- •2) Кинематика поступательного движения
- •8)Основы механики твердого тела
- •14)Явления переноса в и их молекулярная основа в термодинамически неравновесных системах
- •20) Электромагнитная индуция
- •26) Резонанс токов и напряжений
- •2) Ток в вакууме, триод и исследования его свойств
- •8) Экспериментальное исследование интерференции света
- •14) Статистическая обработка экспериментальных данных
2) Ток в вакууме, триод и исследования его свойств
Термоэлектронная эмиссия. Соединим стержень заряженного электрометра с одним электродом вакуумной стеклянной колбы, а корпус электрометра — с другим электродом, представляющим собой тонкую металлическую нить (рис. 169). Опыт покажет, что электрометр не разряжается.
Между двумя электродами, расположенными в герметичном сосуде, из которого удален воздух, и находящимися под напряжением, электрический ток отсутствует, так как в вакууме нет свободных носителей электрического заряда. Американский ученый и изобретатель Томас Эдисон (1847—1931) обнаружил (1879 г.), что в вакуумной стеклянной колбе возникает электрический ток, если один из электродов нагреть до высокой температуры. Подключим к выводам металлической нити источник тока. Если нить соединена с отрицательным полюсом источника, то при ее нагревании электрометр быстро разряжается. При соединении нити с положительным полюсом электрометр не разряжается и при нагревании нити током. Эти опыты доказывают, что нагретый катод испускает частицы, обладающие отрицательным электрическим зарядом. Эти частицы — электроны. Явление испускания свободных электронов с поверхности нагретых тел называется термоэлектронной эмиссией.
Триод. Потоком электронов, движущихся в электронной лампе от катода к аноду, можно управлять с помощью электрических и магнитных полей. Простейшим электровакуумным прибором, в котором осуществляется управление потоком электронов с помощью электрического поля, является триод. Баллон, анод и катод вакуумного триода имеют такую же конструкцию, как и у диода, однако на пути электронов от катода к аноду в триоде располагается третий электрод, называемый сеткой. Обычно сетка — это спираль из нескольких витков тонкой проволоки вокруг катода. Если на сетку подается положительный потенциал относительно катода , то значительная часть электронов пролетает от катода к аноду, и в цепи анода существует электрический ток. При подаче на сетку отрицательного потенциала относительно катода электрическое поле между сеткой и катодом препятствует движению электронов от катода к аноду, анодный ток убывает. Таким образом, изменяя напряжение между сеткой и катодом, можно регулировать силу тока в цепи анода.
8) Экспериментальное исследование интерференции света
Свет,
предварительно прошедший через
светофильтр, проходя через отверстие S в
экране A падал
на экран В,
в котором были проделаны две тонкие
щели S1и S2.
Эти щели являлись когерентными источниками
света и давали достаточно четкую картину
интерференции на экране.
В
настоящей лабораторной работе вместо
обычного источника света со светофильтром
для повышения степени когерентности
используется гелий-неоновый лазер.
Схема установки приведена на рис.
2
S
1 и S2 –
источники когерентного излучения, s1 и s2 –
пути света от источников до точки
наблюдения Р, d –
расстояние между щелями, L –
расстояние между экранами В и С
-оптическая разность хода лучей.,
Разность
фаз колебаний, возбужденных волнами,
приходящими в точку Р от
источников S1 и S2 равна:
,
(1)
где
показатель
преломления среды, 0 –
длина волны света в вакууме.
Отсюда
следует, что если в оптической разности
хода укладывается целое число длин
волн
,
и в этой точке будет наблюдаться
интерференционный максимум.,
то разность фаз оказывается кратной 2
Если
в оптической
разности хода укладывается полуцелое
число длин волн
,
то в этой точке будет наблюдаться
интерференционный минимум.
Из
рис. 2 видно что:
.
(2)
Учитывая,
что
,
получаем:
.
(3)
Так
как
и
,
то из уравнения (3) следует, что оптическая
разность хода равна:
.
(4)
Подставим
в выражение (4) условия наблюдения
максимума и минимума интерференции,
соответственно получим:
,
(5)
.
(6)
Ширина
интерференционной полосы на экране
(расстояние между соседними минимумами
интенсивности) будет определяться
соотношением:
,
(7)
где
-
длина волны в среде, заполняющей
пространство между источниками света
и экраном.
Установка
(рис. 3) смонтирована на оптической
скамье 4.
Источником света служит полупроводниковый
лазер 1.
Параллельный световой пучок освещает
тест-объект 2,
который представляет собой тонкий
стеклянный диск с непрозрачным покрытием,
на котором по кругу нанесены пары щелей
с разными расстояниями между ними. Пары
щелей равной ширины объединены в группы
по четыре. В пределах групп изменяются
расстояния между щелями. Свет л
азера,
проходя через пару щелей, падает на
экран 3,
на котором и проводятся измерения ширины
интерференционной полосы (х).
