Отчет о лабораторной работе должен содержать:

1. Название и цель работы.

2. Устройство оптиметра.

3. Используемые средства измерений и их характеристику.

4. Метод измерений.

5. Условия выполнения измерений.

6. Результаты измерений табл. 5.3.1.

7. Графики рис. 5.3.5 и 5.3.6.

8. Результаты обработки измерений:

- отклонение от круглости, мкм;

- число граней некруглости;

- допуск круглости, мкм;

- степень точности.

9. Эскиз детали с простановкой допуска круглости.

Контрольные вопросы по лабораторной работе

1. Назовите назначение и характеристику вертикального оптиметра.

2. Расскажите устройство вертикального оптиметра.

3. Поясните оптическую схему трубки оптиметра.

4. Для чего и как осуществляется установка стола вертикального оптиметра перпендикулярно оси измерительного стержня.

5. Назначение, характеристика и устройство оптической делительной головки.

6. Что характеризует скелетная линия рис. 5.3.5.

7. Как будет выглядеть график рис. 5.3.5, если равны нулю:

а) несоосность;

б) некруглость.

8. Поясните порядок обработки результатов измерений.

5.4 Лабораторная работа № 4

Измерение смещения осей отверстий на большом

инструментальном микроскопе

Цель работы

Изучить устройство и работу инструментального микроскопа. Привить навыки в измерении смещения осей отверстий для крепежных деталей на инструментальном микроскопе.

Приборы и материалы

1. Большой инструментальный микроскоп БМИ

2. Пластина с четырьмя отверстиями.

Назначение и устройство инструментальных микроскопов

Инструментальные микроскопы предназначены для линейных и угловых измерений разнообразных изделий в прямоугольных и полярных координатах. На микроскопах измеряют наружные линейные размеры изделий, диаметры валов и отверстий, углы режущего инструмента и шаблонов, основные элементы профиля резьбовых инструментов и калибров, радиусы закруглений профилей, размеры конусов, расстояние между центрами отверстий и т.п.

Инструментальные микроскопы изготавливают двух типов : тип А без наклона колонки и тип Б с наклоном колонки.

По способу отсчета результатов измерений инструментальные микроскопы можно разделить на следующие:

с отчетом по шкалам микрометрических головок;

с цифровым отсчетом на индикаторном табло - Ц;

с линейными шкалами - Л;

с электроприводом измерительного стола - 1;

с полуавтоматической обработкой результатов измерений - 2.

Условное обозначение инструментального микроскопа должно содержать:

две буквы (ИМ), которые поясняют, что это обозначение инструментального микроскопа;

буква или сочетание букв, характеризующие способ отсчета. Цифры 1 и 2 (с электроприводом стола и с полуавтоматической обработкой) указываются после букв через тире;

верхние пределы измерений микроскопа в продольном и поперечном направлениях;

тип микроскопа (А или Б);

обозначение стандарта.

Например:

Микроскоп инструментальный ИМЦЛ-1 160 80, Б, ГОСТ 8674-82 - означает, что это инструментальный микроскоп с цифровым отсчётом на индикаторном табло, с линейными шкалами, с электроприводом измерительного стола, пределами измерений в продольном направлении 100 мм, в поперечном - 80 мм, с наклоном колонки. Или - Микроскоп инструментальный ИМ 150 50, Б, ГОСТ 8074-82 - инструментальный микроскоп с отсчётом по шкалам микрометрических головок с пределами измерений 150 50 мм, с наклоном колонки.

Общий вид инструментального микроскопа показан на рис. 5.4.1. На этом чертеже приведены основные части микроскопа. Конструктивное же исполнение узлов зависит от типа микроскопа и может отличаться от общего вида, показанного на рис. 5.4.1.

На основании 1 с помощью микрометрических головок 3 перемещается в двух направлениях координатный стол 2, обеспечивая заданные стандартом пределы измерения в продольном и поперечном направлениях. Наклон головки 9 вокруг горизонтальной оси осуществляется маховиком 11 наклона колонки.

По колонке 9 с помощью механизма фокусировки 8 перемещается кронштейн, на котором закреплен тубус 5 визирного микроскопа с объективом 4. Сверху к тубусу крепится окуляр 7 визирного микроскопа и отсчетный микроскоп угломерной головки 6.

Питание инструментального микроскопа электрическим током осуществляется через понижающий трансформатор.