- •Докт. Техн. Наук, професор кафедри вищої геодезії та астрономії ну «Львівська політехніка» Савчук с.Г.
- •1.1. Метрологія як наука про вимірювання
- •1.2. Основні етапи розвитку метрології
- •1.3. Метрологія: основні поняття та визначення
- •1.3. Основні поняття і визначення
- •1.4. Міжнародна система одиниць фізичних величин
- •1.5. Загальні поняття про технічні вимірювання
- •Контрольні питання
- •2.1. Види засобів вимірювань
- •2.4. Еталони, їхня класифікація і види
- •3.3. Відомча метрологічна служба
- •3.4. Державний метрологічний контроль і нагляд
- •3.4.1. Задачі державного метрологічного контролю і нагляду
- •3.4.2. Права й обов'язки державного інспектора
- •3.4.3. Відповідальність за порушення метрологічних правил
- •3.7. Метрологічне забезпечення й атестація нестандартизованих засобів вимірювання
- •3.8. Європейське і міжнародне співробітництво України в області метрології
- •Контрольні питання
- •Стандартизація
- •4.2. Нормативні документи зі стандартизації і види стандартів
- •4.3. Особливості застосування нормативних документів і характер їхніх вимог
- •4.4. Системи стандартів
- •5.1. Державна служба стандартизації
- •5.2. Відомча (галузева) служба стандартизації
- •5.6. Порядок розробки, побудови, викладання й оформлення технічних умов
- •5.7. Міжнародна і європейська діяльність україни в області стандартизації
- •Сертифікація
- •6.1. Основні поняття
- •6.2. Система сертифікації України
- •6.3. Законодавча і нормативна основа сертифікації
- •6.4. Організаційна структура і види діяльності УкрСепро
- •6.5. Основні функції структурних підрозділів і осіб Системи
- •6.6. Вимоги до органів з сертифікації й випробувальних лабораторій (центрів)
- •Розділ 7. Загальна характеристика геодезичних приладів, як засобів вимірювання
- •7.2. Конструкція кутомірних приладів, відлікові пристрої, перевірки і дослідження оптичних теодолітів
- •7.2.1. Структурна схема теодоліта і його основні частини
- •7.2.2. Відлікові пристрої оптичних теодолітів
- •7.2.3. Випробування, перевірки і юстирування теодолітів
- •Мал. 12. Розташування основних осей теодоліта
- •7.2.4. Дослідження теодолітів
- •1.Визначення середньої квадратичної помилки поєднання штрихів лімба.
- •2. Визначення середньої квадратичної помилки наведення.
- •3. Визначення середньої квадратичної помилки виміру горизонтального кута.
- •4. Визначення рена оптичного мікрометра.
- •Мал. 16. Схема поєднання штрихів лімба при визначенні рена
- •5. Визначення рена шкалового мікроскопа.
- •Визначення рена шкалового мікроскопа горизонтального круга теодоліта зт5к
- •6. Випробування правильності обертання алідади гк і визначення її ексценстриситету.
- •Мал. 17. Поєднання штрихів лімба на одній з установок алідади
- •Розділ 8. Конструкції сучасних нівелірів і їх особливості, перевірки і дослідження
- •8.1. Cтруктурная схема нівеліра і його основні частини
- •8.2. Перевірки і юстирування нівеліра
- •8.3. Дослідження нівелірів
- •2.Визначення ціни ділення рівня.
- •3 Визначення середньої квадратичної помилки суміщення кінців бульбашки циліндричного рівня.
- •5. Визначення найменшої відстані візування.
- •7. Дослідження нівелірів з компенсаторами.
- •Определение средней квадратической ошибки измерения превышения на станции
- •8.4. Перевірки і дослідження нівелірних рейок
- •Розділ 9. Повірки геодезичних приладів для вимірювання довжин ліній
- •9.1Електромагнітні далекоміри
- •9.1.1.Характеристика деяких типів електромагнітних далекомірів
- •9.1.2.Зміст перевірочних робіт
- •9.2. Проведення повірки світло-і радіодалекомірів
- •9.3.1Короткий огляд рулеток і землемірних стрічок
- •9.3.2.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для рулеток
- •10.3.3. Зміст і порядок виконання повірочних робіт для землемірних стрічок
- •Розділ 10.Повірки приладів для знімальних робіт
- •10.1. Короткий огляд приладів для наземних топографічних знімань
- •10.2.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для тахеометрів
- •10.3.Зміст і порядок виконання повірочних робіт для бусолів
7.2.2. Відлікові пристрої оптичних теодолітів
Відлік - це визначення положення відлікового індексу відносно штрихів робочої міри. Задана точність відліку визначає вибір того або іншого відлікового пристрою і відлікового індексу, що відповідає йому. У оптичних теодолітах відлік може вестися по одній стороні лімба ГК і ВК - одностороння система відліку при двох положеннях круга або одночасно по двох діаметрально протилежним його частинам - двостороння система відліку при будь-якому положенні круга.
