Экзаменационный билет №7

1. Какие методы математической обработки могут быть использованы для коррекции изображений сканирующей зондовой микроскопии?

2. Каким образом реализуется режим сканирующей туннельной спектроскопии?

3. Какие деформации кантилевера регистрируются в режиме микроскопии сил трения?

4. Какие типы зондов используются в сканирующей ближнепольной оптической микроскопии?

Составитель____________________ Никиян А.Н.

Заведующий кафедрой ___________ Алиджанов Э.К.

« 10 » мая 2012 г

510400.62 Физика Биохимическая физика Дисциплина Методы сканирующий зондовой микроскопии в биофизике

Минобрнауки россии

Федеральное государственное бюджетное

образовательное учреждение высшего

профессионального образования

«Оренбургский государственный

университет»

(ОГУ)

Экзаменационный билет №8

1. Какие существуют методы статистического анализа изображений сканирующей зондовой микроскопии? Какие объекты являются предметом анализа?

2. Какие дополнительные характеристики позволяет измерять сканирующая туннельная микроскопия?

3. Каким образом реализуется режим постоянной высоты в контактной атомно-силовой микроскопии?

4. В чем заключается основная идея реализации сканирующей ближнепольной оптической микроскопии, обеспечивающая многократное увеличение разрешающей способности методики?

Составитель____________________ Никиян А.Н.

Заведующий кафедрой ___________ Алиджанов Э.К.

« 10 » мая 2012 г

Контрольные вопросы по дисциплине «Сканирующая зондовая микроскопия в биофизике»

Техника сканирующей зондовой микроскопии

1. Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов

2. Сканирующие элементы (сканеры) зондовых микроскопов

3. Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца

4. Методы и технические решения, используемые для защиты сканирующих зондовых микроскопов от механических вибраций, акустического воздействия и термодрейфов.

5. Формирование и обработка сзм изображений. Методы фильтрации изображений.

6. Какие основные типы артефактов могут наблюдаться на изображениях сканирующей зондовой микроскопии?

7. Какие основные негативные свойства пьезокерамики, используемой в сканирующих элементах, могут приводить к искажениям изображений сканирующего зондового микроскопа?

8. Какие существуют программные и аппаратные методы устранения искажений, вносимых несовершенством сканирующих элементов при измерении с помощью сканирующих зондовых микроскопов?

9. Какие методы математической обработки могут быть использованы для коррекции изображений сканирующей зондовой микроскопии?

10. Каким образом при обработке и анализе изображений может быть использовано преобразование Фурье?

11. Какие существуют методы статистического анализа изображений сканирующей зондовой микроскопии? Какие объекты являются предметом анализа?

Сканирующая туннельная микроскопия

1. Какое основное физическое явление лежит в основе сканирующей туннельной микроскопии?

2. Перечислите и кратко опишите основные методы изготовления зондов для сканирующей туннельной микроскопии.

3. Каким образом реализуется режим постоянной высоты сканирующего туннельного микроскопа?

4. Каким образом реализуется режим постоянного тока сканирующего туннельного микроскопа?

5. В каком режиме сканирующей туннельной микроскопии возможно получение атомарного разрешения?

6. Какие дополнительные характеристики позволяет измерять сканирующая туннельная микроскопия?

7. Каким образом реализуется режим сканирующей туннельной спектроскопии?

Атомно-силовая микроскопия