
- •Оптоэлектронные первичные преобразователи на базе световодной техники введение
- •1. Краткий исторический обзор
- •2. Физические основы оптоэлектронных преобразователей
- •2.1. Термины и определения
- •2.2. Поглощение оптического излучения
- •2.3. Принцип действия оптоэлектронных преобразователей
- •2.4. Преобразования входной физической величины в оэп
- •2.5. Параметры оэп
- •3. Элементная база оптоэлектронных приборов и устройств
- •3.1. Световоды
- •3.2. Оптоэлектронные источники излучения
- •3.2.1. Излучающие диоды
- •3.2.2. Лазеры
- •3.2.3. Другие источники свечения.
- •3.3. Оптоэлектронные приемники излучения
- •3.4. Типовые оптоэлектронные приборы
- •4. Виды оптоэлектронных преобразователей
- •4.1. Оптоэлектронные преобразователи с амплитудной модуляцией
- •4.2. Преобразования входной физической величины
- •4.3. Амплитудные преобразователи физических величин на основе нерегулярных световодов
- •4.3.1. Принципы построения амплитудных световодных оэп
- •4.3.2. Нерегулярности в волоконных световодах и конструкции оэп на их основе
- •4.4. Оэп на основе нарушения полного внутреннего отражения
- •4.4.1. Физические основы метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.2. Особенности метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.3. Сравнение метода спектроскопии нпво с классическими методами отражения и поглощения
- •4.4.4. Датчики на основе нарушения полного внутреннего отражения (пво)
- •4.5. Фазовые оэп
- •4.6. Поляризационные оэп
- •5. Использование плоских световодов при построении оэп
- •5.1. Требования к методической базе для исследования многокомпонентных гетерогенных непрозрачных объектов
- •5.2. Аппаратура для исследования многокомпонентных гетерогенных объектов
- •5.2.1. Устройство для получения характеристик образцов без их разрушения
- •5.2.2. Универсальная приставка мнпво
- •5.2.3. Компенсация изменения глубины проникновения светового потока
- •5.3. Особенности неинвазивного количественного анализа сложных объектов
- •5.4. Методы получения и обработки информации
- •5.4.1. Обработка спектральной информации
- •5.4.2. Фазовый способ анализа
- •5.4.3. Поляризационный анализ
- •5.5. Определение дихроизма полос поглощения
- •5.5.1. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации 0º или 90º.
- •5.5.2. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации отличного от 0º или 90º.
- •5.6. Регистрация циркулярного дихроизма
- •5.7. Регистрация дисперсии оптического вращения
- •5.8. Определение оптических постоянных
- •5.9. Исследование объектов в сложных средах
- •5.9.1. Особенности получения информации из образцов
- •5.9.2. Особенности исследования объектов в присутствии фона
- •5.9.3. Особенности исследования водных сред в ик диапазоне
- •6. Измерение технологических параметров на базе оэп
- •6.1. Измерение влажности текстильных материалов
- •6.1.1. Метод инфракрасной спектрометрии
- •6.1.2. Измерение влажности текстильных материалов, основанное на методе ик-спектрометрии
- •6.1.3. Источники излучения для ик-влагомеров
- •6.1.4. Классификация ик-влагомеров
- •6.1.5. Обобщенная структурная схема ик-влагомеров
- •Функциональная схема двухволнового однолучевого ик-влагомера
- •6.2. Измеритель влажности волокна в кипах.
- •6.3. Ик оэп расхода волокна в пневмопроводах.
- •6.4. Ик оэп длины ленты в накопителе
- •6.5. Ик оэп линейной плотности ленты
- •6.6. Ик оэп обнаружения швов на движущейся ткани.
- •6.7. Ик оэп переноса уточных нитей в тканях.
- •6.8. Измерение и контроль концентрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.1. Особенности производственного контроля концетрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.2. Методы контроля концентрации рабочих растворов
- •6.8.3. Измерительные устройства для лабораторного и производственного контроля концентрации красителей и рабочих растворов
- •6.8.4. Методы контроля уровня жидких сред
- •6.8.5. Оптоэлектронные пуж без сканирования
- •6.8.6. Методика расчета компенсатора
- •6.9. Исследование и разработка волоконно-оптического датчика температуры с ик-световодом.
- •6.9.1.Функциональная схема датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом
- •6.9.2. Расчет параметров волоконно-оптической системы датчика
- •6.9.3. Ввод теплового излучения в волокно при использовании линзы
- •6.9.4. Мощность излучения, вводимого в волокно при произвольном диаметре линзы и волокна
- •6.9.5. Прием излучения от ограниченной площадки через линзу
- •6.9.6. Конструкции стенда для исследования одноканального датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом и стенда для испытаний
- •6.9.7. Результаты испытаний одноканального датчика с ик-световодом
- •6.10. Автоматический контроль параметров смешивания натуральных и химических волокон.
