
- •Микромеханические тензорезистивные преобразователи
- •Аналогия между процессами получения, обработки и преобразования сигналов в биологических и технических система
- •1. Физические эффекты как основа построения сенсоров
- •Преобразователи различных видов энергии
- •2. Кристаллическая решетка кремния
- •3. Индексы миллера
- •4. Математическое описание упругих свойств кремния
- •Механические параметры кремния
- •Характеристики упругости кремния
- •6. Виды легирования тензорезисторов
- •7. Тензорезистивный эффект и его математическое описание
- •8. Главные тензорезистивные коэффициенты
- •Главные тензорезистивные коэффициенты равномерно слаболегированных слоёв кремния
- •9. Факторы, определяющие величину главных тензорезистивных коэффициентов
- •10. Произвольная ориентация тензорезисторов, расположенных на плоскостях (001), (011), (111) кристалла
- •Пьезорезистивные коэффициенты в зависимости от ориентации на плоскости и от типа проводимости
- •11. Полупроводниковые тензорезисторы в мостовых схемах постоянного тока
- •12. Метрологические характеристики мостовых тензорезистивных преобразователей
- •13. Технологические процессы производства микропреобразователей
- •14. Чувствительные элементы тензореобразователей
- •15. Интегральный измерительный преобразователь давления (иипд)
- •16. Измерительный преобразователь ускорения
- •17. Конструирование интегральных измерительных преобразователей
- •Расчёт прогиба и механических напряжений для кремниевой мембраны круглой формы
- •Расчёт прогиба и механических напряжений в кремниевой мембране квадратной формы
- •Конструирование интегральных тензорезисторов
6. Виды легирования тензорезисторов
В чистых полупроводниках концентрация носителей заряда – свободных электронов и дырок – составляет (1016 - 1018) 1/см3 вещества. При такой концентрации носителей полупроводник является диэлектриком.
Для снижения удельного сопротивления полупроводника и придания ему определённого типа проводимости: – электронной в случае преобладания свободных электронов или дырочной, если преобладают дырки, – в чистые полупроводники вносят необходимые примеси. Такой процесс называют легированием.
В зависимости от того, каким типом основных носителей заряда определяется проводимость полупроводника, их называют полупроводниками n-типа (основные носители заряда – электроны) или p-типа (основные носители заряда – дырки). Полупроводник с концентрацией примесей больше 1018 1/см3 обозначается как n+ или p+. В качестве легирующих примесей применяют элементы III и V групп Периодической системы элементов Д. И. Менделеева. Легирующие элементы III группы (например, бор, галлий или алюминий) создают свободные дырки и дырочную проводимость, поэтому они называются акцепторными примесями, элементы V группы (например, фосфор, сурьма или мышьяк) создают свободные электроны и электронную проводимость, поэтому они называются донорными примесями.
В процессе легирования обеспечивается тип проводимости ТР и устанавливается характер распределения примесей. По характеру распределения примесей ТР разделяют на равномерно легированные (рис. 9,а и 9,б), диффузионные (рис. 9,в), глубина проникновения носителей в которых в пределах (1-4 мкм), и ионно-имплантированные, с глубиной проникновения носителей 0, 1-0,4 мкм (рис. 9, г).
Рис. 9. Структуры интегральных тензорезисторов: а – равномерно легированный эпитаксиальный с меза-структурой; б – равномерно легированный с окисной изоляцией; в – диффузионный; г – ионно-имплантированный. Обозначения: 1 – ТР; 2 – защитное покрытие; 3 –металлизированные токоведущие дорожки; 4 – упругий элемент преобразователя; 5 – сильнолегированная подконтактная область.
7. Тензорезистивный эффект и его математическое описание
Под воздействием продольного механического напряжения тензорезистор изменяет своё поперечное сечение, длину и удельное электрическое сопротивление. Следовательно, изменение общего сопротивления обусловлено двумя факторами: изменением геометрических размеров и изменением удельного электрического сопротивления. Зависимость между этими величинами можно представить следующим образом:
При
получаем
Для
малых относительных деформаций ξ,
т. е. пренебрегая слагаемыми, содержащими
, а также тем, что слагаемые в знаменателе
соотносятся как
учитывая, что начальное электрическое
сопротивление проводника равно
,
получаем
Коэффициент
обозначается через K
и
называется тензочувствительность ТР.
Заметим, что тензочувствительность K,
также как и коэффициенты
и
,
входящими в формулу, является безразмерным.
Коэффициент Пуассона
определяет относителный вклад в изменение
сопротивления, связанный с уменьшением
поперечного размера ТР. Коэффициент
связан с изменение удельного сопротивления.
Назовём этот коэффициент тензочувствительностью
материала.
Так
как коэффициент Пуассона (ν)
у металлов равняется примерно 0,3, а вклад
изменения удельного электрического
сопротивления, определяемого значением
коэффициента μ,
в общее изменение сопротивления ТР
составляет
20%,
то коэффициент тензочувствительности
K
для проволочных ТР можно принять равным
двум.
