
- •ОглавлеНие
- •Исследование температурной зависимости электропроводности и вычисление ширины запрещенной зоны полупроводников Цель и содержание работы
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Задание к работе
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Определение концентрации и подвижности носителей заряда в полупроводниках по измерению эффекта холла Цель и содержание работы
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Задание к работе
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Определение температурной зависимости уровня ферми методом термоэдс и эффективной массы носителей заряда Цель и содержание работы
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Задание к работе
- •Содержание отчета
- •Контрольные вопросы
- •Исследование поперечного магнитосопротивления в полупроводниках Цель работы
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Задание к работе
- •Контрольные вопросы
- •Определение диффузионной длины и времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниках Цель и содержание работы
- •Теоретическое введение
- •Методика измерений
- •Задание к работе
- •Методика измерений
- •Задание к работе
- •Методика эксперимента
- •Задание к работе
- •Контрольные вопросы
- •Исследование свойств кремниевых солнечных батарей Цель и содержание работы
- •Теоретическое введение
- •Методика эксперимента
- •Задание к работе
- •Исходные данные для расчетов
- •Контрольные вопросы
- •Основные физические постоянные
- •Некоторые физические параметры Ge и Si
- •Список литературы
- •Сборник лабораторных работ по физике полупроводников Описания лабораторных работ
Некоторые физические параметры Ge и Si
Параметр |
Ge |
Si |
Диэлектрическая постоянная |
16 |
12 |
Упругие
постоянные
|
|
|
Эффективные массы в минимумах |
|
|
Эффективные массы дырок |
|
|
Эффективная масса проводимости |
|
|
Эффективная масса плотности состояний
|
Одного минимума
Четырех минимумов |
Шести минимумов
|
О к о н ч а н и е т а б л и ц ы
Параметр |
Ge |
Si |
Эффективная масса плотности состояний в валентной зоне
|
0,37m0 |
0,56m0 |
Ширина запрещённой зоны ЭВ при Т = 0 К |
По оптическому поглощению 0.780 |
1,21 |
Концентрация носителей тока в области собственной проводимости T=300 К |
|
|
Список литературы
Шалимова К.В. Физика полупроводников. – М.: Энергоиздат, 1985.
Епифанов Г.И., Мома Ю.А. Твердотельная электроника. – М.: Сов. радио, 1985.
Ансельм А.И. Введение в теорию полупроводников. – М.: Наука, 1978.
Савельев И.В. Курс общей физики. т. 1. – М., 1978; 1979.
Сивухин Д.В. Общий курс физики. т. 3. – М., 1977; 1998.
Соминский М.С. Полупроводники. – Л., 1967.
Смит Р. Полупроводники. – М.: Мир, 1982.
Киреев П.С. Физика полупроводников. – М., 1975.
Зи С.М. Физика полупроводниковых приборов. – М.: Энергия, 1976.
Рывкин С.М. Фотоэлектрические явления в полупроводниках. – М.: Физматгиз, 1963.
Сборник лабораторных работ по физике полупроводников Описания лабораторных работ
Редактор Л.Н. Ветчакова
Технический редактор Н.В. Гаврилова
Компьютерная верстка В.Ф. Ноздрева
Подписано в печать 08.06.2007. Формат 6084 1/16. Бумага офсетная. Тираж 200 экз. Уч.-изд. л. 3,96. Печ. л. 4,25. Изд. № 358. Заказ № . Цена договорная
О
тпечатано
в типографии
Новосибирского
государственного технического
университета
630092, г. Новосибирск, пр.
К. Маркса, 20