- •6.10.1. Анализ известных методов и устройств для контроля параметров смешивания натуральных и химических волокон
- •6.10.2. Оэп для контроля параметров смешивания
- •Литература
- •Заключение
5.3. Особенности неинвазивного количественного анализа сложных объектов
Анализ оптических эффектов, возникающих при взаимодействии света с многокомпонентными гетерогенными системами, показывает большие возможности оптической информации для оценки этих объектов. Поскольку они, как правило, являются многокомпонентными гетерогенными сильно рассеивающими непрозрачными объектами с целым рядом специфических оптических эффектов, то необходимо рассмотреть их влияние на особенности получения информации, что крайне важно при количественных измерениях в решении перечисленных выше задач.
Анализ современных методов исследования показывает, что получение информации из таких объектов перспективно осуществлять через регистрацию изменений в электромагнитном излучении при его взаимодействии с объектом. Подчеркнем еще раз, что эти объекты, как правило, многокомпонентны гетерогенны и сильно рассеивают свет (могут быть непрозрачными), то вести анализ без их разрушения необходимо еще и по слоям (например, для определения градиентов концентрации тех или иных компонентов или градиентов степени их пространственной организации). Наиболее полно перечисленным выше требованиям отвечают методы спектроскопии внутреннего отражения.
Любой метод анализа требует знания количества прореагировавшего с электромагнитным излучением образца. Следовательно, одним из самых важных вопросов подобного анализа является разработка методов количественного определения характеристик и параметров этого образца. Особенностью при количественном анализе параметров исследуемых объектов методами внутреннего отражения (в том числе и нарушенного полного внутреннего отражения – НПВО) является зависимость эффективных оптических свойств среды, представляющей совокупную систему (состоящую, например, из твердого образца, воздуха, жидкой среды и т.д.), от объема прореагировавшего с электромагнитным излучением вещества или же от объема заполненного объектами пространства на измерительном элементе. Для решения сформулированных задач предлагаем следующие подходы.
1. В основу первого способа был положен принцип «подходящего индикатора»: если к нанесенным на рабочую поверхность ИЭ, например неразрушенным волокнам, добавить известное количество другого вещества, то разность показаний оптических плотностей в аналитической полосе индикатора при отсутствии образца и в их присутствии пропорциональна концентрации (объему) вещества или же объему незаполненного волокнами пространства (параметры ИЭ изначально известны).
2. Известно, что явление полного внутреннего отражения (ПВО) наступает при падении светового потока на границу раздела «измерительный элемент – образец» под углом θ, большим критического угла падения θкр. При этом световой поток проникает в анализируемый образец на некоторую величину d (глубина проникновения). Величина d пропорциональна той части образца, которая прореагировала со светом и которую определяют как эффективную толщину dэф. Она связана с оптической плотностью D = αNd, где α – показатель поглощения образца, N – число отражений светового потока в ИЭ. Определить θкр можно из выражения sin θкр = n21 = n2 /n1, где n1 и n2 – показатели преломления материала измерительного элемента и образца, соответственно. Для воздуха n = 1,0, а для стенок клеток примерно 1,5. Тогда θ воздуха составляет 40º, а для волокон биологического происхождения примерно 52º. Следовательно, при изменении угла падения от 0 до 90º ПВО для воздуха наступает при меньших углах падения, чем для образца, контактирующих с рабочей поверхностью ИЭ. Поэтому интенсивность светового потока на выходе ИЭ при углах падения, меньших критического для образцов, будет пропорциональна объему незаполненного пространства образцом на ИЭ. Это объясняется тем, что при углах, меньших критического, имеет место явление преломления, и световой поток в ИЭ не возвращается. Зная же параметры ИЭ, определяем объем прореагировавшего со светом образца.
3. При использовании поляризованного светового потока, распространяющегося в ИЭ, при каждом отражении его от границы «ИЭ – образец» скачком изменяется фаза параллельной и перпендикулярной составляющих вектора напряженности электрического поля. Причем размер этого сдвига фаз различен для каждой составляющей и зависит от разности показателей преломления совокупной измеряемой системы и ИЭ, а также от угла падения светового потока. При отсутствии образца показатель второй среды постоянен (скажем, для воздуха). Следовательно, разность фаз также постоянна. При наличии образца на части рабочей поверхности ИЭ изменяется показатель преломления. При этом изменяются сдвиги фаз каждой из составляющих электрического вектора и соответственно их разность, которая и является мерой объема прореагировавшего со светом вещества.