
- •1. Уровни энергии электронов в кристалле.
- •2. Тепловая генерация электронно-дырочных пар
- •3. Энергия электронов в кристалле полупроводника
- •4. Проводимость полупроводников
- •5. Примесные полупроводники
- •6. Понятие о фононах
- •1. Концентрация носителей заряда в собственном полупроводнике
- •2. Концентрация носителей заряда
- •3. Электропроводность полупроводников
- •4. Эффект Холла
- •1. Собственное поглощение света при прямых переходах
- •2. Собственное поглощение света при непрямых переходах
- •3. Примесное поглощение света
- •4. Равновесные и неравновесные носители заряда
- •5. Механизмы рекомбинации
- •6. Поверхностная рекомбинация
- •7. Релаксация неравновесных носителей заряда
- •8. Фотопроводимость
- •1. Электронно-дырочный переход
- •2. Равновесное состояние р-n-перехода
- •3. Контактная разность потенциалов
- •4. Толщина р-n-перехода
- •5. Токи в равновесном р-n-переходе
- •8. Вольт-амперная характеристика р-n-перехода
- •9. Барьерная емкость р-n-перехода
- •10. Пробой р-n-перехода
- •1. Вырожденные полупроводники
- •2. Неравновесные носители заряда
- •3. Излучательная рекомбинация
- •4. Прямые и непрямые переходы
- •5. Поглощение и усиление света в полупроводниках
- •6. Принцип действия полупроводникового квантового генератора
- •7. Инжекционные полупроводниковый квантовый генератор
- •8. Зависимость мощности оптического
- •9.Спектр излучения
- •10. Расходимость излучения
1. Собственное поглощение света при прямых переходах
Генерация свободных носителей заряда в полупроводнике возможна в результате какого-либо внешнего воздействия, например при поглощении оптического излучения.
Интенсивность света, распространяющегося в веществе, уменьшается согласно закону Бугера
I = I0exp(-αx),
где I0 – начальная интенсивность; х – длина пути света; α – коэффициент поглощения – величина, обратная длине пути, на котором интенсивность I потока излучения уменьшается в е = 2,73 раза. Коэффициент поглощения является характеристикой среды и зависит от длины волны света. Зависимость коэффициента поглощения от энергии падающего кванта света α(hν) или длины волны света α(λ) называют спектром поглощения.
Квант или фотон оптического излучения обладает энергией Ефот и импульсом pфот
Ефот = hνфот; pфот = h/ λфот,
где νфот и λфот – частота и длина волны света соответственно. Когда энергия фотона, распространяющегося в полупроводнике ≥ ΔEg, то электрон валентной зоны может поглотить его и перейти в зону проводимости. Такое поглощение называется собственным, и при его анализе существенное значение имеет структура энергетических зон.
Для ряда полупроводников, таких как арсенид галлия GaAs или антимонид индия JnSb, вершины парабол (уравнения (В.2) и (В.3)), описывающих энергию электронов в зоне проводимости и в валентной зоне, расположены одна под другой (обычно в точке р = 0). Такие полупроводники называются прямозонными. Переходы электронов через запрещенную зону будут происходить в них прежде всего между энергетическими состояниями, близкими к максимуму валентной зоны и минимуму зоны проводимости (рис.2.1).
При поглощении фотона должны выполняться законы сохранения энергии и импульса
En = Ep + Eфон; pn = pp + pфон,
г
де
En, pn
и Ep,
pp –
энергия и импульс электрона в зоне
проводимости и в валентной зоне
соответственно. Импульс электрона при 300 К pn ≈ movт = 9,1·10-26 кг·м/с, импульс фотона рфот при λфот = 10-6 м равен 6,6210-34/10-6 = 6,62·10-28 кг·м/с, т.е. pn >> рфот. Поэтому можно считать, что в прямозонных полупроводниках импульс электрона практически не изменяется и pn = pp. Такие переходы называют прямыми и изображают вертикальными стрелками (рис.2.1).
Расчет коэффициента собственного поглощения для прямых переходов приводит к соотношению для αс (в см-1)
αс ≈ 2,7·105(hνфот - ΔЕg), (2.1)
где hνфот и ΔЕg выражены в эВ. При hνфот – ΔЕg = 0,01 эВ αс ≈ 104 см-1 и свет практически полностью поглощается на глубине 2 мкм от поверхности.
Из (2.1) следует, что для прямых переходов не должно иметь место поглощение квантов с энергией, меньшей ширины запрещенной зоны. В силу этого край собственного поглощения со стороны длинных волн или малых энергий должен быть очень резким (рис.2.2).
2. Собственное поглощение света при непрямых переходах
Если минимум энергии зоны проводимости и максимум энергии ва-ленной зоны расположены при разных значениях импульса (рис.2.3), что характерно для таких полупроводников, как германий Ge или кремний Si, то расстояние по вертикали между зонами ΔЕgo >ΔЕg Тогда прямые переходы электронов происходят для фотонов с hνфот ≥ ΔЕg. Величину ΔЕgo называют оптической шириной запрещенной зоны.
Помимо прямых переходов, в таких полупровордниках могут происходить непрямые переходы, показанные на рис. 2.3 стрелкой 2, они происходят с участием фононов. В этом случае законы сохранения энергии и импульса примут вид
En = Ep + Ефот + Eфон; pn = pp + рфот + pфон, (2.2)
В полупроводниках
= hνфон = 4,45·10-15·1013 =
0,045 эВ и Eфон <<
Ефот ≈ ΔЕg, поэтому
Eфон в (2.2) можно
пренебречь. Импульс фонона
>>
рфот, так как λфот >>
,
и лежит в тех же пределах, что и импульс
электрона, Тогда (2.2) примет вид
En = Ep + Eфот; pn = pp + pфон.
В кристалле полупроводника имеется большое число фононов с различными значениями импульса, поэтому при переходах с их участием импульс электрона может изменяться в широких пределах. Вследствие того, что вероятность протекания процессов с участием трех частиц много меньше вероятности двух частичных процессов, коэффициент поглощения в области непрямых переходов значительно ниже, чем в области прямых. Величина αс для непрямых переходов лежит в пределах 10-1…103 см-1. С понижением температуры непрямые переходы идут реже, так как падает концентрация и энергия фононов. На рис.2.4 изображена зависимость спектра поглощения для Ge. Изгиб кривой вблизи края поглощения вызван переходом от поглощения на непрямых к прямым переходам.