
- •Расчетно-аналитический метод определения операционной погрешности
- •Статистический способ определения операционной погрешности
- •Точностные диаграммы
- •Лекция №5
- •Геометрические показатели качества поверхностного слоя
- •Средне-экономическая шероховатость метода обработки
- •Структура поверхностного слоя
- •Наклеп (деформационное упрочнение)
- •Остаточные напряжения поверхностного слоя
Расчетно-аналитический метод определения операционной погрешности
Основан на поэлементном определении составляющих (т.е. первичных погрешностей) и дальнейшем вероятностном суммировании.
Определение суммарной погрешности осуществляют в следующей последовательности:
Анализируются условия выполнения операции (способ обработки, характеристики станка, режущего и мерительного инструментов, режимов обработки, схема базирования, схема закрепления и т.д.).
Выявляются причины и составляется перечень факторов, вызывающих появление первичных погрешностей обработки, базирования и установки.
Определяется значение (для систематически постоянных) либо поле (для закономерно-изменяющихся и случайных) каждой первичной погрешности.
Устанавливаются законы распределения каждой первичной погрешности.
Определяется значение операционной погрешности по формуле:
где: Кi,К∑ - коэффициенты, определяющие степень отличия закона распределения данной погрешности от закона Гаусса.
Закон распределения |
Закон Гаусса |
Закон Симпсона |
Закон равной вероятности |
Закон композиционный |
Кi,К∑ |
1 |
1,23 |
1,73 |
1,33-1,53 |
Недостатками способа являются большая погрешность и большая трудоемкость расчетов ожидаемой погрешности.
Преимуществом способа является возможность прогнозирования ожидаемой погрешности на этапе проектирования технологического процесса, когда реально обработанные детали еще отсутствуют.
Статистический способ определения операционной погрешности
Основан на использовании законов и правил теории вероятностей и математической статистики, одним из которых является положение о том, что вероятность появления события в будущем приближается к частоте его появления в прошлом при увеличении числа событий.
Основываясь на этом положении, можно, используя характеристики распределения размеров или других геометрических параметров конечного числа деталей (выборки), обработанных данным методом, сделать заключение о точности этого метода.
Необходимо соблюдать следующие условия:
Необходимо анализировать детали, изготовленные при стабильных условиях (одним инструментом, при одной настройке станка).
Число деталей в анализируемой совокупности должно быть значительным (малая выборка 7…25 деталей, большая выборка 50 и более).
Измерения детали должны проводиться с точностью (1/6..1/10)Т, Т – допуск контролируемого геометрического параметра.
Методика и содержание всех этапов статистического контроля точности изучаются в лабораторной работе.
Точностные диаграммы
Позволяет отдельно оценить влияние закономерно-изменяющихся и случайных погрешностей. Точностные диаграммы строятся по ходу технологического процесса, т.е. детали анализируются в порядке их изготовления.
Лекция №5
качество поверхностного слоя
Поверхностный слой – это прилежащий к поверхности детали слой, характеристики которого отличаются от основного материала и, в большинстве случаев, определяют эксплуатационные параметры детали.
При обработке резанием поверхностный слой изменяет свои показатели. Под действием силы резания происходит уплотнение материала и меняются его структура и твердость. Под действием температуры происходят структурные превращения и меняется кристаллическая решетка. Толщина поверхностного слоя зависит от материала детали, методов и режимов обработки и колеблется от нескольких микрометров до нескольких миллиметров.
Качеством поверхностного слоя называют совокупность показателей, определяющих состояние ее поверхностного слоя. К ним относятся геометрические (шероховатость, волнистость) и физико-механические показатели (структура поверхностного слоя, микротвердость, остаточные напряжения).
Задача технолога – обеспечить при изготовлении детали заданные конструктором показатели качества поверхностного слоя.