
- •Методичні вказівки до проведення лабораторних робіт з курсу «електрика і магнетизм»
- •Дослідження залежності опору металів і напівпровідників від температури
- •Зміст роботи і завдання
- •Короткі теоретичні відомості Утворення енергетичних зон у твердих тілах
- •Зонна структура металів, діелектриків, напівпровідників
- •Напівпровідники із власною і домішковою провідністю
- •Електропровідність металів Основні твердження теорії Друде
- •Питома провідність у теорії Друде
- •Температурна залежність опору металів
- •Електропровідність напівпровідників
- •Температурна залежність провідності напівпровідника
- •Експериментальна установка
- •Порядок виконання роботи Дослідження залежності опору металів від температури
- •Дослідження залежності опору напівпровідників від температури
- •8. Визначити похибку вимірів.
- •Література
- •Лабораторна робота № 2
- •Зміст роботи і завдання
- •Визначити похибку вимірів. Короткі теоретичні відомості
- •Якісна картина виникнення ефекту Холла
- •Поле Холла і стала Холла
- •Визначення електрофізичних параметрів провідних матеріалів
- •Наближення слабкого магнітного поля
- •Експериментальні зразки
- •Експериментальна установка
- •Методика вимірювань
- •Лабораторна робота № 3 Дослідження Діелектричних властивостей сегнетоелектриків
- •Зміст роботи і завдання
- •6. Визначити похибку вимірів. Короткі теоретичні відомості Загальні властивості сегнотоелектриків
- •Сегнетоелектрик у зовнішньому електричному полі. Домени. Гістерезис
- •Молекулярний механізм спонтанної поляризації сегнетоелектриків
- •Опис експериментальної установки та методики вимірювань
- •Порядок виконання роботи
- •Література
- •Лабораторна робота № 4 магнітна індУкціЯ у феромагнетиках
- •Зміст роботи і завдання
- •8. Визначити похибку вимірів. Короткі теоретичні відомості Загальні властивості феромагнетиків
- •Механізм виникнення феромагнетизму
- •Доменна структура феромагнетиків
- •Процеси намагнічування та перемагнічування у феромагнетиках
- •Опис експериментальної установки та методики вимірювань
- •Порядок виконання роботи
- •Визначення питомого заряду електрону методом магнетрону
- •Зміст роботи і завдання
- •Визначити похибку вимірів. Короткі теоретичні відомості Принцип дії магнетрону
- •За відсутності (а) та наявності (б) залишкових газів у діоді
- •Розрахунок питомого заряду електрону у методі магнетрону
- •Установка для вимірювання порогових характеристик магнетрону
- •Вимірювання порогових характеристик магнетрону і визначення питомого заряду електрону
- •Дослідження електричних полів
- •Зміст роботи і завдання
- •Короткі теоретичні відомості Обгрунтування методу електролітичної ванни
- •Експериментальна установка та методика вимірювань
- •Порядок виконання роботи
- •Література
- •Зміст роботи і завдання
- •Короткі теоретичні відомості Робота виходу електронів з металу
- •Розподіл електронів за енергіями в металі (б,в)
- •Закон термоелектронної емісії Річардсона-Дешмана
- •Ефект Шотткі
- •Вольт-амперні характеристики (вах) вакуумного діода. Закон «трьох других»
- •Методика вимірів і обробки результатів
- •Література
- •Зміст роботи і завдання
- •Короткі теоретичні відомості Визначення плазми
- •Виникнення самостійного газового розряду
- •Створення ртутної плазми і її характеристики
- •Метод зондових характеристик
- •Експериментальна установка
- •Методика вимірів і обробки результатів
- •Література
- •Дослід франка та герца
- •Зміст роботи і завдання
- •Короткі теоретичні відомості Енергетичні стани атомів
- •Пружні та непружні зіткнення електронів з атомами ртуті
- •Експериментальна установка та методика вимірювань
- •Література
- •Дослідження переходу у напівпровдниках
- •Зміст роботи і завдання
- •Короткі теоретичні відомості
- •Властивості переходу в умовах рівноваги
- •Р ис.2. Енергетична схема – переходу до встановлення рівноваги (а) та у стані рівноваги (б)
- •Перехід за наявності зовнішньої напруги
- •Вольт-амперна характеристика переходу
- •Диференціальний опір та еквівалентна схема діода при змінному у часі струмі
- •Залежність вах діода від температури
- •Опис експериментальної установки
- •Порядок виконання роботи
- •Література
- •Лабораторна робота № 11 Методи вимірювання магнітних полів
- •Зміст роботи і завдання
- •Опис приладів та методики вимірювань
- •Порядок виконання роботи
- •1. У чому полягає явище ядерного магнітного резонансу ?
