлові сигнали в електричні. Для оцінки якості фотодіода збирають схему, наведену на рис 10.13, знімають вольт-амперні характеристики зразка, що перевіряється, і визначають його основні параметри, тобто темновий струм і інтегральну чутливість.

Рис. 10.13	Рис. 10.14

Як джерело світла використовують 75 ватну лампу накалювання, світло від якої збирають у паралельний пучок за допомогою лінзи Сталість світлового потоку забезпечують живленням лампи від стабілізованого джерела змінної напруги. У практиці перевірку справності фотодіода іноді спрощують, зводячи її до зовнішнього огляду й виміру омметром прямого й зворотного опорів затемненого й освітленого фотодіода. Процес спрощеного випробування полягає в наступному.

1. приєднують випробовуваний діод до гнізд «Общ» і «_Х100» омметра (рис 10.14-а) і помічають показання омметра при висвітленні діода настільною лампою потужністю 60-100 Вт (відстань між фотодіодом і балоном лампи приймають рівним 60-80 мм) а затемненні його шляхом прикриття вікна діода пальцем,

2. міняють місцями виводи фотодіода (рис 10.14-б) та знову вимірюють опори при затемненні й висвітленні випробовуваного зразка.

Якщо в першому випадку опір фотодіода, рівне, наприклад, при його висвітленні двом трьом десяткам кОм, збільшується при затемненні до 150—200 кОм, а в другому випадку — зростає від 1500 Ом (при висвітленні) до 1530—1560 Ом (при затемненні), то випробовуваний зразок уважають справним.