Аналогичный эффект был обнаружен у полупроводниковых материалов при исследовании воздействия на них механических напряжений. Существенное отличие от металлов заключается, однако, в том, что значение коэффициента μ велико, и общее изменение сопротивления почти на 98% обусловлено изменением удельного электрического сопротивления и только на 2% связано с изменением геометрических размеров. В результате чувствительность K полупроводниковых ТР достигает величин порядка 50-150. Такая большая чувствительность является существенным преимуществом полупроводниковых ТР.
Следует подчеркнуть, что здесь рассматривается чисто объёмный эффект, т. е. в преобразовании принимает участие весь объём легированной области, образующей область проводимости ТР. Тот известный факт, что изменение механического напряжения, приложенного к p-n-переходу, приводит к изменению электрических характеристик этого перехода, здесь не рассматривается.
В качестве полупроводникового материала для тензорезисторов применяется преимущественно кремний. Поэтому последующее изложение применимо, прежде всего, к этому материалу, но оно может быть распространено и на все материалы кристаллографического класса "32" кубической системы.
Исходным пунктом нашего рассмотрения является уравнение электропроводности, в общем виде и с учётом анизотропии. Это уравнение устанавливает связь между компонентами вектора напряжённости поля Ei, компонентами вектора плотности тока jk и компонентами механического тензора напряжения σlm. При составлении уравнения используется так называемый феноменологичекий подход*.
|
|
где i, k, l, m, n, o, p, =1, 2, 3.
Частные производные имеют следующий наглядный смысл:
– компоненты
удельного сопротивления;
– пьезоэлектрические
коэффициенты (пьезо константы g);
–
коэффициенты влияния, определяющие
зависимость удельного сопротивления
от плотности тока;
* Феноменоло́гия (от слова phenomena, что значит явление) – термин, используемый в естествознании, в особенности в физике, для обозначения совокупности знаний, определяющих взаимосвязь между различными наблюдениями явлений (феноменов) в соответствии с фундаментальной теорией, но непосредственно из этой теории не следующих.
Феноменология является посредником между экспериментом и теорией. Она более абстрактна и многошагова в своей логике, чем эксперимент, но больше привязана к эксперименту, чем к теории. Границы между теорией и феноменологией размыты и в некоторой степени зависят от уровня понимания и интуиции исследователя. Большинство учёных склоняются к мысли, что феноменологическое описание явления не позволяет понять его, но всё же играет значительную роль в науке.
– коэффициенты
влияния, определяющие зависимость
пьезоэлектрических коэффициентов от
механических воздействий;
– тензокоэффициенты
абсолютного сопротивления (отношение
изменения удельного сопротивления к
изменению механического напряжения).
Заметим, что размерность коэффициентов
[p]
= [ρ]/[σ]
= Ом∙м/(Н/м2).
В
кристаллах кубической симметрии из
девяти компонент тензора удельного
сопротивления
шесть равны нулю, а остальные три равны
между собой. Это означает изотропию
удельного сопротивления для таких
материалов как кремний и германий.
Пьезоэлектрические
коэффициенты
для кристаллографического класса "32"
тождественно равны нулю, а тем самым
равны нулю и их частные производные
.
То же можно сказать о производных
Помимо
удельного сопротивления, остаются лишь
коэффициенты
,
которые определяют тензочувствительность
полупроводника.
Таким образом, уравнение электропроводности упрощается и для описываемого случая принимает следующий вид:
где
– символ Кронекера.
Поскольку
величина
до механического воздействия имеет
определенное начальное значение, вводим
для этой величины обозначение
(
– удельное сопротивление при j
=
=
0). Аналогично, для отношения
введём обозначение
и
для
тогда
имеем:
где
– тензокоэффициенты относительного
сопротивления, представляющие собой
отношение относительного изменения
удельного сопротивления элемента
полупроводника к соответствующему
механическому напряжению. В дальнейшем
индекс (0,0) будем упускать. Размерность
коэффициента [π]
=[Δρ/ρ]/[σ]
= м2/Н.
Размерность слагаемого [πσj]
= [j].
Для
кубических кристаллов того класса
симметрии, к которому принадлежит
кремний, в системе кристаллографических
осей для описания тензорезистивного
эффекта достаточно знать три коэффициента
.
В произвольной системе координат, оси которой образуют некоторые углы с кристаллографическими осями, таких отличных от нуля коэффициентов может быть 21.
Развернутая запись этого уравнения, отнесённая к кристаллографическим осям кубической системы, с учётом замены индексов: 11 на 1; 22 на 2; 33 на 3; 23 на 4; 13 на 5; и 12 на 6, принимает следующий вид:
Эти уравнения можно теперь применить к конкретным случаям. В качестве иллюстрации на рис. 10 показаны соответствующие виды нагружений.
Рис. 10. Виды механических напряжений, из которых образуется тензор напряжений