
- •Р.В. Кудрявцева, д.А. Павлов, п.А. Шиляев Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах
- •Содержание
- •1.Основные особенности дифракции электронов
- •2.Обратная решетка. Условия дифракции коротковолнового излучения на кристалле
- •3.Основная формула электронографии
- •- Основная формула электронографии.
- •4.Типы электронограмм
- •4.1. Точечные электронограммы, их применение
- •4.1.1. Образование точечных электронограмм
- •4.1.2. Симметрия точечных электронограмм
- •4.1.3. Индицирование точечных электронограмм
- •4.1.4. Построение эталонных точечных электронограмм
- •5.Электронограммы от текстур, их индицирование, применение
- •6.Электронограммы от поликристалла, их расшифровка и применение
- •7.Электронограммы с Кикучи – линиями
- •8.Задания по работе
- •9.Контрольные вопросы
- •10.Литература
- •603600, Гсп – 20, н. Новгород, пр. Гагарина, 23
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского
Физический факультет
Кафедра физики полупроводников и оптоэлектроники
Р.В. Кудрявцева, д.А. Павлов, п.А. Шиляев Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах
Описание к лабораторному практикуму по курсу
«Методы исследования структуры твердых тел»
Н. НОВГОРОД, 2003
УДК 537.533.35
Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах. Описание лабораторной работы / Сост. Р.В.Кудрявцева, Д.А.Павлов, П.А.Шиляев – Н.Новгород: Нижегородский государственный университет. 2003. – 37 с.
В данной лабораторной работе рассматриваются основы теории дифракции ускоренных электронов на кристаллах и её применение для изучения структуры твердых тел.
Предназначена для студентов старших курсов и магистратуры, обучающихся по специальностям 200.200 «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы» и 510.404 «Физика полупроводников. Микроэлектроника».
Данное пособие подготовлено в рамках работ по проекту «Научно-образовательный центр физики твердотельных наноструктур» Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского Российско-американской программы «Фундаментальные исследования и высшее образование»
Составители: профессор, д.ф.-м.н. Д.А. Павлов
доцент, к.ф.-м.н. Р.В Кудрявцева
аспирант физического факультета П.А.Шиляев
Рецензент: зав. лаб., к.ф.-м.н.,
с.н.с. Института металлорганической химии РАН Б.С.Каверин
Нижегородский государственный университет им.Н.И.Лобачевского, 2003.
Содержание
1. Основные особенности дифракции электронов 4
2. Обратная решетка. Условия дифракции коротковолнового излучения на кристалле 6
3. Основная формула электронографии 9
4. Типы электронограмм 12
4.1. Точечные электронограммы, их применение 14
4.1.1. Образование точечных электронограмм 14
4.1.2. Симметрия точечных электронограмм 16
4.1.3. Индицирование точечных электронограмм 16
4.1.4. Построение эталонных точечных электронограмм 18
5. Электронограммы от текстур, их индицирование, применение 21
6. Электронограммы от поликристалла, их расшифровка и применение 25
7. Электронограммы с Кикучи – линиями 29
8. Задания по работе 32
9. Контрольные вопросы 35
10. Литература 36
Основным проявлением волновых свойств электронов является их дифракция. Дифракционной решеткой для электронов, так же как и для рентгеновских лучей, может служить кристалл. При этом оказывается, что кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей на кристаллах применима и для электронов с поправками на природу взаимодействия и более короткую длину волны.
1.Основные особенности дифракции электронов
1. Электроны рассеиваются электростатическим потенциалом кристаллической решетки, в то время как рентгеновские лучи рассеиваются электронами атомов.
2. Электроны сильнее взаимодействуют с веществом, чем рентгеновские лучи. За силу взаимодействия можно принять отношение интенсивности когерентно рассеянного луча к интенсивности начального. Это отношение зависит от квадрата атомной амплитуды. Атомные амплитуды составляют 10-11 см и 10-8 см соответственно для рентгеновских и электронных волн, таким образом, отношение для электронов будет на шесть порядков больше, чем для рентгеновских волн. Именно большая сила взаимодействия позволяет наблюдать электронную дифракцию на флюоресцирующем экране, экспозиции в электронографии составляют несколько секунд. Эта особенность обуславливает и более высокую чувствительность электронографии по сравнению с рентгенографией: малые порции вещества можно зарегистрировать с помощью электронографического метода. Однако это накладывает определенные ограничения на толщину образца: она должна быть не более 10-5 см.
3. Малая длина волны электронов. Согласно гипотезе де-Бройля длина волны электронов:
h - 6,626 10-27 эрг.сек. постоянная Планка,
m - 9,109 10-28 масса электрона,
e - 4,803 10-10 аб.ед. CGSE заряд электрона.
V – скорость электрона, зависит от величины ускоряющего потенциала U.
При величине ускоряющего потенциала до 100 кВ можно не учитывать зависимость массы от скорости электрона, при потенциале выше 100 кВ пренебрежение этой зависимостью вносит значительную ошибку, поэтому необходимо вводить релятивистскую поправку. С ее учетом длина волны запишется:
Более простая формула получается, если пренебречь релятивисткой поправкой и вместо h, m, e – подставить их значения:
Å, U
– в вольтах.
В таблице 1 приведены значения длин волн электронов для наиболее часто применяемых значений ускоряющего потенциала. Видно, что длина волны электронов на два порядка меньше длины волны рентгеновских лучей.
Таблица 1.
Длины волн электронов для наиболее часто применяемых значений ускоряющего потенциала
U (кВ) |
50 |
80 |
100 |
150 |
200 |
(Å) |
0,0536 |
0,0418 |
0,0370 |
0,0316 |
0,0276 |