Штриховий мікроскоп є найбільш простим відліковим пристроєм для односторонньої системи відліку, який використовується в теодолітах Т30, 2Т30П. Відлік ведеться відносно рухомого індексу, видимого у полі зору мікроскопа спільно із зображенням штрихів лімбів горизонтального і вертикального кругів з точністю до десятих доль їх ціни ділення, рівної 10' (мал. 4, а).
|
|
а) Т30: Відлік: ВК = 358° 2′; ГК = 47° 38′; |
б) 2Т30: Відлік: ВК = – 0° 32′; ГК = 7° 08′; |
Мал. 4. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта (Т30, 2Т30)
В цілях підвищення точності відліку по лімбах ГК і ВК технічних Т15, 2Т15, Т15К і точних Т5, 2Т5, 2Т5КП теодолітів використовується шкаловый мікроскоп. У полі зору відлікового мікроскопа в площині зображення шкал, рівних ціні ділення лімбів ГК і ВК, будується зображення штрихів лімбів. Вони займають певне положення відносно шкали з 60 хвилинними інтервалами і є відліковими індексами. Відлік ведеться до десятих доль інтервалу, тобто до 0,1' (мал. 5).
Відлік:
ВК = 2°01,9'
ГК = 170°58,0'
Мал. 5. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта (Т15, Т5)
Відлік:
ВК = 0°45,9′
ГК = 25°04,5'
Мал. 6. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта (Т15К, 2Т15, 2Т5, 2Т5К)
На відміну від теодолітів Т30, Т15, Т5 в теодолітах 2Т30, Т15К, 2Т15, 2Т5, 2Т5К застосований вертикальний круг з секторним оцифруванням, що дозволяє відлічувати без додаткових обчислень позитивні і негативні кути нахилу (мал. 4 - 6). Вид кута визначається знаком, що стоїть перед оцифрованими градусними діленнями лімба ВК.
Для виключення погрішностей внецентреннего положення алідади відносно центру кільця ділень лімба у високоточних (Т05, Т1, УВК) і точних (Т2) теодолітах застосовується двостороння система відліку. У основі її пристрою лежить принцип поєднаного відліку, що полягає в тому, що положення діаметру лімба відносно алідади визначається при поєднанні зображень штрихів протилежних частин лімба. У способі поєднаного відліку відліковим індексом є уявна лінія, що проходить точно посередині між діаметрально протилежними штрихами.
Для відліку по шкалах лімбів ГК і ВК використовується мікроскоп-мікрометр, що дозволяє за допомогою оптичного мікрометра вимірювати долі інтервалів ділень шкал з точністю до десятих часток секунди. Відлік ведеться багатоступінчастим дискретно-аналоговим способом. Перед узяттям відліку необхідно зафіксувати положення відлікового індексу поєднанням діаметрально протилежних штрихів лімба. Число градусів відлічується по прямому зображенню молодшого штриха, розташованому зліва від середини ділень шкал, видимих у полі зору мікроскопа. Число хвилин підраховується між діаметрально протилежними штрихами, як число інтервалів між ними помножене на половину ціни ділення, рівної 5' для Т05, Т1, УВК і 10' для Т2. Хвилини і секунди з точністю до 0.1′ беруться за шкалою оптичного мікрометра відносно нерухомого індексу, зображення якої будується в малому віконці поля зору мікроскопа. Діапазон шкали мікрометра в хвилинах дорівнює половині ціни ділення лімба для відповідного теодоліта, а кожен хвилинний інтервал розбитий на 60″з підписаним числом десятків секунд. Відлік за шкалою мікрометра додається до відліку по основних шкалах. Відлік по шкалах вертикального круга виконується аналогічно відліку по горизонтальному кругу. Приклади відліків по горизонтальному і вертикальному кругам для теодолітів Т05, Т1, УВК і Т2 показані на мал. 7, 8, 9, 10.
ГК: 125°13′27,4″ (125°10′ + 3′27,4;″) ВК: 359°21′14,0″ (359°20' + 1′14, 0″
ГК: 146°28′08,2″ (146°25′+3′08,2″)
ВК: 89°31′42,0″ (89°30′+1′42,0″)
Мал. 7. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта Т05
ГК: 23°26′25,5″ (23°25′+1′25,5″)
ВК: 88°33′37,0″ (88°30′+3′37,0″)
Мал. 8. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта Т1
Примітка: На шкалі оптичного мікрометра Т1 підписана кожна п'ята
секунда.
ГК: 25°56′16,8″(25°50′+6′16,8″) ВК: 4°43′25,7″(4°40′+3′25,7″)
Мал. 9. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта УВК
Мал. 10. Поле зору відлікового мікроскопа теодоліта T2
Для теодолітів типу 2Т2, 2Т2П, 2Т2А, 3Т2КП, 3Т2КА розроблена спрощена схема відліку, що виключає підрахунок числа хвилин кратних половині ціни ділення шкал лімбів. Їх число береться під середнім значенням цифри, що показує число градусів (мал. 11) при поєднанні штрихів лімба, видимих у полі зору мікроскопа.
ГК 145°26′16,9″
(145°20′+6′16,9″)
Рис. 11. Поле зрения отсчетного микроскопа теодолита 2Т2
