
- •Тема 1. Основы описания структуры радиоматериалов
- •Тема 2. Динамика кристаллической решетки. Теплоемкость решетки.
- •Тема 3. Статистика электронов твердого тела.
- •Тема 4. Энергетический спектр электронов в кристалле (зонная структура)
- •Тема 5. Кинетические явления в твердых телах
- •Тема 6. Изучение контактных явлений в планарной микроструктуре
- •Список рекомендуемой литературы
- •Некоторые свойства элементов (п.1.)
- •Свойства полупроводников (п.2.)
- •Фундаментальные постоянные (п.3.)
- •Содержание
- •Тема 6. Изучение контактных явлений в планарной микроструктуре..............28
Свойства полупроводников (п.2.)
Полупроводник |
Ширина запрещенной зоны |
Эффективная масса |
Подвижность |
Работа выхода, эВ |
|||
EG (0 К), эВ |
EG (300 К), эВ |
m*n / me |
m*p / me |
μn, см2·В‑1·с‑1 |
μp, см2·В‑1·с‑1 |
||
Si |
1.166 |
1.11 |
ml 0.98 mt 0.19 |
m*pт 0.5 m*pл 0.16 |
1350 |
480 |
4.83 |
Ge |
0.74 |
0.67 |
ml 1.58 mt 0.082 |
m*pт 0.3 m*pл 0.04 |
3900 |
1900 |
4.80 |
GaAs |
1.52 |
1.43 |
0.07 |
m*pт 0.5 m*pл 0.12 |
8600 |
400 |
4.71 |
GaSb |
0.81 |
0.69 |
0.045 |
0.39 |
4000 |
650 |
4.76 |
InAs |
0.43 |
0.36 |
0.028 |
0.33 |
30000 |
240 |
4.90 |
InSb |
0.235 |
0.17 |
0.0133 |
m*pт 0.6 m*pл 0.012 |
76000 |
5000 (78 К) |
4.75 |
InP |
1.42 |
1.28 |
0.07 |
0.4 |
4000 |
650 |
4.45 |
AlSb |
1.6 |
1.6 |
0.11 |
0.39 |
50 |
400 |
4.86 |
Фундаментальные постоянные (п.3.)
№ п / п |
Физическая величина |
Значение |
1 |
Элементарный заряд, e |
1.602177·10-19 Кл |
2 |
Электрон-вольт (эВ) |
1.602177·10-19 Дж |
3 |
Масса покоя протона, mp |
1.672623·10-27 кг |
4 |
Масса покоя электрона, me |
9.109389·10-31 кг |
5 |
Удельный заряд электрона, - e / me |
-1.758819·1011 Кл/кг |
6 |
Постоянная Планка, h |
6.626075·10-34 Дж·с |
7 |
Постоянная Планка, |
1.054572·10-34 Дж·с |
8 |
Постоянная Авогадро, NA |
6.022136·1023 моль‑1 |
9 |
Постоянная Больцмана, k |
1.380658·10-23 Дж/К |
10 |
Универсальная газовая постоянная, R |
8.314 Дж/(моль·К) |
11 |
Скорость света, с |
2.997925·108 м/c |
12 |
Боровский радиус |
0.529117·10-10 м |
13 |
Магнитная постоянная, μ0 |
12.566371·10-7 Гн/м |
14 |
Электрическая постоянная, ε0 |
8.854187·10-12 Ф/м |
Программы MCAD
П 4. Исследование теплоемкости кристаллической решетки - MCAD1
П 5. Исследование статистических свойств электронного газа в твердых телах – MCAD2
П 6. Исследование электропроводности и теплопроводности металлов – MCAD3
П 7. Исследование электропроводности тонких пленок – MCAD4
П 8. Исследование электропроводности полупроводников – MCAD5
П 9 . Изучение контактных явлений в планарной микроструктуре – MCAD6