Диференціальний опір та еквівалентна схема діода при змінному у часі струмі
Похідна від струму за напругою
(17)
називається диференціальною провідністю і, згідно (15) для прямої гілки ВАХ має вигляд
.
(18)
При
струмах
диференціальна провідність набуває
вигляду
.
Величина, обернена диференціальній провідності,
,
(19)
є диференціальним опором діода.
У
реальних діодах послідовно із
–
переходом “підключений” опір об’єму
напівпровідника та контактів –
(рис.6). Оскільки згідно (19) при збільшенні
струму диференціальний опір
–
переходу зменшується, то послідовний
опір може давати суттєвий внесок до
повного опору діода
.
(20)
Рис.6. Еквівалентна електрична схема – переходу
Згідно (20) величину можна визначити з ВАХ, екстраполюючи значення повного диференціального опору в область великих струмів (рис.5).
Зауважимо,
що і сама ВАХ, а не тільки її похідна,
при великих струмах суттєво залежить
від
.
Дійсно, згідно (20),
.
Якщо
–
спад напруги на всьому діоді, то повний
струм через нього
,
де
–
спад напруги безпосередньо на
–
переході, а
–
спад напруги на опорі
(рис.6).
При
великих струмах (великих зовнішніх
напругах) потенціальний бар’єр на
–
переході практично зникає (рис.4б), і
,
тобто
.
Проекстраполювавши ВАХ із області
великих струмів до перетину із віссю
(рис.5), можна визначити контактну різницю
потенціалів
.
Залежність вах діода від температури
Проаналізуємо формулу (15) з точки зору впливу температури на ВАХ –переходу. Перепишемо формули (1) у вигляді
;
,
а з (2) отримаємо вираз для концентрації носіїв заряду у власному напівпровіднику
.
(21)
З
(21) видно, що із збільшенням температури
концентрація
буде швидко зростати, тоді як
і
від температури практично не залежать.
Тому при деякому значенні температури
може досягти значень рівних
,
.
Тоді
;
,
тобто
при поступовому нагріванні
–переходу
можна досягти такої температури, при
якій концентрація неосновних носіїв
заряду зрівняється з концентрацією
основних :
,
.
При такій температурі потенціальний
бар’єр на
–переході,
що обумовлював його випрямляючі
властивості, зникає, оскільки згідно
(4)
,
внаслідок чого зникає і властивість –переходу випрямляти струм.
Ця температура буде тим вищою, чим ширша заборонена зона напівпровідника. Для германієвих діодів, щирина забороненої зони яких =0,62 еВ, максимально припустима робоча температура ~75C; для кремнієвих діодів, у яких =1,12 еВ, максимальна робоча температура може досягати 150C.
Знімаючи
ВАХ
–переходу
при різних температурах та визначивши
графічним методом відповідні контактні
різниці потенціалів, можна визначити
ширину забороненої зони напівпровідника.
Дійсно, використавши формули (1), (2) і (4)
та вважаючи, що
та
,
вираз для контактної різниці потенціалів
можна записати у вигляді
.
(22)
Оскільки має місце залежність
,
то формулу (22) для двох різних значень температури можна переписати у вигляді
(23)
де
.
Віднявши з першого з рівнянь системи
(23) друге і виділивши
,
отримаємо
.
(24)